[實(shí)用新型]液晶顯示模組測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201520858612.4
• 申請(qǐng)日: 2015-10-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN205121091U
• 公開(kāi)（公告）日: 2016-03-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉勝利;趙麟瑄;施駿
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 昆山龍騰光電有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 上海波拓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31264
• 代理人: 彭柳眉

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種液晶顯示模組測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

隨著車載、工控領(lǐng)域行業(yè)的迅速發(fā)展，對(duì)液晶顯示模組(LiquidCrystalModel，LCM)的應(yīng)用亦不斷增加，為了確保液晶顯示模組的高穩(wěn)定性，對(duì)液晶顯示模組的高溫測(cè)試要求也越來(lái)越高。液晶顯示模組制造商在進(jìn)行可靠性保證測(cè)試(ReliabilityAssuranceTest，簡(jiǎn)稱RA測(cè)試)時(shí)，對(duì)前端信號(hào)模塊的耐溫性能要求也越來(lái)越高。

但是產(chǎn)生信號(hào)模塊的IC芯片受高溫惡劣環(huán)境的限制，很多IC芯片無(wú)法滿足目前這種嚴(yán)苛的需求。因此造成可用于在此種環(huán)境下正常和可靠工作的IC芯片很少。即使找到符合該惡劣工作條件下的IC芯片，此類IC芯片價(jià)格也非常昂貴，成本較高，不利于大規(guī)模推廣使用。

請(qǐng)參考圖1，圖1為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示模組測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，該液晶顯示模組測(cè)試裝置10包括第一電路板11、液晶顯示模組12以及用于連接該第一電路板11與該液晶顯示模組12的第一連接器13，該第一電路板11包括信號(hào)模塊111、電源模塊112以及第二連接器113，該第一連接器13通過(guò)該第一電路板11上的該第二連接器113將測(cè)試信號(hào)和電源傳輸給該液晶顯示模組12，從而測(cè)試該液晶顯示模組的可靠性。其中：該信號(hào)模塊111為IC芯片，在進(jìn)行可靠性保證測(cè)試時(shí)，該液晶顯示模組測(cè)試裝置10需全部投入高溫爐中進(jìn)行測(cè)試，因此，該液晶顯示模組測(cè)試裝置10對(duì)該信號(hào)模塊111IC芯片的耐高溫要求較高，而大部分IC芯片無(wú)法滿足測(cè)試要求；另一方面，即使使用滿足測(cè)試環(huán)境的IC芯片，在高溫測(cè)試中，IC芯片極易損壞，反而影響待測(cè)液晶顯示模組的測(cè)試結(jié)果；另外，當(dāng)測(cè)試失敗后，無(wú)法確認(rèn)是測(cè)試系統(tǒng)問(wèn)題，還是待測(cè)液晶顯示模組的問(wèn)題，需重新實(shí)驗(yàn)，造成麻煩。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的包括提供一種液晶顯示模組測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置能解決液晶顯示模組于高溫環(huán)境進(jìn)行可靠性測(cè)試時(shí)，由于信號(hào)模塊處于高溫環(huán)境而導(dǎo)致大部分IC芯片無(wú)法滿足高溫測(cè)試需求的問(wèn)題。

具體地，本實(shí)用新型提供了一種液晶顯示模組測(cè)試裝置，包括布設(shè)有信號(hào)模塊和電源模塊的第一電路板、待測(cè)液晶顯示模組和連接所述第一電路板和所述待測(cè)液晶顯示模組的第一連接器，所述信號(hào)模塊產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并通過(guò)所述第一連接器將所述測(cè)試信號(hào)傳輸給處于高溫環(huán)境下的所述待測(cè)液晶顯示模組，所述電源模塊通過(guò)所述第一連接器為所述待測(cè)液晶顯示模組提供電源；

所述測(cè)試裝置還包括接口轉(zhuǎn)換板、同軸線以及布設(shè)于所述第一電路板上的第一同軸接口，所述接口轉(zhuǎn)換板上布設(shè)有第二同軸接口、以及第二連接器，所述同軸線的一端連接所述第一同軸接口，所述同軸線的另一端連接所述第二同軸接口，所述第一同軸接口與所述信號(hào)模塊和所述電源模塊連接，所述第一連接器一端與所述接口轉(zhuǎn)接板連接，所述第一連接器的另一端與所述待測(cè)液晶顯示模組連接。

優(yōu)選地，所述測(cè)試裝置還包括監(jiān)控模塊，以監(jiān)控所述信號(hào)模塊輸出的電流變化，所述監(jiān)控模塊和所述電源模塊連接。

優(yōu)選地，所述測(cè)試裝置還包括報(bào)警裝置，以警示所述監(jiān)控模塊的采樣異常，所述報(bào)警裝置和監(jiān)控模塊連接。

優(yōu)選地，所述報(bào)警裝置為指示燈或蜂鳴器。

優(yōu)選地，所述第二同軸接口和所述第二連接器采用耐高溫材質(zhì)。

優(yōu)選地，所述同軸線外設(shè)有屏蔽網(wǎng)。

優(yōu)選地，所述第一連接器為電纜或撓性印刷電路板。

優(yōu)選地，所述信號(hào)模塊發(fā)出的信號(hào)為MIPI信號(hào)或LVDS信號(hào)。

優(yōu)選地，所述電源模塊產(chǎn)生的電壓可調(diào)。

由于本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的液晶顯示模組測(cè)試裝置中產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)的信號(hào)模塊和為待測(cè)液晶顯示模組提供電源的電源模塊的第一電路板處于高溫測(cè)試爐外部，接口轉(zhuǎn)接板和待測(cè)液晶顯示模組處于高溫測(cè)試爐內(nèi)部，在對(duì)待測(cè)液晶顯示模組進(jìn)行可靠性保證測(cè)試時(shí)，第一電路板通過(guò)同軸線向待測(cè)液晶顯示模組傳輸測(cè)試信號(hào)和電源。該液晶顯示模組測(cè)試裝置可以采用多種于常溫下工作的信號(hào)模塊IC芯片，信號(hào)模塊IC芯片的選擇范圍更廣，測(cè)試更穩(wěn)定。

上述說(shuō)明僅是本實(shí)用新型技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本實(shí)用新型的技術(shù)手段，而可依照說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本實(shí)用新型的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說(shuō)明如下。

附圖說(shuō)明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示模組測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的一種液晶顯示模組測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。