[實用新型]一種大功率MOSFET的測試夾具

有效

• 申請號: 201520856517.0
• 申請日: 2015-10-29
• 公開（公告）號: CN205120759U
• 公開（公告）日: 2016-03-30
• 發明（設計）人: 陳大勇;鄭愛兵;王宏;劉世林;杜先兵;代騫
• 申請（專利權）人: 中國振華集團永光電子有限公司（國營第八七三廠）
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 貴陽派騰陽光知識產權代理事務所(普通合伙) 52110
• 代理人: 管寶偉

技術領域

本實用新型涉及電子元件檢測工具領域，尤其涉及一種大功率MOSFET的測試夾具。

背景技術

現有的檢測MOSFET的過程中因無產品測試裝置，給產品的研制以及今后的生產帶來不便。現在采用開爾文測試線進行測試，因無測試夾具使測試效率低、精度差，不能滿足產品研制及生產的需要。

實用新型內容

為了解決上述技術問題，本實用新型旨在提供一種大功率MOSFET的測試夾具。

本實用新型是通過如下技術方案予以實現的：

一種大功率MOSFET的測試夾具，包括其底板、中板、蓋板、支架、鎖扣，中板安裝在底板上，蓋板安裝在支架上，支架安裝在中一板的一端，鎖扣安裝在蓋板的一側。

所述底板中部開穿線孔，底板四角上均依次從外向內開有下通孔、螺栓孔。

所述中板中部開有與元件匹配的安裝槽，安裝槽底部開有與下穿線孔相對的上穿線孔，中板四角開有與螺栓孔匹配的沉頭孔，中板的一端開有矩形槽安裝有支架，另一端設置有凸臺。

所述蓋板兩端設置有兩對鉸鏈板，鉸鏈板中心開有鉸鏈孔，所述鎖扣安裝在一對鉸鏈板間并由鉸鏈軸穿過其中部的通孔與蓋板鉸接。

本實用新型的有益效果是：

與現有技術相比，本實用新型提供的一種大功率MOSFET的測試夾具補全了MOSFET檢測夾具的空白，使MOSFET檢測不僅達到了測試精度要求，而且提高了測試效率：測試時只需將產品放置在裝置上并扣上蓋板即可，操作簡單。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖；

圖2是本實用新型的底板結構圖；

圖3是本實用新型的中板結構圖；

圖4是本實用新型的蓋板結構圖；

圖5是本實用新型的鎖扣結構圖。

圖中：1-底板，11-通孔，12-螺栓孔，13-下穿線孔，2-中板，21-上穿線孔，22-沉頭孔，23-凸臺，24-安裝槽，25-矩形槽，3-蓋板，31-鉸鏈板，32-鉸鏈孔，4-支架，5-鎖扣，51-鉸接孔。

具體實施方式

以下結合附圖對本實用新型的技術方案作進一步說明，但所要求的保護范圍并不局限于所述；

如圖所示，本實用新型提供的一種大功率MOSFET的測試夾具，包括其底板1、中板2、蓋板3、支架4、鎖扣5，中板2安裝在底板1上，蓋板3安裝在支架4上，支架4安裝在中一板2的一端，鎖扣(5)安裝在蓋板的一側。

所述底板1中部開下穿線孔13，底板1四角上均依次從外向內開有通孔11、螺栓孔12。

所述中板2中部開有與元件匹配的安裝槽24，安裝槽24底部開有與下穿線孔13相對的上穿線孔21，中板2四角開有與螺栓孔12匹配的沉頭孔22，中板2的一端開有矩形槽25安裝有支架5，另一端設置有凸臺23。

所述蓋板3兩端設置有兩對鉸鏈板31，鉸鏈板31中心開有鉸鏈孔32，所述鎖扣5安裝在一對鉸鏈板31間并由鉸鏈軸穿過其中部的鉸接孔51與蓋板鉸接。

本實用新型在使用時將MOSFET放置在安裝槽24內，通過穿線孔穿線接好測試線路后，蓋上蓋板3將蓋板上鉸接的鎖扣5鎖好了即可以開始測試。