[實用新型]一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置

有效

• 申請號: 201520855807.3
• 申請日: 2015-10-30
• 公開（公告）號: CN205210119U
• 公開（公告）日: 2016-05-04
• 發明（設計）人: 魏強
• 申請（專利權）人: 廣東利揚芯片測試股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 東莞市華南專利商標事務所有限公司 44215
• 代理人: 劉克寬

1.一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，包括固定設于豎立式進料通道的進料光傳感器、B檔光傳感器、A檔光傳感器、第一比較器和第二比較器，所述進料光傳感器、B檔光傳感器和A檔光傳感器自下向上依次排列，所述進料光傳感器的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述進料光傳感器的受光器位于被測芯片的下方/上方，所述B檔光傳感器的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述B檔光傳感器的受光器位于被測芯片的下方/上方，所述A檔光傳感器的發光器位于被測芯片的上方/下方，所述A檔光傳感器的受光器位于被測芯片的下方/上方，

其特征在于：測試裝置還包括用于將B檔光傳感器或者A檔光傳感器擇一接至第二比較器的傳感器選擇器件、用于載入被測芯片檔案并且根據被測芯片的檔案來切換傳感器選擇器件所選通的傳感器的單片機以及與單片機電連接的顯示屏，

進料光傳感器發送電平至第一比較器，第一比較器根據預設的第一電壓基準值輸出第一比較結果至單片機，B檔光傳感器或者A檔光傳感器發送電平至第二比較器，第二比較器根據預設的第二基準值輸出第二比較結果至單片機，

被測芯片檔案載入單片機，顯示屏顯示被測芯片檔案，單片機根據第一比較結果和第二比較結果更新被測芯片檔案，

B檔光傳感器與進料通道的底部在沿進料通道的長度方向的距離W小于兩款被測芯片中長芯片的長度A，并且大于被測芯片中短芯片的長度B。

2.如權利要求1所述的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，其特征在于：所述傳感器選擇器件為雙刀單擲開關。

3.如權利要求2所述的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，其特征在于：所述進料光傳感器、B檔光傳感器和A檔光傳感器均為光耦傳感器。

4.如權利要求3所述的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，其特征在于：所述進料光傳感器的發光器的正極接第一電源、進料光傳感器的發光器的負極接B檔光傳感器的發光器的正極，B檔光傳感器的發光器的負極接A檔光傳感器的發光器的正極，A檔光傳感器的發光器的負極接地，進料光傳感器的受光器的集電極、進料光傳感器的受光器的集電極以及進料光傳感器的受光器的集電極均接第二電源，進料光傳感器的受光器的發射極接第一比較器的一個輸入端，第一比較器的另一個輸入端接第一基準電壓源，第一比較器的輸出端接單片機，B檔光傳感器的受光器的發射極接雙刀單擲開關的一個常開觸點，雙刀單擲開關的常閉觸點接第二比較器的一個輸入端，第二比較器的另一個輸入端接第二基準電壓源，第二比較器的輸出端接單片機。

5.如權利要求4所述的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，其特征在于：所述第一基準電壓源包括第一可變電阻器。

6.如權利要求4所述的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，其特征在于：所述第二基準電壓源包括第二可變電阻器。

7.如權利要求4所述的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，其特征在于：所述第一電源為+4.5V。

8.如權利要求4所述的一種在芯片測試時能夠自動切換測試檔位的測試裝置，其特征在于：所述第二電源為+24V。