[實(shí)用新型]用于芯片自動(dòng)檢測(cè)的框架

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201520844005.2
• 申請(qǐng)日: 2015-10-28
• 公開（公告）號(hào): CN205080233U
• 公開（公告）日: 2016-03-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李志遠(yuǎn);耿世慧;李熙春
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 重慶遠(yuǎn)創(chuàng)光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所 31219
• 代理人: 尹麗云

1.一種用于芯片自動(dòng)檢測(cè)的框架，其特征在于：包括一矩形的架體，在架體上開設(shè)有兩列相互平行的并與架體任一邊平行或垂直的芯片安裝工位，每列芯片安裝工位包括多個(gè)芯片安裝工位且每個(gè)芯片安裝工位之間具有相等的間隔距離，且每列上的芯片安裝工位數(shù)量相同，在兩列芯片安裝工位之間的架體上還開設(shè)有與每列芯片安裝工位數(shù)量相同的多個(gè)通孔，多個(gè)通孔成直線排列并與兩列芯片安裝工位相互平行。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于芯片自動(dòng)檢測(cè)的框架，其特征在于：每列芯片安裝工位上具有5個(gè)芯片安裝工位。