[實用新型]一種光模塊參數測試裝置

有效

• 申請號: 201520842979.7
• 申請日: 2015-10-28
• 公開（公告）號: CN205081787U
• 公開（公告）日: 2016-03-09
• 發明（設計）人: 高學嚴
• 申請（專利權）人: 江蘇奧雷光電有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 宋紫鈴

技術領域

本實用新型涉及光通信領域，主要涉及一種光模塊參數測試裝置。

背景技術

隨著光纖通信的發展，高速光纖傳輸系統的廣泛生產和應用對回波損耗的要求越來越高，然而光在傳輸至器件時，必然會形成一部分反射光，使得激光器的輸出特性不同程度地承受回波損耗的影響，從而嚴重影響系統的性能，因此，系統中各種光纖器件的回波損耗的測試變得越來越重要。

光模塊作為一種高速光電器件，高速率發送和接收必然存在復雜的電磁耦合與信號雜擾，因此，光模塊的性能參數測試是檢驗成品的重要工序。組裝好的光模塊必須進行參數測試以判斷是否能正確實現預設的功能，模塊參數的性能測試是成品的最后一道工序，也是判斷模塊能否成為合格產品的重要依據。光模塊的測試參數通常包括：靈敏度、發射光功率、高告警和低告警參數，光模塊接收到光信號后，其接收端面所形成的反射光會影響到其激光器的特性，因此，光模塊接收端面的回波損耗測試也變得越來越重要。

目前，光模塊參數的測試多是由多個獨立設備（光功率計、機械光衰減器、誤碼儀和光生成模塊）經過通信口連接組成的測試系統；有些光模塊參數測試裝置集成了一些模塊用于測試靈敏度、發射光功率、高告警和低告警參數，但缺乏對回波損耗參數的測試，在進行回波損耗參數的測試的過程中，需要獲取入射光和反射光的光功率，因此需要將光功率計、機械光衰減器、誤碼儀和光生成模塊等多個獨立設備進行組合來獲取所需的光功率，所獲取到的參數不能重復利用，而且操作不便、測試效率較低。

實用新型內容

有鑒于此，為了克服現有技術中光模塊參數測試所存在的操作不便、參數重復獲取的問題，本實用新型提供一種光模塊參數測試裝置，以達到降低成本、簡單化調試操作、減少測試時間以及提高測試效率的效果。

為了解決光模塊參數測試成本高、操作復雜的問題，本實用新型的光模塊參數測試裝置包括：

光信號生成單元，生成用于檢測的入射光信號；

第一光分路模塊，將所述入射光信號分成兩路，一路作為入射光功率檢測光路，一路作為所述被測光模塊的入射光路；

第二光分路模塊，一光分路將所述入射光路的光信號傳輸至所述被測光模塊，另一光路輸送由所述被測光模塊端面形成的反射光；

靈敏度光功率檢測模塊，連接所述入射光功率檢測光路，讀取所述入射光的光功率值；

回損光功率檢測模塊，讀取所述被測光模塊端面形成的反射光功率；

控制模塊，啟動并控制所述光信號生成單元輸出所述入射光信號，協調控制所述靈敏度光功率檢測模塊對入射光功率的讀取以及回損光功率檢測模塊對反射光功率的讀取。

其中，所述光信號生成單元包括：

誤碼檢測模塊，生成帶碼型的電信號以及檢測輸入的電信號是否有誤碼；

光生成模塊，將所述帶碼型的電信號轉換為光信號；

光衰減模塊，對所述光信號進行衰減得到所述入射光信號；

所述誤碼檢測模塊、光生成模塊和光衰減模塊均與所述控制模塊電連接。

為了簡化測試操作，方便調試，該光模塊參數測試裝置外部設置有用于接收外部控制指令的通信接口以及

電信號輸入接口，連接所述誤碼檢測模塊的電輸入端和所述被測光模塊的電輸出端；

光輸出接口，連接所述第二光分路模塊的公共端和所述被測光模塊的光輸入端；

告警總線接口，連接所述控制模塊和所述被測光模塊的告警信號接口。

進一步地，該裝置還包括發射光功率檢測模塊；所述誤碼檢測模塊向所述被測光模塊傳輸帶碼型的電信號；所述發射光功率檢測模塊讀取所述被測光模塊的發射光功率。

更進一步地，該裝置還包括用于測試被測光模塊的發射光功率的接口：

電信號輸出接口，連接所述誤碼檢測模塊的電輸出端和所述被測光模塊的電輸入端；

光輸入接口，連接所述發射光功率檢測模塊的光輸入端和所述被測光模塊的光輸出端。

利用上述裝置可以對光模塊參數進行如下參數的測試，包括：發射光功率、靈敏度、端面反射光回損、高告警和低告警參數。