[實用新型]一種基于可變OSK射頻調制的增益程控聲光光譜探測系統有效
| 申請號: | 201520736441.8 | 申請日: | 2015-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN205037969U | 公開(公告)日: | 2016-02-17 |
| 發明(設計)人: | 李飛飛;何志平;李春來;徐睿;陳凱;陳爽;王建宇 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號: | G01J3/02 | 分類號: | G01J3/02;G01J3/433 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 200083 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 可變 osk 射頻 調制 增益 程控 聲光 光譜 探測 系統 | ||
1.一種基于可變OSK射頻調制的增益程控聲光光譜探測系統,包括前置光學(1)、探測器及前放組(2)、模擬光譜信號處理及采集(3)、射頻驅動生成(4)、FPGA主控(5)和上位機(6),其特征在于:
所述的前置光學(1)包括成像鏡(101)、視場光闌(102)、準直鏡(103)、第一分光鏡(104)、第N分光鏡(105)和反射鏡(106);目標光經成像鏡(101)成像于視場光闌(102),隔離雜散光,然后經準直鏡(103)準直為平行光入射第一分光鏡(104),其透射光可經多個分光鏡繼續分光,最后一個分光鏡即第N分光鏡(105)的透射光入射反射鏡(106);N+1為探測譜段數目;
所述的探測器及前放組(2)包括第一AOTF晶體(201)、第一會聚鏡(202)、第一譜段探測器(203)、第一互阻抗放大器(204),第NAOTF晶體(205),第N會聚鏡(206)、第N譜段探測器(207)、第N互阻抗放大器(208),第N+1AOTF晶體(209)、第N+1會聚鏡(210)、第N+1譜段探測器(211)和第N+1互阻抗放大器(212);第一分光鏡(104)的反射光經第一AOTF晶體(201)分光得到準單色光,經第一會聚鏡(202)聚焦于第一譜段探測器(203)光敏面,所得光電流通過第一互阻抗放大器(204)轉換為第一路電壓信號;第N分光鏡(105)的反射光經第NAOTF晶體(205)分光得到準單色光,經第N會聚鏡(206)聚焦于第N譜段探測器(207)光敏面,所得光電流通過第N互阻抗放大器(208)轉換為第N路電壓信號;反射鏡(106)的反射光經第N+1AOTF晶體(209)分光得到準單色光,經第N+1會聚鏡(210)聚焦于第N+1譜段探測器(211)光敏面,所得光電流通過第N+1互阻抗放大器(212)轉換為第N+1電壓信號;
所述的模擬光譜信號處理及采集(3)包括第一模擬通道選擇器(301)、程控增益放大器(302)、窄帶濾波器(303)、壓控增益放大器(304)、同相1倍放大器(305)、反相1倍放大器(306)、第二模擬通道選擇器(307)、低通濾波器(308)、模數轉換器(309)、第一電壓基準源(310)、第二電壓基準源(313)、數模轉換器(312)和射極跟隨器(311);探測器及前放組(2)所輸出的N+1路電壓信號作為系統待測模擬光譜信號,同時接入第一模擬通道選擇器(301),其輸出信號先經程控增益放大器(302)進行增益粗調,再通過窄帶濾波器(303)濾除帶外噪聲和干擾頻率,然后利用壓控增益放大器(304)進行增益細調,由第一基準源(310)為壓控增益放大器(304)提供固定的負向增益控制電壓VGENG,數模轉換器(312)的輸出經射級跟隨器(311)隔離后為壓控增益放大器(304)提供可變的正向增益控制電壓VGPOS,第二基準源(313)為數模轉換器(312)提供基準電壓;然后,壓控增益放大器(304)的輸出同時接入同相1倍放大器(305)和反相1倍放大器(306),將兩路輸出同時引入第二模擬通道選擇器(307),繼而實現待測信號和模擬通道選擇器(307)選通控制信號的互相關鎖相,鎖相輸出經低通濾波器(308)提取直流成分,再由模數轉換器(309)進行A/D采樣;
所述的射頻驅動生成(4)包括DDS合成器(401)、射頻功率放大器(402)和射頻繼電器(403);由FPGA主控(5)控制DDS合成器(401)合成所需的射頻信號,并利用DDS芯片的OSK功能對其合成的射頻驅動信號直接進行數控OSK調制,再經射頻功率放大器(402)調整射頻信號功率,然后輸入射頻繼電器(403),其輸出分別接至各AOTF晶體的驅動注入端;
FPGA主控(5)控制射頻繼電器(403)切換射頻輸出通道驅動各個AOTF,并控制第一模擬通道選擇器(301)選通相匹配的探測器及前放輸出;FPGA主控(5)配置DDS芯片的信號合成和OSK調制,實現單光譜信號的電調制,并將該OSK調制信號適當數字移相,補償待測光譜信號在電子學系統中產生的附加相移,作為第二模擬通道選擇器(307)的選通控制信號;最終采樣結果經FPGA主控(5)處理后,傳輸至上位機(6)進行顯示。
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