[實用新型]一種OBU的微波性能測試裝置有效
| 申請號： | 201520669425.1 | 申請日： | 2015-08-31 |
| 公開（公告）號： | CN204928843U | 公開（公告）日： | 2015-12-30 |
| 發明（設計）人： | 李振華 | 申請（專利權）人： | 北京握奇智能科技有限公司 |
| 主分類號： | H04B17/29 | 分類號： | H04B17/29;H04B17/15 |
| 代理公司： | 北京天悅專利代理事務所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;張海秀 |
| 地址： | 100102 北京市朝陽區*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 obu 微波 性能 測試 裝置 | ||
1.一種OBU的微波性能測試裝置，包括信號源(1)、第一頻譜儀(2)、以及分別與信號源(1)和第一頻譜儀(2)連接的信號控制單元(3)，信號控制單元(3)上設有與待測試OBU連接的端口，其特征在于：還包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的輸入端與信號源(1)的信號輸出端連接，第一合路器(5)的輸出端與第一頻譜儀(2)的信號輸入端連接，功分器(4)的輸出端和第一合路器(5)的輸入端分別與第一輻射天線(6)相連接,第一輻射天線(6)與待測試OBU通過微波輻射連接。
2.根據權利要求1所述的一種OBU的微波性能測試裝置，其特征在于：所述第一合路器(5)的個數為n個，與一個第一合路器(5)連接的第一輻射天線(6)與兩個待測試OBU連接；其中，n≥1。
3.根據權利要求1所述的一種OBU的微波性能測試裝置，其特征在于：所述信號控制單元(3)上的與待測試OBU連接的端口為串口。
4.根據權利要求1所述的一種OBU的微波性能測試裝置，其特征在于：所述信號控制單元(3)包括信號控制器和用于顯示測試結果的顯示器。
5.根據權利要求1所述的一種OBU的微波性能測試裝置，其特征在于：還包括用于對功分器(4)和第一合路器(5)進行插損校準的插損校準設備。
6.根據權利要求1至5之一所述的一種OBU的微波性能測試裝置，其特征在于：該測試裝置還包括第二頻譜儀(7)，第二頻譜儀(7)與待測試OBU連接，信號控制單元(3)與第二頻譜儀(7)連接。
7.根據權利要求6所述的一種OBU的微波性能測試裝置，其特征在于：所述第二頻譜儀(7)與第二輻射天線(8)連接，第二輻射天線(8)與待測試OBU通過微波輻射連接，或者，所述第二頻譜儀(7)通過第二合路器與第一輻射天線(6)連接。
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