[實用新型]一種微波器件動態老化試驗系統

有效

• 申請號: 201520643710.6
• 申請日: 2015-08-25
• 公開（公告）號: CN204989343U
• 公開（公告）日: 2016-01-20
• 發明（設計）人: 邱云峰;袁帥;袁文
• 申請（專利權）人: 貴州航天計量測試技術研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 貴陽中新專利商標事務所 52100
• 代理人: 商小川

技術領域

本實用新型屬于電子元器件可靠性試驗設備領域，尤其涉及一種微波器件動態老化試驗系統。

背景技術

微波器件設計和生產過程中都需要對其質量與可靠性進行檢驗，而老化試驗是國內外公認最有效的可靠性檢測方法。目前微波器件老化設備普遍采用的都是直流偏置的方式，這是一種靜態老化方式，與器件實際工作狀態相差甚遠，達不到剔除早期失效器件的效果。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題：提供一種微波器件動態老化試驗系統，以解決現有技術的微波器件老化試驗采用直流偏置的方式進行，由于這是一種靜態老化方式，存在的器件實際工作狀態與試驗狀態相差甚遠，達不到剔除早期失效器件等技術問題。

本實用新型技術方案：

一種微波器件動態老化試驗系統，它包括老化試驗板，微波信號源與程控電源通過背板連接器與老化試驗板輸入端連接，老化試驗板輸出端通過背板連接器與微波信號分析儀連接。

所述微波信號源和微波信號分析儀均為八通道。

工控計算機通過背板連接器上的數據總線分別與連接。

微波信號源、微波信號分析儀和程控電源安裝在控制箱的常溫區，老化試驗板和背板連接器安裝在控制箱的高溫區，高溫區和常溫區均分為二個以上獨立的工區。

老化試驗板包括鋁合金腔體支架，微波電路板安裝在鋁合金腔體支架上，鋁合金夾具安裝在微波電路板上，各個鋁合金夾具之間由吸波材料屏蔽隔離，微波電路板與射頻連接器連接。

本實用新型的有益效果：

本實用新型采用多工區設計，各個工區相互獨立，這樣可在同一套試驗系統上老化多個型號規格的器件，試驗系統的多通道微波信號源能夠為被試器件提供激勵信號，模擬器件實際工作狀態，從而提高老化試驗效果；試驗系統的多通道微波信號分析儀能夠檢測被試器件的輸出信號，通過分析可以實時監測被試器件老化狀態；試驗系統的工控計算機能夠記錄整個老化試驗過程信息，便于試驗效果的分析，因此相比現有技術，本實用新型提高了微波器件老化試驗效果；解決了現有技術的微波器件老化試驗采用直流偏置的方式進行，由于這是一種靜態老化方式，存在的器件實際工作狀態與試驗狀態相差甚遠，達不到剔除早期失效器件等技術問題。

附圖說明

圖1為本實用新型結構示意圖；

圖2為本實用新型老化試驗板結構示意圖。

具體實施方式

一種微波器件動態老化試驗系統，它包括老化試驗板6，微波信號源2與程控電源4通過背板連接器7與老化試驗板6輸入端連接，老化試驗板6輸出端通過背板連接器7與微波信號分析儀3連接。

所述微波信號源2和微波信號分析儀3均為八通道。

工控計算機5與背板連接器7連接，背板連接器7采用高溫背板連接器，需要承受80℃以上溫度。

微波信號源2、微波信號分析儀3和程控電源4安裝在控制箱1的常溫區9，老化試驗板6和背板連接器7安裝在控制箱1的高溫區8，高溫區8和常溫區9均分為二個以上獨立的工區。所述高溫區指溫度在80℃以上，常溫區溫度為室溫。

老化試驗板6包括鋁合金腔體支架42，微波電路板44安裝在鋁合金腔體支架42上，鋁合金夾具45安裝在微波電路板44上，各個鋁合金夾具45之間由吸波材料43屏蔽隔離，微波電路板44與射頻連接器41連接，射頻連接器41為高溫射頻連接器。