[實用新型]一種用于多頁存儲陣列的損壞單元片內統計系統

有效

• 申請號: 201520591729.0
• 申請日: 2015-08-03
• 公開（公告）號: CN204834060U
• 公開（公告）日: 2015-12-02
• 發明（設計）人: 王小光
• 申請（專利權）人: 西安華芯半導體有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 張倩

1.一種用于多頁存儲陣列的損壞單元片內統計系統，其特征在于：包括鎖存模塊、鎖存使能模塊、回寫地址模塊、頁緩存器回寫模塊、錯誤計數模塊、驗證結果鎖存模塊以及錯誤數目統計區，

所述鎖存模塊位于讀數據通路上，用于接收驗證模塊發送的成功標志位，并在接收到鎖存使能模塊發送的鎖存信號的情況下，且當前地址的成功標志位為錯誤時，產生并保持錯誤操作結果給頁緩存器，同時產生實時更新的錯誤結果給錯誤計數模塊；

所述鎖存使能模塊用于在控制判斷邏輯模塊判斷得知當前操作為當前地址的終次操作時產生鎖存信號，并發送給鎖存模塊和頁緩存器回寫模塊；

所述回寫地址模塊用于在控制判斷邏輯模塊判斷得知當前操作為當前地址的終次操作時從地址發生器提取與該終次操作所對應的當前地址信息，并發送給頁緩存器回寫模塊；

所述頁緩存器回寫模塊用于根據收到的當前地址信息和鎖存信號產生回寫地址信息和回寫使能，并發送給頁緩存器，頁緩存器根據收到的回寫地址信息和回寫使能，將當前地址的最終操作結果存儲在頁緩存器相應位置，供外部接口后續讀?。?/p>

所述錯誤計數模塊：用于對鎖存返回的讀驗證結果進行采樣判斷，若讀驗證結果最終的標志位返回為失敗，則計數加1，否則保持；

所述錯誤數目統計區用于存儲陣列內損壞存儲單元的錯誤統計數目。

2.根據權利要求1所述的用于多頁存儲陣列的損壞單元片內統計系統，其特征在于：還包括壓縮模塊，所述壓縮模塊用于對錯誤計數模塊的計數值進行數據壓縮處理以減少存儲消耗，將錯誤統計信息存儲在錯誤數目統計區中。

3.根據權利要求1或2所述的用于多頁存儲陣列的損壞單元片內統計系統，其特征在于：所述鎖存模塊包括第一鎖存電路和第二鎖存電路，所述第一鎖存電路包括或門和第一鎖存器，所述第二鎖存電路包括第二鎖存器，所述或門的一個輸入端接接驗證模塊發送的成功標志位，所述或門輸出端接第一鎖存器的數據輸入端，所述第一鎖存器的時鐘輸入端接鎖存信號，所述第一鎖存器的輸出端輸出當前地址的最終操作結果給頁緩存器和或門的另一個輸入端；

所述第二鎖存器的數據輸入端接驗證模塊發送的成功標志位，所述第二鎖存器的時鐘輸入端接鎖存信號，所述鎖存器的輸出端輸出錯誤結果給錯誤計數模塊。