[實用新型]硅片磨削力動態信號檢測裝置有效
| 申請號: | 201520564504.6 | 申請日: | 2015-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN204893721U | 公開(公告)日: | 2015-12-23 |
| 發明(設計)人: | 王軍;周尹梅;葉建南 | 申請(專利權)人: | 安徽工程大學 |
| 主分類號: | B24B49/02 | 分類號: | B24B49/02 |
| 代理公司: | 蕪湖安匯知識產權代理有限公司 34107 | 代理人: | 馬榮 |
| 地址: | 241000 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 硅片 磨削 動態 信號 檢測 裝置 | ||
1.一種硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,包括內軸、砂輪、三維測力平臺和傳感系統信號處理器,被測硅片固定在三維測力平臺上,砂輪固定在內軸上磨削被測硅片,三維測力平臺將加工過程中的磨削力發送給傳感系統信號處理器,所述三維測力平臺包括多個三維力傳感器,所述三維力傳感器包括圓環電容單元組和條狀電容單元組,所述條狀電容單元組設置在圓環電容單元組外基板的四角,圓環電容單元組包括兩對以上圓環電容單元對,所述圓環電容單元對包括兩個圓環電容單元,所述條狀電容單元組包括X方向差動電容單元組和Y方向差動電容單元組,X方向差動電容單元組和Y方向差動電容單元組均包括兩個以上相互形成差動的電容單元模塊,所述電容單元模塊是由兩個以上的條狀電容單元組成的梳齒狀結構,每個圓環電容單元和條狀電容單元均包括上極板的驅動電極和下極板的感應電極。
2.根據權利要求1所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,所述傳感系統信號處理器包括信號放大器、數據采集卡和工控機,所述三維力傳感器的輸出信號經信號放大器轉換和放大后生成模擬信號,數據采集卡將放大器輸出的模擬信號轉換為數字信號并輸入工控機。
3.根據權利要求2所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,所述每個圓環電容單元的感應電極和驅動電極正對且形狀相同,所述每個條狀電容單元的驅動電極和感應電極寬度相同,條狀電容單元的驅動電極長度大于感應電極長度,條狀電容單元的驅動電極長度兩端分別預留左差位δ左和右差位δ右,b0驅=b0感+δ右+δ左,其中b0驅為條狀電容單元的驅動電極長度,b0感為條狀電容單元的感應電極長度。
4.根據權利要求3所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,所述條狀電容單元的左差位δ左=右差位δ右,且其中d0為彈性介質厚度,G為彈性介質的抗剪模量,τmax為最大應力值。
5.根據權利要求2所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,兩組所述相互形成差動的電容單元模塊的條狀電容單元的驅動電極和感應電極沿寬度方向設有初始錯位偏移,錯位偏移大小相同、方向相反。
6.根據權利要求2所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,所述圓環電容單元組包括n個同心圓環電容單元,其中其中,a平為平行板的長度,r圓為圓環電容單元圓環的寬度,aδ圓為相鄰兩圓環電容單元之間的電極間距。
7.根據權利要求2所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,X方向差動電容單元組和Y方向差動電容單元組均包括m個條狀電容單元,a平/(a0+aδ條),其中,a平為平行板的長度,aδ條為相鄰兩條狀電容單元之間的電極間距,a0條狀電容單元的寬度。
8.根據權利要求2所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,所述圓環電容單元的寬度r圓和條狀電容單元的寬度a0相等;條狀電容單元電極間距aδ條和圓環電容單元電極間距aδ圓相等,所述條狀電容單元的寬度其中,d0為彈性介質厚度,E為彈性介質的楊氏模量,G為彈性介質的抗剪模量。
9.根據權利要求2所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,所述圓環電容單元組和條狀電容單元組的驅動電極通過一個引出線與傳感系統信號處理器連接,所述圓環電容單元組的每個圓環電容單元的感應電極單獨引線與傳感系統信號處理器連接,所述X方向差動電容單元組和Y方向差動電容單元組的電容單元模塊感應電極分別通過一根引出線與傳感系統信號處理器連接。
10.根據權利要求2所述的硅片磨削力動態信號檢測裝置,其特征在于,所述圓環電容單元、電容單元模塊與傳感系統信號處理器之間分別設有中間變換器,中間變換器用于設置電壓對電容或頻率對電容的傳輸系數。
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