[實用新型]一種太陽能電池片性能檢測設備有效
| 申請號: | 201520550666.4 | 申請日: | 2015-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN204792708U | 公開(公告)日: | 2015-11-18 |
| 發明(設計)人: | 吳方輝;隆霹顯;陳志運;王世賢;張華;陳清波;杜教峰 | 申請(專利權)人: | 張家港國龍光伏科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能電池 性能 檢測 設備 | ||
技術領域
本實用新型涉及光伏技術設備領域,特別涉及一種太陽能電池片性能檢測設備。
背景技術
在太陽能電池組件的生產過程中,必須對電池片進行全數電性能檢測,并進行分組,將具有相似特性的電池片串聯起來并進行封裝才能獲得人們預定電池組件,使太陽能電池組件輸出預定的電壓。根據設計要求,在同一個太陽能電池組件中的電池片應表現出相同的特性,并且整個組件與單個電池片的I-V曲線應具有相似的形狀,只是坐標軸的尺度會有所差別。因此在電池片串焊前必須先進行全數檢測分類,如何快速準確地對電池片進行電性能進行檢測是一項重要的工作,它不僅直接影響到電池組件的最終性能指標,而且直接影響到檢測效率。由于現有的金屬探針是剛性的,在實際檢測過程中時常出現電池片被壓破或檢測不準確的缺陷并且在使用過程中,由于探針向下運動時,導致探頭偏離等現象,造成測量不精確的問題。
實用新型內容
針對現有技術的不足,本實用新型的目的是提供一種太陽能電池片性能檢測設備。
本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是:一種太陽能電池片性能檢測設備,包括檢測暗箱、貫穿所述檢測暗箱的傳輸帶,所述檢測暗箱頂部設有無影燈,所述檢測暗箱內設有進風口,所述進風口與設置在檢測暗箱外的空調系統連通,所述檢測暗箱內設有升降機構,所述升降機構上連接有固定板,所述固定板上設有探針,所述無影燈亮度可調,所述導軌上設有截面為三角形的分隔條,所述分隔條將傳輸帶分割成多個沿傳輸帶長度方向分布的工位,每個工位下方均設有溫度傳感器和濕度傳感器。
上述設計利用空調系統對檢測暗室進行溫度調節和濕度調節,結構簡單,檢測結果更加準確,無影燈能夠無死角的對電池片照射,提高檢測精度,亮度可調的無影燈便于模擬不同光照條件進行測試。三角形的分隔條實現工位的分割,便于快速放置電池片,溫度傳感器和濕度傳感器設置在工位下方,檢測結果更加準確。
作為本設計的進一步改進,所述升降機構包括:設置檢測暗箱內的滑軌、與所述滑軌配合的滑座,所述滑座與所述固定板連接,所述滑座與設置在檢測暗箱內的電缸連接,結構簡單,體積小。
作為本設計的進一步改進,所述升降機構為直線電機,所述直線電機與所述固定板連接,結構簡單,運動快速。
作為本設計的進一步改進,所述探針包括筒狀基座、設置于所述基座內上下滑動的滑桿,所述滑桿上套有將滑桿向上頂起的彈簧,所述滑桿底部設有探針本體,所述探針本體底面為鋸齒狀,上下滑動的滑桿,防止壓傷電池片,鋸齒狀的探針本體有利于良好的接觸。
作為本設計的進一步改進,所述固定板為薄片狀,不易過多遮擋線,便于準確測量。
本實用新型的有益效果是:本實用新型利用空調系統對檢測暗室進行溫度調節和濕度調節,結構簡單,檢測結果更加準確,無影燈能夠無死角的對電池片照射,提高檢測精度,亮度可調的無影燈便于模擬不同光照條件進行測試。三角形的分隔條實現工位的分割,便于快速放置電池片,溫度傳感器和濕度傳感器設置在工位下方,檢測結果更加準確。
附圖說明
下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
圖1是本實用新型的整體結構示意圖。
圖2是本實用新型的探針結構示意圖。
圖3是本實用新型的升降機構示意圖。
在圖中1.分隔條,2.傳輸帶,3.探針,4.空調系統,5.進風口,6.無影燈,7.檢測暗箱,8.升降機構,9.固定板,10.滑桿,11.彈簧,12.基座,13.探針本體,14.電缸,15.滑軌,16.滑座。
具體實施方式
下面將結合附圖以及具體實施例來詳細說明本實用新型,其中的示意性實施例以及說明僅用來解釋本實用新型,但并不作為對本實用新型的限定。
實施例:一種太陽能電池片性能檢測設備,包括檢測暗箱7、貫穿所述檢測暗箱7的傳輸帶2,所述檢測暗箱7頂部設有無影燈6,所述檢測暗箱7內設有進風口5,所述進風口5與設置在檢測暗箱7外的空調系統4連通,所述檢測暗箱7內設有升降機構8,所述升降機構8上連接有固定板9,所述固定板9上設有探針3,所述無影燈6亮度可調,所述導軌上設有截面為三角形的分隔條1,所述分隔條1將傳輸帶2分割成多個沿傳輸帶2長度方向分布的工位,每個工位下方均設有溫度傳感器和濕度傳感器。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





