[實用新型]電子元件外觀檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520539227.3 | 申請日: | 2015-07-23 |
| 公開(公告)號: | CN204789382U | 公開(公告)日: | 2015-11-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張仁明;陳正鍇;劉子誠;林軒民;楊景欽 | 申請(專利權(quán))人: | 臺達(dá)電子工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/89 | 分類號: | G01N21/89;B07C5/34;B07C5/02 |
| 代理公司: | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 王玉雙;李巖 |
| 地址: | 中國臺灣*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子元件 外觀 檢測 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型是有關(guān)于電子元件外觀檢測裝置,尤其是一種用于檢測微尺寸電子元件的電子元件外觀檢測裝置。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的電子元件外觀檢測裝置一般是藉由震動盤將電子元件整列后,排列至一旋轉(zhuǎn)盤上,旋轉(zhuǎn)盤將電子元件輸送至鏡頭前取像以供檢測外觀,再藉由一分料機構(gòu)依據(jù)檢測結(jié)果分類收集。現(xiàn)有技術(shù)存在下述的缺點需要改善。
當(dāng)旋轉(zhuǎn)盤移動時,重量太輕的電子元件無法固定在旋轉(zhuǎn)盤上電子元件,其隨著旋轉(zhuǎn)盤移動而產(chǎn)生徧移,因此使得鏡頭取像的準(zhǔn)確率低落,因此現(xiàn)有的震動盤并不適用微尺寸料件。
現(xiàn)有的震動盤內(nèi)多設(shè)有繞行多層的下料軌道,藉此延長料件輸送的距離,故能夠容納較多的料件以利于控制出料速度。但是微尺寸料件輸送過長的距離會容易磨損,因此現(xiàn)有的震動盤并不適用微尺寸料件。
再者,現(xiàn)有的電子元件外觀檢測裝置是藉由對應(yīng)各鏡頭設(shè)置傳感器來感測電子元件的位置以進(jìn)行取像,分料機構(gòu)同樣設(shè)有傳感器以作為驅(qū)動時間的判定,但是各傳感器皆會造成誤差,多個傳感器進(jìn)行多次定位更會造成誤差加成。
有鑒于此,本創(chuàng)作人遂針對上述現(xiàn)有技術(shù),特潛心研究并配合學(xué)理的運用,盡力解決上述的問題點,即成為本創(chuàng)作人改良的目標(biāo)。
實用新型內(nèi)容
本實用新型提供一種用于檢測微尺寸電子元件的電子元件外觀檢測裝置。
本實用新型提供一種電子元件外觀檢測裝置,其包含一基座、一輸送機構(gòu)、一供料機構(gòu)、一傳感器、多個取像模塊及一控制器。輸送機構(gòu)包含一旋轉(zhuǎn)盤、一馬達(dá)以及一角度編碼器,旋轉(zhuǎn)盤呈水平配置,馬達(dá)設(shè)置于基座且連接旋轉(zhuǎn)盤而能夠驅(qū)動旋轉(zhuǎn)盤水平自轉(zhuǎn),角度編碼器電性連接馬達(dá)。供料機構(gòu)包含一震動盤以及一儲料桶,震動盤設(shè)置于基座,儲料桶具有朝向震動盤內(nèi)配置的一供料道,震動盤延伸出一下料軌道且下料軌道的末端延伸至旋轉(zhuǎn)盤的上方。傳感器對應(yīng)旋轉(zhuǎn)盤配置且與下料軌道的末端相鄰。多個取像模塊設(shè)置于基座上,各取像模塊分別鄰近環(huán)繞旋轉(zhuǎn)盤配置。控制器電性連接編碼器、傳感器以及各取像模塊。
較佳地,供料機構(gòu)包含一去靜電風(fēng)扇且去靜電風(fēng)扇的出風(fēng)方向朝向震動盤配置;輸送機構(gòu)包含一靜電刷,靜電刷設(shè)置在基座且接觸旋轉(zhuǎn)盤;震動盤內(nèi)形成有一整列軌道,整列軌道延伸呈單圈環(huán)形且整列軌道連接下料軌道;震動盤與基座之間設(shè)置有一緩沖器;傳感器為遮斷式光學(xué)傳感器。
較佳地,取像模塊可以包含一攝影鏡頭且攝影鏡頭朝向旋轉(zhuǎn)盤配置,取像模塊包含一直立滑軌,直立滑軌的縱向平行于旋轉(zhuǎn)盤的正向配置,且直立滑軌上可滑動地設(shè)置一個攝影鏡頭。較佳地,取像模塊也可以包含一攝影鏡頭以及一反射鏡,攝影鏡頭朝向反射鏡配置,且反射鏡對應(yīng)旋轉(zhuǎn)盤配置。
較佳地,電子元件外觀檢測裝置更包含一分料機構(gòu),分料機構(gòu)包含設(shè)置在基座上的多個集料盒以及對應(yīng)各集料盒的多個吹嘴,各吹嘴分別朝向相對應(yīng)的集料盒配置且旋轉(zhuǎn)盤介于各吹嘴與相對應(yīng)的集料盒之間,各吹嘴上分別設(shè)置有一電磁閥且各電磁閥分別電性連接控制器;各集料盒內(nèi)分別設(shè)有一活動緩沖擋板,且各吹嘴分別朝向相對應(yīng)的集料盒內(nèi)的活動緩沖擋板配置;活動緩沖擋板可以樞設(shè)在集料盒內(nèi);各吹嘴分別藉由一樞轉(zhuǎn)軸可樞轉(zhuǎn)地連接基座,而且各樞轉(zhuǎn)軸與旋轉(zhuǎn)盤相互平行配置。
本實用新型的電子元件外觀檢測裝置藉由角度編碼器而能夠?qū)πD(zhuǎn)盤的旋轉(zhuǎn)方向上精確定位,因此只需要藉由一個傳感器定位電子元件行經(jīng)路徑的原點之后即能夠精確推斷電子元件到達(dá)各取像模塊以及分料機構(gòu)的時間。
附圖說明
圖1為本實用新型較佳實施例的電子元件外觀檢測裝置的立體示意圖(一)。
圖2為本實用新型較佳實施例的電子元件外觀檢測裝置的立體示意圖(二)。
圖3為本實用新型較佳實施例的電子元件外觀檢測裝置的立體示意圖(三)。
圖4為本實用新型較佳實施例的電子元件外觀檢測裝置的立體示意圖(四)。
圖5為本實用新型較佳實施例的電子元件外觀檢測裝置的俯視圖。
圖6為本實用新型較佳實施例的電子元件外觀檢測裝置之中的輸送機構(gòu)及供料機構(gòu)的示意圖。
圖7為本實用新型較佳實施例的電子元件外觀檢測裝置之中的分料機構(gòu)的一立體示意圖。
圖8為本實用新型較佳實施例的電子元件外觀檢測裝置之中的分料機構(gòu)的另一立體示意圖。
其中,附圖標(biāo)記
100基座
200輸送機構(gòu)
210傳感器
220旋轉(zhuǎn)盤
230馬達(dá)
231驅(qū)動軸
240靜電刷
300供料機構(gòu)
310震動盤
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





