[實(shí)用新型]表面等離子體共振裝置光學(xué)系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520537501.3 | 申請日： | 2015-07-22 |
| 公開（公告）號： | CN204807448U | 公開（公告）日： | 2015-11-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王惠玲;朱新強(qiáng);陳秋榮;陳志豪 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海舜宇恒平科學(xué)儀器有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/552 | 分類號： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人： | 周云 |
| 地址： | 201103 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 表面 等離子體 共振 裝置 光學(xué)系統(tǒng) | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種表面等離子體共振裝置光學(xué)系統(tǒng)，它包括光源(1)，其特征在于：所述光源(1)的光線穿過半圓柱棱鏡(2)照向待測樣品(3)，待測樣品(3)緊貼半圓柱棱鏡(2)平面處，光線經(jīng)過待測樣品(3)反射，反射光穿過半圓柱棱鏡(2)照射到二象限硅光電池(4)，二象限硅光電池(4)與檢測控制電路(5)連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種表面等離子體共振裝置光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于：所述待測樣品(3)與半圓柱棱鏡(2)中心重合。
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- 專利分類
G01 測量；測試
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
