[實用新型]一種高溫超導實驗測試儀

有效

• 申請號: 201520473804.3
• 申請日: 2015-06-30
• 公開（公告）號: CN204791716U
• 公開（公告）日: 2015-11-18
• 發明（設計）人: 朱彥杰
• 申請（專利權）人: 許昌學院
• 主分類號: G09B23/18
• 分類號: G09B23/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種高溫超導實驗測試儀，其特征在于，包括

微機控制與顯示部分，所述微機控制與顯示部分包括顯示器和主機，所述主機集成數據采集卡；

運動控制部分，所述運動控制部分包括電機控制器、第一驅動器和第二驅動器；所述電機控制器輸入端與所述主機電性連接，所述電機控制器輸出端與所述第一驅動器和所述第二驅動器電性連接；

機械結構部分，所述機械結構部分包括光學平臺、支架、電動缸、步進電機、平移臺、第一傳感器、第二傳感器、永磁鐵、液氨容器、超導塊材；所述支架固定于所述光學平臺上，所述平移臺水平放置于所述光學平臺，所述永磁鐵放置于所述平移臺上，并通過第一傳感器與所述平移臺連接，所述平移臺與所述步進電機連接；所述電動缸豎直固定于所述支架上，所述超導塊材置于所述液氨容器中，所述第二傳感器連接所述液氨容器和所述電動缸，所述電動缸與所述第二驅動器電性連接；

數據采集部分，包括放大器，所述放大器輸入端電性連接所述第一傳感器和第二傳感器，所述放大器輸出端電性連接所述數據采集卡。

2.根據權利要求1所述的一種高溫超導實驗測試儀，其特征在于，所述第一傳感器為S型力傳感器。

3.根據權利要求1所述的一種高溫超導實驗測試儀，其特征在于，所述光學平臺和所述支架為鋁合金非磁性材料。

4.根據權利要求1所述的一種高溫超導實驗測試儀，其特征在于，所述電機控制器與所述主機通過RS232總線通信。