[實用新型]抗干擾極化探頭有效
| 申請號: | 201520470444.1 | 申請日: | 2015-07-03 |
| 公開(公告)號: | CN204779827U | 公開(公告)日: | 2015-11-18 |
| 發明(設計)人: | 仲維濱;孫勤;王燕 | 申請(專利權)人: | 青島雅合陰保工程技術有限公司 |
| 主分類號: | C23F13/22 | 分類號: | C23F13/22 |
| 代理公司: | 青島聯信知識產權代理事務所 37227 | 代理人: | 潘晉祥;王中云 |
| 地址: | 266071 山東省青島市市南*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 抗干擾 極化 探頭 | ||
技術領域
本實用新型涉及陰極保護領域,具體地說,是一種抗雜散電流干擾的極化探頭。
背景技術
為了檢測管道的陰極保護狀態,需要對管道上的電位進行檢測,檢測管道的電位主要是在管道周圍設置參比電極,檢測管道與參比電極之間的電位差,由于參比電極和管道之間存在電阻,當地下存在直流電流時,將會產生IR降,影響電位檢測的準確性。
為了避免IR降對電位檢測的干擾,出現了極化探頭,極化探頭設置參比電極和試片。目前的極化探頭主要有兩種,一種是參比電極兩側各布置一個試片,兩個試片一個用于極化電位檢測,一個用于自腐蝕電位的檢測,用于檢測極化電位的試片與管道相連,用于檢測自腐蝕電位的試片不連接任何裝置,雖然試片與參比電極都在極化探頭中,距離近,IR降相對較小,因而可以提高檢測精度,但當雜散電流過大時,極化探頭的IR降會隨著雜散電流的增大而增強,還是會影響檢測的精度,使試片測量的電壓值包含了較大的IR降,使得電位測量出現偏差;另外一種是試片是圓環,參比電極在試片的幾何中心,在存在較大雜散電流的干擾下,測量時,由于試片圍繞參比電極使其距離相同,電壓測量不受雜散電流的干擾,但這種極化探頭只能設置一個試片,不能同時測量斷電電位即極化電位和自腐蝕電位。
實用新型內容
本實用新型針對上述現有技術的不足,設計了一種抗干擾極化探頭。
本實用新型的抗干擾極化探頭,包括中空的殼體,所述殼體內腔中安裝有參比電極,并充滿電解質,所述殼體底部設置的開口上安裝有半透膜,所述殼體底部安裝有試片,所述的試片包括極化試片和自腐蝕試片,所述的極化試片和自腐蝕試片都相對與半透膜對稱安裝有兩個,兩個極化試片通過導線相連,兩個自腐蝕試片通過導線相連。
優選的是,所述的試片安裝在殼體下表面設置的安裝槽中。
本實用新型的有益效果是:抗干擾極化探頭通過對稱設置的試片,使兩個試片分別與參比電極之間的IR降相互消除,消除了IR降對電位測量的影響,提高了檢測精度,使極化探頭可同時檢測極化電位和自腐蝕電位,而且極化探頭的結構簡單,制作容易。試片安裝在殼體設置的安裝槽中,使試片安裝更加容易,也使試片不與電解質接觸,無須對試片進行絕緣處理,進一步降低了制作難度,提高了使用的穩定性。
附圖說明
附圖1為抗干擾極化探頭實施例一的結構示意圖;
附圖2為抗干擾極化探頭實施例二的結構示意圖;
附圖3為抗干擾極化探頭的仰視結構示意圖。
具體實施方式
本實用新型的抗干擾極化探頭,如圖1至3所示,包括中空的殼體1,殼體1由絕緣材料制成。
殼體1內腔中安裝有參比電極2,并充滿電解質3,電解質3可為飽和硫酸鈉溶液、飽和硫酸銅溶液等導電溶液。參比電極2與電解質3導通,殼體1底部設置的開口上安裝有半透膜4。
殼體1底部安裝有試片5。如圖1所示,試片5可安裝在殼體1底部設置的安裝孔里,試片5位于殼體1內腔部分的表面涂覆防水絕緣材料,使其不與電解質3導通;如圖2所示,試片5也可以安裝在殼體1下表面設置的安裝槽6中,這樣則省去了在試片5上涂覆防水絕緣材料的工作,更不用考慮長時間使用后防水絕緣材料是否會脫落造成導通,維護保養容易,可長時間穩定工作。
如圖3所示,試片5包括極化試片51和自腐蝕試片52,極化試片51和自腐蝕試片52都相對與半透膜4對稱安裝有兩個,兩個實施例的試片排布形式相同。
試片5的下表面裸露在外,與外界導通。試片5和參比電極2都連接有導線,導線都從殼體1中引出,而位于殼體1內腔中的導線則需要與電解質3絕緣。
參比電極的導線與參比電極導線相連。兩個極化試片51都與極化導線相連。兩個自腐蝕試片52都與自腐蝕導線相連。
在測量極化電位時,檢測極化導線與參比電極導線之間的電壓差。
在測量自腐蝕電位時,檢測自腐蝕導線與參比電極導線之間的電壓差。
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