[實用新型]一種電流式反饋運算放大器測試環路

有效

• 申請號: 201520456981.0
• 申請日: 2015-06-29
• 公開（公告）號: CN204789916U
• 公開（公告）日: 2015-11-18
• 發明（設計）人: 喬秀銘
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 李莎;李弘

技術領域

本實用新型涉及半導體測試領域，特別是指一種電流式反饋運算放大器測試環路。

背景技術

現有技術中，在模擬集成電路測試系統AMIDA-3KS上，多數采用電壓式反饋運算放大器運放環的設計，沒有電流式運放環的設計。測量參數有開環參數和閉環參數兩類，開環參數包括失調電壓、偏置電流、開環增益、共模抑制比以及電源電壓抑制比等參數，閉環測試包括壓擺率等參數的測試。開環參數測試時被測運放必須處于開環狀態，閉環參數測試時被測運放必須處于閉環狀態。運放環設計主要實現輔助運放補償、輔助運放供電、不同測試電路的切換等功能。由于諸多因素的影響，運放環的參數測量精度容易受到影響，其中最主要的影響因素是閉環系統不穩定，即寄生振蕩，導致寄生振蕩的因素有以下幾種，包括：輔助運放性能不良，不能與各種被測運放構成穩定的閉環系統，會導致測試某些被測試運放品種時表現出寄生振蕩；閉環系統補償不良，輔助運放即使自身性能良好，由于閉環系統中的布線和相關元器件總會存在一些分布電容和分布電感，增加了系統的分布參數，進而影響閉環系統的總體幅頻和相頻特性；被測運放補償不良，難于與輔助運放共同構成穩定的閉環系統，實際采用的補償線路和數值與典型補償線路和補償電阻不同。

工頻干擾，最容易表現在輸入偏置電流和輸入失調電流參數的測試上，因為這些參數測試時需要在被測運放的輸入端接入采樣電阻RS，特別是高阻抗運放的測試，采樣電阻的阻值會達到數兆，這樣高的輸入阻抗只要在被測運放端引入很小一點工頻干擾，經數百倍放大后，在輔助運放的輸出端就得到很大的干擾。

由于測量參數還包括輸入阻抗和開環傳輸阻抗等參數，這些參數在電壓式反饋運算放大器測試環路上不能實現測試，因此，電壓式反饋運算放大器測試環路通用性較差，因此還需要開發具有這些測試功能的運放環，浪費了成本和時間。同時，由于電壓式運放環運算放大器開關的引入造成的運放環路上的振蕩，使測量結果誤差增大。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型的目的在于提出一種能夠避免輔助運放造成的測量結果不準確且通用性強的新式反饋運算放大器運放測試環路。

基于上述目的本實用新型提供的一種電流式反饋運算放大器測試環路，包括輔助隔離放大器INA116電路、被測運算放大器放置槽電路、輔助運算放大器741電路，其中，所述被測運算放大器放置槽電路分別與輔助隔離放大器INA116電路、輔助運算放大器741電路和測試系統供壓模塊電路連接，所述被測運算放大器放置槽用于放置被測運算放大器；所述輔助隔離放大器INA116電路和被測運算放大器放置槽連接，所述輔助運算放大器741電路和被測運算放大器放置槽連接，所述輔助隔離放大器INA116電路和所述輔助運算放大器741電路均用于測量運算放大器的參數；利用所述電流式反饋運算放大器測試環路在不使用所述輔助運算放大器741電路的情況下，僅利用所述隔離放大器INA116電路測試失調電壓、失調電流、偏置電流和共模抑制比。