[實用新型]位敏測量裝置

有效

• 申請號: 201520400999.9
• 申請日: 2015-06-10
• 公開（公告）號: CN204854624U
• 公開（公告）日: 2015-12-09
• 發明（設計）人: 梁凱;張小波;高為民
• 申請（專利權）人: 深圳市速普儀器有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

技術領域

本實用新型涉及探測技術領域，特別是涉及一種位敏測量裝置。

背景技術

激光具有峰值功率強、脈寬窄等優點，隨著激光器技術的不斷發展，激光器在工業、醫療和科研等領域的應用越來越廣泛，在其應用過程中，常常需要對激光的光束指向進行精確測量。

位敏測量裝置是一種對入射到光敏面上的光點位置敏感的光電器件，其輸出光點光斑的實際物理位置坐標。現有的位敏測量裝置大多采用半導體敏感元件，將照射在光敏面上的光斑強度和位移量轉換為電信號，以實現位置探測，結構復雜，對接收到的光斑強度和尺寸要求較高，從而對器件的性能要求較高。

實用新型內容

基于此，有必要提供一種結構簡單的位敏測量裝置。

一種位敏測量裝置，用于探測光束的位置，用于探測光束的位置，包括成像屏組件和相機，所述相機設于所述成像屏組件的一端，所述成像屏組件遠離所述相機的一端設有成像屏，所述成像屏包括成像擋板和濾光膜，所述濾光膜設于所述成像擋板靠近所述相機的一側，所述成像擋板對可見光具有透光作用，所述濾光膜對小于所述光束所在波長的可見光有吸收作用，且所述相機與所述成像屏相對而設。

上述位敏測量裝置，用于探測光束的位置，光束照射在所述成像屏上形成光斑，光斑經過濾光膜后，相機獲取光斑的圖像，通過圖像處理及測量技術計算得到光束的實際二維物理位置。由于位敏測量裝置采用相機直接獲取光斑的圖像，通過圖像處理及測量技術計算得到光束的實際二維物理位置，從而使位敏測量裝置結構簡單；由于光斑經過濾光膜濾光，使得相機能夠得到更加精確的光斑圖像，從而提高位敏測量裝置的測量精度。上述位敏測量裝置結構簡單、測量精度高，在工業生產中具有更加廣泛的應用。

在其中一個實施例中，所述相機包括鏡頭，所述鏡頭朝向所述成像屏而設，所述鏡頭的光軸與所述成像屏垂直。

在其中一個實施例中，所述相機還包括濾光片，所述濾光片設于所述相機的鏡頭與所述成像屏組件之間，所述濾光片對所述光束具有透光作用。

在其中一個實施例中，所述位敏測量裝置還包括相機基座，所述相機設于所述相機基座上。

在其中一個實施例中，所述成像屏組件包括外殼，所述外殼具有腔體，所述成像屏設于所述外殼的腔體內，所述腔體內所述相機與所述成像屏之間形成光路。

在其中一個實施例中，所述成像屏組件的尺寸可根據光束需要的測量范圍進行調整。

在其中一個實施例中，所述成像擋板為對可見光具有透光作用的硬塑料板。

在其中一個實施例中，所述相機為工業相機。

在其中一個實施例中，所述濾光膜粘貼于所述成像擋板靠近所述相機的一側。

在其中一個實施例中，所述光束為激光。

附圖說明

圖1為一實施方式的位敏測量裝置的結構示意圖。

具體實施方式

為了便于理解本實用新型，下面將參照相關附圖對本實用新型進行更全面的描述。附圖中給出了本實用新型的較佳的實施例。但是，本實用新型可以以許多不同的形式來實現，并不限于本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本實用新型的公開內容的理解更加透徹全面。

需要說明的是，當元件被稱為“固定于”另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。

參照圖1，一實施方式的位敏測量裝置100，用于探測光束的位置，包括成像屏組件110及相機120，相機120設于成像屏組件110的一端，成像屏組件110遠離相機120的一端設有成像屏111，成像屏111包括成像擋板1112和濾光膜1114，濾光膜1114設于成像擋板1112靠近相機120的一側，成像擋板1112對可見光具有透光作用，濾光膜1114對小于光束所在波長的可見光有吸收作用，且相機120與成像屏111相對而設。