[實(shí)用新型]共聚焦顯微控制熒光儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201520388279.5
• 申請日: 2015-06-03
• 公開（公告）號: CN204924942U
• 公開（公告）日: 2015-12-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳小梅
• 申請（專利權(quán)）人: 陳小梅
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種用于觀察分析新材料分子或原子量級大小的裝置，尤其涉及一種共聚焦顯微控制熒光儀，屬于顯微電子設(shè)備領(lǐng)域。

背景技術(shù)

納米材料是指在三維空間中至少有一個維度的尺寸小于100nm或者由它們作為基本單元構(gòu)成的材料。由于它的尺寸已經(jīng)接近電子的相干長度，它的性質(zhì)因?yàn)閺?qiáng)相干所帶來的自組織使得性質(zhì)發(fā)生很大變化，如光學(xué)、熱學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、力學(xué)以及化學(xué)方面的性質(zhì)和塊體材料相比將會有顯著的不同。所以，納米尺度和性能特異變化是納米材料必須同時具備的兩個基本特征。

半導(dǎo)體納米材料的量子尺寸效應(yīng)和表面與界面等效應(yīng)，使其表現(xiàn)出獨(dú)特的光學(xué)特性，如光學(xué)發(fā)光性、吸收帶邊藍(lán)移、激子發(fā)光等。尤其是II-VI族一維納米材料，它們是寬的直接帶隙半導(dǎo)體材料，是典型的光電半導(dǎo)體材料。帶隙半導(dǎo)體材料，是典型的光電半導(dǎo)體材料。以硒化鎘為(CdSe)例，作為典型的光電半導(dǎo)體材料之一，本身具有獨(dú)特的光電學(xué)性質(zhì)，在作為光源、光吸收、光波導(dǎo)、光致發(fā)光和光電轉(zhuǎn)換等方面有著廣闊的應(yīng)用前景。

目前國內(nèi)尚無成熟的專門用來制備半導(dǎo)體納米材料相關(guān)樣品的裝置，也沒有配套的測試儀器。

實(shí)用新型內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，解決好現(xiàn)有技術(shù)的問題，彌補(bǔ)現(xiàn)有目前市場上現(xiàn)有產(chǎn)品的不足。

本實(shí)用新型提供了一種共聚焦顯微控制熒光儀，由激光發(fā)射器、第一狹縫、第一半反半透鏡、濾光片、第二半反半透鏡、照相機(jī)、顯微物鏡、樣品臺、狹縫、第三狹縫和光譜儀構(gòu)成，按照激光光路的方向依次設(shè)置激光器、第一狹縫、第一半反半透鏡、第二狹縫、第三狹縫和光譜儀。

優(yōu)選的，上述激光發(fā)射器和第一狹縫之間設(shè)置有第一聚光透鏡，第一狹縫和第一半反半透鏡之間設(shè)置有準(zhǔn)直透鏡。

優(yōu)選的，上述第一半反半透鏡和第二狹縫之間設(shè)置有第三聚光透鏡，第二狹縫和第三狹縫之間設(shè)置有第三聚光透鏡。

優(yōu)選的，按照激光光路方向還依次設(shè)置有激光器、第一狹縫、第一半反半透鏡、顯微物鏡和樣品臺。

優(yōu)選的，按照激光光路方向還依次設(shè)置有激光器、第一狹縫、第一半反半透鏡、濾光片、第二半反半透鏡和照相機(jī)。

本實(shí)用新型提供的共聚焦顯微控制熒光儀，可以得到材料帶隙、缺陷、雜質(zhì)能級以及復(fù)合機(jī)制等參數(shù)信息，通過對發(fā)光譜中峰位、半高寬等的分析，為科學(xué)實(shí)驗(yàn)提供證據(jù)。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖標(biāo)記：1-激光發(fā)射器；2-第一狹縫；3-第一半反半透鏡；4-濾波片；5-第二半反半透鏡；6-照相機(jī)；7-顯微物鏡；8-樣品臺；9-第二狹縫；10-第三狹縫；11-光譜儀；12-第一聚光透鏡；13-準(zhǔn)直透鏡；14-第二聚光透鏡；15-第三聚光透鏡。

具體實(shí)施方式

為了便于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員理解和實(shí)施本實(shí)用新型，下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施方式對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。

本實(shí)用新型提供的共聚焦顯微控制熒光儀，主要結(jié)構(gòu)如圖1所示，由激光發(fā)射器1、第一狹縫2、第一半反半透鏡3、濾光片4、第二半反半透鏡5、照相機(jī)6、顯微物鏡7、樣品臺8、狹縫9、第三狹縫10和光譜儀11構(gòu)成，按照激光光路的方向依次設(shè)置激光器1、第一狹縫2、第一半反半透鏡3、第二狹縫9、第三狹縫10和光譜儀11。激光發(fā)射器1和第一狹縫2之間設(shè)置有第一聚光透鏡12，第一狹縫2和第一半反半透鏡3之間設(shè)置有準(zhǔn)直透鏡13。第一半反半透鏡3和第二狹縫9之間設(shè)置有第三聚光透鏡14，第二狹縫9和第三狹縫10之間設(shè)置有第三聚光透鏡15。

按照激光光路方向還依次設(shè)置有激光器1、第一狹縫2、第一半反半透鏡3、顯微物鏡7和樣品臺8。按照激光光路方向還依次設(shè)置有激光器1、第一狹縫2、第一半反半透鏡3、濾光片4、第二半反半透鏡5和照相機(jī)6。

本實(shí)用新型提供的共聚焦顯微控制熒光儀，其工作原理為：激光器1出射激光經(jīng)由外部光路進(jìn)入顯微鏡7照射到樣品上，樣品受到激光的激發(fā)，產(chǎn)生光致發(fā)光，樣品發(fā)出的光由顯微鏡7的物鏡進(jìn)行收集，經(jīng)過顯微鏡7里的鏡片組(半反半透的透鏡)變成平行光，使得樣品所發(fā)熒光分為兩部分，一部分進(jìn)入照相機(jī)6進(jìn)行成像，一部分經(jīng)由透鏡聚焦后進(jìn)入光譜儀11。

通過對光致發(fā)光峰的分析我們可以得到：物質(zhì)的特征電子躍遷，粒子是否有表面缺陷發(fā)光，樣品的發(fā)光性能、能級結(jié)構(gòu)和表面狀態(tài)等信息。

以上所述之具體實(shí)施方式為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施方式，并非以此限定本實(shí)用新型的具體實(shí)施范圍，本實(shí)用新型的范圍包括并不限于本具體實(shí)施方式，凡依照本實(shí)用新型之形狀、結(jié)構(gòu)所作的等效變化均在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。