[實用新型]一種單晶晶體峰值測試儀

有效

• 申請號: 201520386316.9
• 申請日: 2015-06-08
• 公開（公告）號: CN204855418U
• 公開（公告）日: 2015-12-09
• 發明（設計）人: 甄偉;趙松彬;陳遠帆
• 申請（專利權）人: 丹東新東方晶體儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/207
• 分類號: G01N23/207
• 代理公司: 沈陽利泰專利商標代理有限公司 21209
• 代理人: 李樞

1.一種單晶晶體峰值測試儀，包括機架（1）、測角儀（13）和X射線發生器（10）；其特征在于：

所述的機架（1）的工作臺（15）上設置有X射線發生器（10），X射線發生器（10）側面安裝有至少一個X射線光閘（11）；每個X射線光閘（11）的外側均設有測角儀（13）、氣體負壓管（7）和閃爍探測器（5）；

測角儀（13）包括蝸桿（16）、蝸輪（17）、主軸軸承（18）、刻度盤（19）、主軸套筒（20）、主軸（23）、左軸承座（25）、主軸轉盤（26）、轉角指針（27）、右軸承座（28）和測試儀殼體（29）；

蝸桿（16）設置在測試儀殼體（29）內，蝸桿（16）一端固裝手輪（3），蝸桿（16）另一端連接有編碼器（24）的輸入軸；

蝸桿（16）由固裝在測試儀殼體（29）內的左軸承座（25）和右軸承座（28）支撐；

主軸套筒（20）裝設兩個主軸軸承（18）將主軸（23）支撐；

主軸套筒（20）固定在測試儀殼體（29）上；

主軸（23）底部固定有底盤（30），底盤（30）和蝸輪（17）固定連接；蝸桿（16）與蝸輪（17）嚙合；

刻度盤（19）固定在主軸套筒（20）上；

主軸轉盤（26）套設在主軸套筒（20）位于測試儀殼體（29）上端面外的凸緣（31）下方，主軸轉盤（26）上設有轉角指針（27）；

主軸（2）位于測試儀殼體（29）的上端面外固定有樣品臺（6）；

樣品臺（6）上設有氣體負壓管（7）；主軸轉盤（26）上連接有連接架（4），連接架（4）上設有閃爍探測器（5）；

峰值顯示盒（14）設置在測試儀殼體（29）表面。

2.根據權利要求1所述的一種單晶晶體峰值測試儀，其特征在于：

所述的X射線光閘（11）為兩個，分別位于X射線發生器（10）左右兩側。

3.根據權利要求1所述的一種單晶晶體峰值測試儀，其特征在于：

所述的氣體負壓管（7）為直徑DN10氣體負壓管。

4.根據權利要求1所述的一種單晶晶體峰值測試儀，其特征在于：

所述的主軸（23）位于測試儀殼體（29）外的上端面固定有主軸指針（21）。

5.根據權利要求1所述的一種單晶晶體峰值測試儀，其特征在于：

所述的閃爍探測器（5）為CH132型閃爍探測器。