[實(shí)用新型]一種測量高強(qiáng)度太赫茲時域光譜的裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201520383540.2
• 申請日: 2015-06-04
• 公開（公告）號: CN204807200U
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄭水欽;徐世祥;潘新建;蔡懿;曾選科;朱天龍
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳大學(xué)
• 主分類號: G01J3/45
• 分類號: G01J3/45
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 潘登;鄧猛烈

1.一種測量高強(qiáng)度太赫茲時域光譜的裝置，其特征在于，包括：

展寬器，用于將超短脈沖展寬為皮秒啁啾脈沖；并根據(jù)展寬器特性確定所述皮秒啁啾脈沖的脈沖頻率與時間的映射關(guān)系；

分束器，用于將啁啾脈沖分為探測脈沖和參考脈沖；

第一合束器，用于將太赫茲信號和所述探測脈沖進(jìn)行合束；

電光采樣晶體，用于將合束的太赫茲信號加載到所述探測脈沖中，進(jìn)行相位調(diào)制；

光學(xué)延時器，用于調(diào)整所述參考脈沖與探測脈沖的相對延時時間；

第二合束器，用于將所述探測脈沖和所述參考脈沖進(jìn)行合束，以形成合束光；

透鏡，用于將所述合束光進(jìn)行聚焦處理；

光譜儀，用于接收聚焦處理后的所述合束光，以形成干涉條紋，并獲取干涉條紋中的信號數(shù)據(jù)，其中，所述信號數(shù)據(jù)為有太赫茲信號時的干涉條紋數(shù)據(jù)；

處理器，用于確定參考數(shù)據(jù)和所述信號數(shù)據(jù)之間的相位差，其中，所述參考數(shù)據(jù)為沒有太赫茲信號時的干涉條紋數(shù)據(jù)；且用于根據(jù)所述相位差、所述太赫茲信號的相位與電場強(qiáng)度關(guān)系、以及所述啁啾脈沖的頻率與時間的映射關(guān)系，獲得所述太赫茲信號的時域光譜。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，還包括：

第一拋物面鏡，用于將合束的太赫茲信號和所述探測脈沖進(jìn)行聚焦處理；

第二拋物面鏡，用于將調(diào)制后的所述探測脈沖進(jìn)行準(zhǔn)直處理。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述處理器包括：

相位差確定模塊，具體用于按照如下公式確定所述參考數(shù)據(jù)和所述信號數(shù)據(jù)之間的相位差：

其中，ω為脈沖頻率，I(ω)為光譜儀測得的加載有太赫茲信號干涉條紋的光譜，I_ref(ω)為光譜儀測得的所述參考脈沖的光譜，I_pro(ω)為光譜儀測得的所述探測脈沖的光譜，β是干涉條紋對比度，τ是探測脈沖與參考脈沖之間的設(shè)定延時時間，φ_NL(ω)是所述電光采樣的晶體引入的非線性相位，φ_THz(ω)是太赫茲信號引入所述探測脈沖的相位。