[實(shí)用新型]一種屏蔽罩模具的帶料結(jié)構(gòu)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201520370416.2
• 申請日: 2015-06-02
• 公開（公告）號(hào): CN204707404U
• 公開（公告）日: 2015-10-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 喬振鳴;金金方;江榮強(qiáng);黃家萍;張衍明
• 申請（專利權(quán)）人: 艾柯豪博（蘇州）電子有限公司
• 主分類號(hào): H05K9/00
• 分類號(hào): H05K9/00
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 付春霞

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及屏蔽罩加工技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種屏蔽罩模具的帶料結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)

屏蔽罩部件主要應(yīng)用于手機(jī)，GPS等電子領(lǐng)域，是防止電磁干擾（EMI）、對PCB板上的元件及LCM起屏蔽作用。屏蔽罩的材料一般采用0.2mm厚的不銹鋼和洋白銅為材料，其中洋白銅是一種容易上錫的金屬屏蔽材料。為保證屏蔽罩的使用功能，需要保證其平面度小于0.10的要求。從而使檢測這一要求的方式變得尤為重要。

以往在制作屏蔽罩樣品過程中，傳統(tǒng)的帶料方式就是在同一邊進(jìn)行接刀，如圖1所示：屏蔽罩1具有兩個(gè)長邊12與兩個(gè)短邊11，相鄰兩個(gè)屏蔽罩的長邊之間利用廢料A2連接，廢料A2與屏蔽罩之間存在接刀點(diǎn)A3，通過廢料將屏蔽罩連接起來，便于生產(chǎn)線的連續(xù)生產(chǎn)，這種方式必然會(huì)存在四處接刀缺口，影響檢測的準(zhǔn)確性。

新型帶料方式接刀位置正好在折彎邊的拐角處，也就是相鄰兩邊垂直接刀，避免了同一條邊過切及接刀缺口的存在。從而避免了量測時(shí)可能出現(xiàn)的量測誤差，保證了產(chǎn)品的質(zhì)量。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型主要解決的技術(shù)問題是提供一種屏蔽罩模具的帶料結(jié)構(gòu)，能夠避免屏蔽罩同一條邊過切及接刀缺口的存在，從而避免了量測時(shí)可能出現(xiàn)的量測誤差，保證了產(chǎn)品的質(zhì)量。

為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種屏蔽罩模具的帶料結(jié)構(gòu)，包括：產(chǎn)品和廢料B，所述產(chǎn)品具有兩條長邊與兩條短邊，所述廢料B設(shè)置于所述兩條短邊的外側(cè)，所述廢料B的形狀與產(chǎn)品兩條短邊的形狀相匹配，所述廢料B與產(chǎn)品的拐角處之間形成有接刀點(diǎn)B。

優(yōu)選的，所述廢料B與兩條短邊之間設(shè)置有廢料區(qū)，原材料在沖壓時(shí)需要沖掉廢料區(qū)，留下廢料B與接刀點(diǎn)B，便于實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的連續(xù)生產(chǎn)。

本實(shí)用新型的有益效果是：將帶料結(jié)構(gòu)的接刀點(diǎn)設(shè)置在產(chǎn)品折彎邊的拐角處，也就是相鄰兩邊垂直接刀，避免了同一條邊過切及接刀缺口的存在，從而避免了量測時(shí)可能出現(xiàn)的量測誤差，保證了產(chǎn)品的質(zhì)量。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)中屏蔽罩帶料結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型一種屏蔽罩模具的帶料結(jié)構(gòu)一較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是所示屏蔽罩平面度檢測的原理示意圖；

附圖中各部件的標(biāo)記如下：1、產(chǎn)品，11、短邊，12、長邊，2、廢料A，3接刀點(diǎn)A，4、廢料B，5、接刀點(diǎn)B，6、檢測光源，7、檢測光束，8、廢料區(qū)。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對本實(shí)用新型的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。

請參閱圖2，本實(shí)用新型實(shí)施例包括：

一種屏蔽罩模具的帶料結(jié)構(gòu)，包括：產(chǎn)品1和廢料B4，所述產(chǎn)品1具有兩條長邊12與兩條短邊11，所述廢料B4設(shè)置于所述兩條短邊11的外側(cè)，所述廢料B4的形狀與產(chǎn)品兩條短邊11的形狀相匹配，所述廢料B4與產(chǎn)品1的拐角處之間形成有接刀點(diǎn)B5，也就是相鄰兩邊垂直接刀，避免了同一條邊過切及接刀缺口的存在，從而避免了量測時(shí)可能出現(xiàn)的量測誤差，保證了產(chǎn)品的質(zhì)量。

如圖3所示，將屏蔽罩朝下平放于水平大理石面上，利用檢測光源6發(fā)出檢測光束7，以漏光程度作為判定標(biāo)準(zhǔn)。本實(shí)用新型避免了同一條邊過切及接刀缺口的存在，不影響檢測效率，并可大幅提高及保證屏蔽罩的質(zhì)量。

以上所述僅為本實(shí)用新型的實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。