[實用新型]一種集電環測試分選排列控制系統

有效

• 申請號: 201520369617.0
• 申請日: 2015-06-02
• 公開（公告）號: CN204685521U
• 公開（公告）日: 2015-10-07
• 發明（設計）人: 金天;鄒新富;倪錦喜;曹偉寨;金陽
• 申請（專利權）人: 金華市華強電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/38
• 代理公司: 杭州斯可睿專利事務所有限公司 33241
• 代理人: 金根葉

1.一種集電環測試分選排列控制系統，其特征是在于它包括：

一視覺檢測電路：用于測試被測集電環的外觀是否符合要求；

一耐壓檢測電路：用于測試集電環的耐壓，即進行集電環的環與環、環與外殼耐壓測試，測出結果與設定合格的數值進行比較，判斷其是否合格；

一壓降檢測電路：集電環的壓降測試，測試結果與設定合格的壓降數值進行比較，判斷其是否合格；

一激光打標控制電路：用于對測試合格的集電環進行激光打標操作控制；

一伺服搬運排列控制電路：對于打標合格后的產品，進行排列搬運控制，對于不合格的集電環，移至不合格區域控制；

一分割器驅動電路：對集電環進行測試工位驅動控制，每次轉45度角；

一微處理器或PLC：對上述分割器驅動電路、視覺檢測電路、耐壓檢測電路、壓降檢測電路、激光打標控制電路、伺服搬運排列控制電路進行數據采集、分析、計算、處理，是軟件控制的核心部分；

一上位機，其通過第一通訊模塊與微處理器連接，用于對微處理器的參數進行界面顯示、設置和查看；

一電源電路，用于為上述各模塊提供所需的直流電。

2.根據權利要求1所述的一種集電環測試分選排列控制系統，其特征在于它按如下線路連接：微處理器或PLC分別與視覺檢測電路、耐壓檢測電路、壓降檢測電路、激光打標控制電路、伺服搬運排列控制電路、分割器驅動電路、第一通訊模塊、電源電路連接，第一通訊模塊與上位機連接。

3.根據權利要求1或2所述的一種集電環測試分選排列控制系統，其特征在于，一分割器驅動電路：對集電環進行測試工位驅動控制，每次轉45度角。

4.根據權利要求1或2所述的一種集電環測試分選排列控制系統，其特征在于，第一通訊模塊是RS422通訊模塊。

5.根據權利要求3所述的一種集電環測試分選排列控制系統，其特征在于，第一通訊模塊是RS422通訊模塊。