[實(shí)用新型]一種照明產(chǎn)品頻閃測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201520357026.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-05-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN204789955U | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-11-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉磊;黃孫港;吳福喜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海時(shí)代之光照明電器檢測(cè)有限公司;國(guó)家燈具質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心;國(guó)家電光源質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(上海) |
| 主分類號(hào): | G01R31/44 | 分類號(hào): | G01R31/44 |
| 代理公司: | 上海世貿(mào)專利代理有限責(zé)任公司 31128 | 代理人: | 葉克英 |
| 地址: | 201108 上海市閔*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 照明 產(chǎn)品 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及照明產(chǎn)品測(cè)試,特別是一種照明產(chǎn)品頻閃測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
由于我國(guó)采用交流電及某些照明產(chǎn)品的特性,我們?nèi)粘I钪兴龅降恼彰髟O(shè)備都存在一定的頻閃,即使直流驅(qū)動(dòng)的第三代光源發(fā)光二極管由于某些電子鎮(zhèn)流器的不穩(wěn)定性也存在不同程度的頻閃。頻閃,我們?nèi)搜垭m無(wú)法察覺(jué),但身處頻閃的照明環(huán)境下容易造成人的精神疲勞,尤其是需要長(zhǎng)時(shí)間閱讀的照明環(huán)境,如果頻閃,對(duì)視力會(huì)有損害,而且容易患中風(fēng)等疾病。
照明類產(chǎn)品的頻閃頻率相比人眼的反應(yīng)速率要快,所以人們無(wú)法直接用肉眼判斷該產(chǎn)品是否存在頻閃,頻閃頻率幾何以及波動(dòng)深度多少。目前常規(guī)測(cè)量照明頻閃的方法主要是光學(xué)法,但是這種方法響應(yīng)速度比較慢,測(cè)試不準(zhǔn)確,測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格昂貴。現(xiàn)有人提出電學(xué)方法,如中國(guó)實(shí)用新型專利(專利號(hào):201120536875.5)公開(kāi)的“電光源頻閃檢測(cè)裝置”。該電光源頻閃測(cè)試裝置參見(jiàn)附圖1所示,其工作原理為光電傳感器1感受到點(diǎn)光源的可見(jiàn)光信號(hào),并將可見(jiàn)光信號(hào)轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的電信號(hào)發(fā)送到放大器2,放大器2將該電信號(hào)放大后發(fā)送到帶通濾波器3,帶通濾波器3提取電信號(hào)中波動(dòng)的部分,并且減低電信號(hào)中的干擾噪音部分,經(jīng)帶通濾波器3處理后的電信號(hào)發(fā)送到比較器4,比較器4將此電信號(hào)與參考電平器6給出的電平值相比較,如果電信號(hào)高于參考電平值,則顯示器顯示有頻閃,如果電信號(hào)始終地獄參考電平值,則顯示器顯示無(wú)頻閃。上述提及的不失為判斷照明產(chǎn)品有無(wú)頻閃的一種方法,但是該頻閃檢測(cè)裝置沒(méi)有排除環(huán)境中其他電光源的干擾,上述光電傳感器1會(huì)接收到非被測(cè)照明產(chǎn)品的光信號(hào),即,檢測(cè)結(jié)果容易出現(xiàn)偏差。
中國(guó)實(shí)用新型專利(專利號(hào):201120536875.5)公開(kāi)的“電光源頻閃檢測(cè)裝置”以引文的形式并入本說(shuō)明書(shū)中。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是解決其他光源對(duì)被測(cè)照明產(chǎn)品干擾的問(wèn)題,提供一種新型的照明產(chǎn)品頻閃測(cè)試系統(tǒng)。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種照明產(chǎn)品頻閃測(cè)試系統(tǒng),包含,
一暗室,其內(nèi)有一容置空間;
一被測(cè)照明產(chǎn)品,其位于所述暗室內(nèi);以及,
一光電檢測(cè)裝置,其位于所述暗室內(nèi),所述光電檢測(cè)裝置與所述被測(cè)照明產(chǎn)品相對(duì)應(yīng)。
作為一種照明產(chǎn)品頻閃測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)選方案,所述光電檢測(cè)裝置具有一光電傳感器,所述光電傳感器為一硅光二極管。
作為一種照明產(chǎn)品頻閃測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)選方案,所述暗室內(nèi)具有一用以固定所述被測(cè)照明產(chǎn)品的第一安裝座及一用以固定所述光電檢測(cè)裝置的第二安裝座。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)至少包含下述:引入不透光的暗室設(shè)計(jì),可在測(cè)試過(guò)程中排除其它照明設(shè)備的光信號(hào)加載到光電檢測(cè)裝置上,確保光電檢測(cè)裝置所采集的數(shù)據(jù)正確,提高測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試精度;采用硅光二極管作為光電傳感器,利用其相應(yīng)頻率快的特點(diǎn),可保證光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)過(guò)程的線性。
附圖說(shuō)明
圖1是現(xiàn)有技術(shù)的結(jié)構(gòu)原理圖。
圖2是本實(shí)用新型中一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是本實(shí)用新型中另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作詳細(xì)說(shuō)明。
實(shí)施例1:
請(qǐng)參見(jiàn)圖2,圖中所示的是一種照明產(chǎn)品頻閃測(cè)試系統(tǒng),主要由一暗室1、一被測(cè)照明產(chǎn)品2、一光電檢測(cè)裝置3、一數(shù)據(jù)采集裝置4及一計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)5組成。
所述暗室1系不透光。所述暗室1內(nèi)有一容置空間。所述暗室1內(nèi)具有一用以固定所述被測(cè)照明產(chǎn)品2的第一安裝座及一用以固定所述光電檢測(cè)裝置3的第二安裝座。
所述光電檢測(cè)裝置為現(xiàn)有技術(shù),如背景技術(shù)中提到的實(shí)用專利(專利號(hào):201120536875.5)。所述光電檢測(cè)裝置具有一光電傳感器,所述光電傳感器為一硅光二極管,利用其相應(yīng)頻率快的特點(diǎn),可保證光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)過(guò)程的線性。
所述被測(cè)照明產(chǎn)品2位于所述暗室1內(nèi)。所述被測(cè)照明產(chǎn)品2放置于所述第一安裝座上。優(yōu)選地,以可拆卸的方式設(shè)置。
所述光電檢測(cè)裝置3位于所述暗室1內(nèi)。所述光電檢測(cè)裝置3放置于所述第二安裝座上。優(yōu)選地,以可拆卸的方式設(shè)置。優(yōu)選地,所述第二安裝座為可調(diào)節(jié)式。所述光電檢測(cè)裝置3與所述被測(cè)照明產(chǎn)品2相對(duì)應(yīng)。
測(cè)試時(shí),其他照明設(shè)備的光信號(hào)不會(huì)加載到光電檢測(cè)裝置上,保證測(cè)試精確。
實(shí)施例2:
請(qǐng)參見(jiàn)圖3,一種照明產(chǎn)品頻閃測(cè)試系統(tǒng),主要由一暗室1、一被測(cè)照明產(chǎn)品2、一光電檢測(cè)裝置3及一示波器4組成。
以上僅表達(dá)了本實(shí)用新型的實(shí)施方式,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對(duì)實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此,本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海時(shí)代之光照明電器檢測(cè)有限公司;國(guó)家燈具質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心;國(guó)家電光源質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(上海),未經(jīng)上海時(shí)代之光照明電器檢測(cè)有限公司;國(guó)家燈具質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心;國(guó)家電光源質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(上海)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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