[實用新型]用于測試射頻GSG結構的探針卡有效
| 申請號: | 201520334345.0 | 申請日: | 2015-05-21 |
| 公開(公告)號: | CN204758648U | 公開(公告)日: | 2015-11-11 |
| 發明(設計)人: | 孟璇璇;張峻豪;張鴻軍 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時云 |
| 地址: | 100176 北京市大興區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 測試 射頻 gsg 結構 探針 | ||
技術領域
本實用新型涉及電子檢測設備領域,特別涉及一種用于測試射頻GSG結構的探針卡。
背景技術
射頻地-信號-地(Ground-Signal-Ground,GSG)結構,常用于對被測器件DUT(DeviceUnderTest)進行射頻RF(RadioFrequency)和微波特征的端口參數測量,以便獲取被測器件RF性能的相關參數。
如圖1所示,典型的射頻GSG結構包括焊墊矩陣和被測器件DUT,其中,所述焊墊矩陣包括六個焊墊,這六個焊墊組成兩行,第一行的漏極焊墊D被設置在源極焊墊S和凸塊焊墊B之間,第二行的柵極焊墊G被設置在源極焊墊S和凸塊焊墊B之間,而兩行的源極焊墊S和凸塊焊墊B相互連接在一起并設置為接地點。所述被測器件DUT被設置在漏極焊墊D和柵極焊墊G之間,而所述柵極焊墊G、漏極焊墊D、兩個源極焊墊S分別與被測器件DUT的柵極、漏極、源極連接,從而被測器件DUT的相關參數可以從射頻GSG結構的測試參數中提取。
如圖2和圖3所示,所述射頻GSG結構的測試參數通常是用探針卡100進行測試,具體的,所述探針卡100包括電路板110、探針模組120和連接線130,所述探針模組120包括六根探針,所述六根探針分別為探針121至探針126,使用時,每根探針的一端電連接射頻GSG結構中的焊墊,而另一端通過連接線130與電路板110電連接,由此,通過這六根探針將所述焊墊上的測試信號傳輸至電路板110并進一步分析。
通常的,在使用探針卡100進行測試時,所述射頻GSG結構輸入端的柵極上會施加一個偏置電壓,以控制其輸出端的漏極上的電流,同時經過測試,可以取得一系列柵極上偏置電壓對漏極上電流的測試數據,并通過擬合測試數據得到如圖4所示的電流-電壓(Current-Voltage)特性曲線,簡稱IV特性曲線,其中,橫坐標V代表電壓,縱坐標I代表電流,進而通過分析IV特性曲線獲取被測器件DUT的RF性能。然而,實際測試時,所述測試數據經常顯示異常,具體如圖5所示,其中,曲線1、2分別代表的是兩個不同被測器件DUT的IV特性曲線,所述兩條曲線1、2均不是一條光滑的曲線而是出現了波動(如圖中實線圈所示出現拐點a、b)。
針對上述問題,發明人發現,一方面因為探針卡100通過在電路板110中布置地線來接地,但由于地線布局的不合理而引起了測試信號干擾,故而探針卡100的接地效果不佳,另一方面因為探針卡100沒有采取適當的措施來屏蔽電磁干擾(ElectromagneticInterference,簡稱EMI),使得當被測器件DUT的測量電流增大時,隨電流增強的EMI加大了對測試信號的干擾影響,因此,探針卡100的抗EMI能力較差。上述兩方面導致了IV特性曲線出現波動問題,降低了測試結果的可靠性。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種用于測試射頻GSG結構的探針卡,以解決探針卡因測試信號受到干擾而造成的IV特性曲線波動問題,提高測試結果的可靠性。
為解決上述技術問題,本實用新型提供了一種用于測試射頻GSG結構的探針卡,包括電路板、探針模組和連接線,所述探針模組和所述連接線設置于所述電路板上,所述探針模組與所述射頻GSG結構電連接,同時所述探針模組通過所述連接線與所述電路板電連接,以將所述射頻GSG結構的測試信號傳輸至所述電路板,其特征在于,還包括設置于所述射頻GSG結構的測試信號的傳輸通道上的EMI濾波裝置
可選的,在所述的用于測試射頻GSG結構的探針卡中,所述射頻GSG結構包括焊墊和凸塊,所述EMI濾波裝置設置于所述焊墊和/或凸塊的測試信號的傳輸通道上。
可選的,在所述的用于測試射頻GSG結構的探針卡中,所述探針模組包括六根探針,所述射頻GSG結構的焊墊包括一個柵極焊墊、一個漏極焊墊和兩個源極焊墊,所述兩個源極焊墊相互電連接,所述凸塊的數量為兩個并相互電連接,所述兩個源極焊墊和所述兩個凸塊相互電連接并設置為接地點,所述一個柵極焊墊、所述一個漏極焊墊、所述兩個源極焊墊和所述兩個凸塊分別與一根探針電連接。
可選的,在所述的用于測試射頻GSG結構的探針卡中,與所述一個柵極焊墊連接的連接線上設置有至少一個所述EMI濾波裝置。
可選的,在所述的用于測試射頻GSG結構的探針卡中,與所述一個漏極焊墊、所述兩個源極焊墊和/或所述兩個凸塊連接的連接線上設置有至少一個所述EMI濾波裝置。
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