[實(shí)用新型]一種測試探頭及帶有該測試探頭的測試治具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201520320619.0
• 申請日: 2015-05-18
• 公開（公告）號(hào): CN204758647U
• 公開（公告）日: 2015-11-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 柏成文
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市泰斯電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/073
• 分類號(hào): G01R1/073;G01R31/28;G01R31/36
• 代理公司: 深圳市精英專利事務(wù)所 44242
• 代理人: 馮筠

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電子產(chǎn)品測試裝置，尤其涉及一種測試探頭及帶有該測試探頭的測試治具。

背景技術(shù)

測試探頭是用于對(duì)電池、PCB板等部品進(jìn)行測試時(shí)的彈性連接裝置，其使用時(shí)，通過驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)測試探頭前后移動(dòng)，使得測試探頭的觸頭能夠與電池、PCB板等部品的觸點(diǎn)接觸，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)電性連接。請參見公開號(hào)為CN104330593A、名稱為“測試針頭和半導(dǎo)體測試治具”的實(shí)用新型專利申請的說明書及附圖，其中，多個(gè)測試針頭并行固定在測試治具的基底上，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)與待測部品的電性連接，但是這種測試針頭及測試治具存在以下缺陷：

1、測試針頭的數(shù)量以及多個(gè)測試針頭之間的距離是固定不變的，由于測試針頭的數(shù)量和間距無法調(diào)節(jié)，所以其僅適用于連接待測部品上指定數(shù)量和指定間距的觸點(diǎn)，不具有可調(diào)性和通用性；

2、現(xiàn)有測試針頭大多是銅材質(zhì)，易氧化且耐磨性差，導(dǎo)致測試針頭的使用壽命較短；

3、為保證相鄰兩個(gè)測試針頭間的距離足夠小，通常將測試針頭制成較小尺寸，因而容易造成彈性不足、虛接等不良影響。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種能靈活調(diào)整測試針數(shù)量、間距的測試探頭及帶有該測試探頭的測試治具。

為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案。

一種測試探頭，其包括有一支架及一測試針，所述測試針穿設(shè)于支架，且該測試針能夠相對(duì)所述支架而往復(fù)彈性滑動(dòng)，所述支架上設(shè)有用于將該支架安裝于測試治具預(yù)設(shè)位置的緊固機(jī)構(gòu)。

優(yōu)選地，所述緊固機(jī)構(gòu)包括有形成于支架上的螺孔及與該螺孔相配合的螺絲，所述螺絲穿過測試治具的預(yù)設(shè)位置而螺合于所述螺孔。

優(yōu)選地，所述支架是由兩個(gè)支臂及一橫梁構(gòu)成的倒U形支架，所述測試針依次穿過兩個(gè)支臂，且該測試針能夠相對(duì)兩個(gè)支臂而往復(fù)彈性滑動(dòng)。

優(yōu)選地，所述測試針的前端形成有一觸頭，所述觸頭呈圓柱形。

優(yōu)選地，所述測試針位于兩個(gè)支臂之間的部分形成有一限位塊，所述測試針位于兩個(gè)支臂之間的部分還套設(shè)有一彈簧，所述彈簧靠近觸頭的一端抵接于限位塊，所述彈簧遠(yuǎn)離觸頭的一端抵接于支臂。

優(yōu)選地，所述測試針為錫青銅測試針，且該測試針的表面設(shè)有24K金電鍍層，所述觸頭為S990銀材質(zhì)觸頭。

一種測試治具，其包括有至少兩個(gè)測試探頭以及一用于驅(qū)動(dòng)所述測試探頭沿測試針的軸向往復(fù)移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)。

優(yōu)選地，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括有氣缸及設(shè)于氣缸驅(qū)動(dòng)端的滑塊，所述滑塊上開設(shè)有條形孔，所述螺絲穿過條形孔而對(duì)應(yīng)螺合于支架的螺孔內(nèi)。

優(yōu)選地，所述測試探頭的數(shù)量是三個(gè)，靠近邊緣的兩個(gè)測試針的前端相對(duì)彎折而分別形成有彎折部，靠近邊緣的兩個(gè)觸頭分設(shè)于兩個(gè)彎折部上，三個(gè)觸頭并行設(shè)置且相鄰兩個(gè)觸頭之間形成有預(yù)設(shè)距離。

優(yōu)選地，所述測試探頭的數(shù)量是四個(gè)，靠近邊緣的兩個(gè)測試針的前端相對(duì)彎折而分別形成有彎折部，靠近邊緣的兩個(gè)觸頭分設(shè)于兩個(gè)彎折部上，四個(gè)觸頭并行設(shè)置且相鄰兩個(gè)觸頭之間形成有預(yù)設(shè)距離。

本實(shí)用新型公開的測試探頭中，支架通過緊固機(jī)構(gòu)安裝于測試治具的預(yù)設(shè)位置，用戶在使用時(shí)，可以根據(jù)需求靈活調(diào)整測試針的數(shù)量和間距，進(jìn)而適用于與多種型號(hào)的電池、PCB板等部品相連，例如在實(shí)際應(yīng)用中，可以將三個(gè)測試探頭并行固定于測試治具上，進(jìn)而連接于具有三個(gè)觸點(diǎn)的電池，此外，可以將四個(gè)測試探頭并行固定于測試治具上，進(jìn)而連接于具有四個(gè)觸點(diǎn)的電池。結(jié)合以上所述可以看出，本實(shí)用新型公開的測試探頭，其在緊固機(jī)構(gòu)的作用下，能使測試針的數(shù)量和間距得以調(diào)節(jié)，具有較好的可調(diào)性和通用性。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型測試探頭的立體圖。

圖2為本實(shí)用新型測試治具的立體圖。

圖3為圖2中A部分的放大圖。

圖4為本實(shí)用新型第一實(shí)施例中測試治具的三個(gè)測試探頭的立體圖。

圖5為本實(shí)用新型第二實(shí)施例中測試治具的四個(gè)測試探頭的立體圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作更加詳細(xì)的描述。

本實(shí)用新型公開了一種測試探頭，結(jié)合圖1至圖3所示，其包括有一支架10及一測試針11，所述測試針11穿設(shè)于支架10，且該測試針11能夠相對(duì)所述支架10而往復(fù)彈性滑動(dòng)，所述支架10上設(shè)有用于將該支架10安裝于測試治具預(yù)設(shè)位置的緊固機(jī)構(gòu)。