[實(shí)用新型]一種傳感器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520320449.6 | 申請日: | 2015-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN204809211U | 公開(公告)日: | 2015-11-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡家安 | 申請(專利權(quán))人: | 成都艾德沃傳感技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/488 | 分類號: | H01L23/488 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 610041 四川省成都*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 傳感器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種傳感器。
背景技術(shù)
隨著終端產(chǎn)品的智能化程度不斷提高,各種傳感器芯片層出不窮,傳感芯片擴(kuò)展了通信等產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域,例如,指紋識別芯片應(yīng)用到智能手機(jī)、打卡機(jī)、門鎖等領(lǐng)域,這樣就對傳感芯片的可靠性提出了巨大的要求。
對于芯片面積很大,焊盤過于集中的芯片,其最大的特征在于芯片信號線的走線,以及如何減少信號線之間的影響。在芯片封裝過程中傳感芯片本身的刻蝕形成臺階、減薄、金屬布線、打孔等操作容易影響芯片精度,或者產(chǎn)生微裂紋、芯片受熱過后熱脹冷縮受力不均過后凹凸不平等缺陷使得產(chǎn)品的可靠性下降,減小了芯片的良率。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種傳感器,用以解決現(xiàn)有技術(shù)傳感芯片檢測的可靠性較低的問題。
其具體的技術(shù)方案如下:
一種傳感器,所述傳感器包括:面板、焊盤、虛設(shè)焊盤、傳感芯片、傳感芯片結(jié)構(gòu)部分,其中,
所述面板上開設(shè)通孔,所述通孔中填充導(dǎo)電材料;
所述傳感芯片設(shè)置所述面板內(nèi),所述傳感芯片用于采集信號;
所述傳感芯片結(jié)構(gòu)部分設(shè)置于所述面板內(nèi),并位于所述傳感芯片的上方;
所述焊盤設(shè)置于所述通孔內(nèi),并通過導(dǎo)線與所述傳感芯片連接,所述焊盤用于傳輸信號;
所述虛設(shè)焊盤設(shè)置于另一通孔內(nèi)。
可選的,所述面板為樹脂材料或者塑料或者硅片。
可選的,所述通孔的直徑為5um-100um之間的任一直徑。
可選的,所述導(dǎo)電材料為銅或者鋁或者鎳或者合金或者其他導(dǎo)電材料。
可選的,所述焊盤與所述虛設(shè)焊盤的尺寸一致,并且所述焊盤設(shè)置在所述面板的一端,所述虛設(shè)焊盤設(shè)置在所述面板的另一端。
可選的,所述焊盤以及所述虛設(shè)焊盤為銅或者鋁或者鎳或者其他導(dǎo)電材料。
可選的,所述傳感器還包括:
焊球,貼附于所述面板的背面,所述焊球與所述通孔中的導(dǎo)電材料接觸連接。
在本實(shí)用新型提供了一種傳感器,該傳感器包括:面板、焊盤、虛設(shè)焊盤、傳感芯片、傳感芯片結(jié)構(gòu)部分,面板上開設(shè)通孔,通孔中填充導(dǎo)電材料,傳感芯片設(shè)置在面板內(nèi),傳感芯片用于采集信號,傳感芯片結(jié)構(gòu)部分設(shè)置于面板內(nèi),并位于傳感芯片的上方,焊盤設(shè)置于通孔內(nèi),并通過導(dǎo)線與傳感芯片連接,虛設(shè)焊盤設(shè)置于另一通孔內(nèi)。由于焊盤設(shè)置在填充了導(dǎo)電材料的通孔中,通過通孔中填充的導(dǎo)電材料可以將焊盤從面板中引出,這樣可以避免在面板的上表面進(jìn)行布線,而是在面板的內(nèi)形成布線,通過通孔中的導(dǎo)電材料將傳感芯片上引出到面板的下表面,從而避免在面板的上表面進(jìn)行信號線的布線,避免了對傳感器本身進(jìn)行刻蝕臺階等操作,這樣就可以保證傳感器的可靠性以及良率。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中一種傳感器的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中一種傳感器的另一種結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例中一種傳感器的制備方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中傳感器中的傳感芯片和焊盤位于同一表面,若采用焊線方式將芯片焊盤引出,焊線高度不可避免會抬升感應(yīng)區(qū)域與封裝體外界的距離,從而導(dǎo)致傳感芯片檢測的可靠性較低的問題,本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種傳感器,該傳感器包括面板、焊盤、虛設(shè)焊盤、傳感芯片、傳感芯片結(jié)構(gòu)部分,面板上開設(shè)通孔,在該通孔中填充了導(dǎo)電材料,傳感芯片設(shè)置在面板內(nèi),傳感芯片用于采集信號,傳感芯片結(jié)構(gòu)部分設(shè)置于面板內(nèi),并位于傳感芯片的上方,焊盤設(shè)置于通孔內(nèi),通孔設(shè)置在面板內(nèi)的導(dǎo)線與傳感芯片連接,虛設(shè)焊盤設(shè)置于另一通孔內(nèi),也就是說,在本實(shí)用新型實(shí)施例中有效的避免了使用焊線方式將芯片焊盤引出的方式,從而降低了感應(yīng)區(qū)域與封裝體外界的距離,進(jìn)而使得傳感芯片的檢測可靠性得到提升。
下面通過附圖以及具體實(shí)施例對本實(shí)用新型技術(shù)方案做詳細(xì)的說明,應(yīng)當(dāng)理解本實(shí)用新型實(shí)施例以及實(shí)施例中的具體技術(shù)特征只是對本實(shí)用新型技術(shù)方案的說明,而不是限定,在不沖突的情況下,本實(shí)用新型實(shí)施例以及實(shí)施例中的具體技術(shù)特征可以相互組合。
如圖1所示為本實(shí)用新型實(shí)施例中一種傳感器的結(jié)構(gòu)示意圖,該傳感器包括:面板101、傳感芯片102、傳感芯片結(jié)構(gòu)部分103、焊盤104、虛設(shè)焊盤105,其中,
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