[實用新型]一種測量同軸度的裝置

有效

• 申請號: 201520253850.2
• 申請日: 2015-04-24
• 公開（公告）號: CN204594429U
• 公開（公告）日: 2015-08-26
• 發明（設計）人: 張曉;李時威;胡振民;朱宏斌;王靜
• 申請（專利權）人: 西安北方光電科技防務有限公司
• 主分類號: G01B11/27
• 分類號: G01B11/27
• 代理公司: 西安吉盛專利代理有限責任公司 61108
• 代理人: 張恒陽

1.一種測量同軸度的裝置，其特征在于，包括光源（1），及置于光源（1）出射面上的分光棱鏡一（2），在分光棱鏡一（2）下方依次設置有透鏡一（3）、透鏡二（4）、分光棱鏡二(5)，分光棱鏡二(5)下方設置有一被檢測軸一(6)，分光棱鏡二（5）左側設置有一45°角放置的平面反射鏡(7)，平面反射鏡(7)下方設置有一被檢測軸二(8)；在分光棱鏡一(2)上方設置有CCD探測器(9)，所述CCD探測器與處理器(10)?電連接，處理器電連接計算機（11）。

2.根據權利要求1所述的一種測量同軸度的裝置，其特征在于，所述光源（1）為半導體激光器點光源。

3.根據權利要求1所述的一種測量同軸度的裝置，其特征在于，所述透鏡一（3）與透鏡二（4）為凸透鏡。

4.根據權利要求1所述的一種測量同軸度的裝置，其特征在于，所述分光棱鏡一（2）與分光棱鏡二（5）為偏振分光棱鏡。