[實用新型]一種電磁參數測試樣品厚度修整裝置

有效

• 申請號: 201520243530.9
• 申請日: 2015-04-21
• 公開（公告）號: CN204594768U
• 公開（公告）日: 2015-08-26
• 發明（設計）人: 張雨;林帥;冀克儉;荀其寧;劉運峰;張軍英;姜維維;劉霞;張符;滕巖;李承榮
• 申請（專利權）人: 中國兵器工業集團第五三研究所
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 苗峻

技術領域

本實用新型屬于微波性能測試技術領域，特別涉及微波電磁參數測試技術領域。

背景技術

材料的電磁參數是用于描述材料電磁特性的特征參數，表征材料與電磁場的相互作用。測量材料電磁參數的方法有很多，主要分為傳輸反射法和諧振腔法。根據所用夾具的不同，又分為同軸法、波導法、自由空間法和開口同軸探頭法等；目前應用較廣的測試裝置是7mm同軸空氣線，測試前需要制備形態為內徑3.04mm、外徑7mm的圓筒或圓環形樣品。

在測試時，微波在λ/4ε處會發生諧振，這會使得測試曲線發生嚴重失真。為了避免此種曲線波動，一般采取改變樣品厚度的方法來避免產生波動。同時，樣品的厚度對電磁參數測試結果有一定的影響，實際應用中常需要制備一批厚度相同的樣品以便對測試結果進行比對。但在實際操作中，用刀切割容易弄碎樣品，用砂紙打磨耗時較長，又不易保證兩端面平整、平行，通過砂紙打磨，不容易控制樣品的厚度，無法得到特定厚度的樣品。

發明內容

本實用新型的目的在于控制電磁參數測試樣品的厚度，確保樣品兩端面平整、平行，提供一種可精確控制厚度的樣品修整裝置。

本實用新型的目的是這樣實現的，利用螺旋測微技術，精確控制電磁參數樣品的位置和高度，實現電磁參數樣品厚度的控制。

本實用新型所涉及的電磁參數測試樣品修整裝置，其特征在于：由夾具1、螺旋測器、平臺3組成，夾具1與平臺3為固定為一體的一對具有同心圓孔的空心筒組合體，圓心與組合體上表面垂直；螺旋測微器調節頭2的外套固定于平臺3的內徑；螺旋測微器調節頭2的頂端面與組合體上表面平行；螺旋測微器調節頭2刻度為0時，其頂端與夾具1的上表面處于同一平面。結構如附圖1所示。

本實用新型所涉及的電磁參數測試樣品長度修整裝置，其特征在于：夾具1的高度為10mm～20mm，內徑為Φ(7～10)mm。

本實用新型所涉及的電磁參數測試樣品長度修整裝置，其特征在于：螺旋測微器調節頭的頂端直徑為Φ(4～7)mm。

本實用新型所涉及的電磁參數測試樣品長度修整裝置，其特征在于：螺旋測微器的分度為0.01mm。

本實用新型所涉及的電磁參數測試樣品長度修整裝置，其特征在于：螺旋測微器的量程為50mm。

本實用新型所涉及的電磁參數測試樣品長度修整裝置，其特征在于：平臺3的內徑為Φ(4～7)mm，高度為10mm～20mm。

本實用新型所涉及的電磁參數測試樣品修整裝置，適用于同軸電磁參數試樣的厚度修整，操作方便，可以快速制得特定厚度的電磁參數樣品，所制得的樣品兩端面平整、平行，操作過程不會對樣品造成破壞。

附圖說明

附圖1一種電磁參數測試樣品厚度修整裝置示意圖

其中：1-夾具；2-螺旋測微調節頭；3-平臺；4-電磁參數測試樣品。

具體實施方式

下面結合附圖1對本實用新型涉及的電磁參數測試樣品厚度修整工具作進一步詳細說明，但不作為對本實用新型涉及技術方案的限制。任何一種可以實現本實用新型目的技術方案均構成本實用新型的一部分。

實施例一

一種電磁參數測試樣品厚度修整工具，由夾具1、螺旋測微器、平臺3組成，夾具1、螺旋測微器調節頭2、平臺3為鋼質。夾具1為同心圓環，內徑為Φ7mm，高度為10mm。夾具1與平臺3通過螺紋固定，平臺3的內徑中固定有螺旋測微器調節頭2，螺旋測微器調節頭2頂端的直徑為Φ6.8mm。平臺3內徑為Φ6.9mm，高度為20mm。

通過螺旋測微調節頭2可以控制電磁參數樣品4在夾具1中的長度。

將電磁參數測試樣品4放入夾具1中，調節螺旋測微調節頭2至8.00mm，此時電磁參數測試樣品4在夾具1內的長度為8mm，將露出夾具的部分使用細砂紙打磨掉。螺旋測微調節頭2歸零，便可將電磁參數測試樣品頂出，即得到長度為8mm的電磁參數測試樣品。