[實(shí)用新型]快速切換半導(dǎo)體器件老化和測(cè)試狀態(tài)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201520231750.X | 申請(qǐng)日: | 2015-04-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN204855728U | 公開(公告)日: | 2015-12-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 呂賢亮;高立 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 工業(yè)和信息化部電子第四研究院 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京思海天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
| 地址: | 100176 北京市大*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 快速 切換 半導(dǎo)體器件 老化 測(cè)試 狀態(tài) 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種采用電子電路控制能夠快速關(guān)斷半導(dǎo)體器件在老化過程中的工作電流的裝置,屬于半導(dǎo)體器件老化測(cè)試的專用設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
廠家通常需要對(duì)生產(chǎn)出來的半導(dǎo)體器件進(jìn)行老化試驗(yàn),以便得到半導(dǎo)體器件的老化參數(shù)。在廠家對(duì)生產(chǎn)出來的半導(dǎo)體器件進(jìn)行抽樣加速老化試驗(yàn)時(shí),要得知半導(dǎo)體器件的老化工作條件。其中包含半導(dǎo)體器件在老化試驗(yàn)停止時(shí),瞬間切換到測(cè)試狀態(tài)下的PN結(jié)電壓。為了盡可能地得知半導(dǎo)體器件在老化時(shí)的PN結(jié)工作狀態(tài),這就要求半導(dǎo)體器件從老化狀態(tài)切換到測(cè)試狀態(tài)的時(shí)間越短越好。因此,亟待開發(fā)出一種迅速、簡(jiǎn)便、合理的在半導(dǎo)體器件老化狀態(tài)和測(cè)試狀態(tài)之間切換的裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是向國(guó)內(nèi)各個(gè)半導(dǎo)體器件生產(chǎn)商以及研究單位和類似用途的實(shí)驗(yàn)室提供一種適用于快速切換半導(dǎo)體器件老化狀態(tài)和測(cè)試狀態(tài)的專用設(shè)備。
為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為快速切換半導(dǎo)體器件老化和測(cè)試狀態(tài)裝置,該裝置包括機(jī)箱1、測(cè)量端子組a2、老化供電端子組a3、切換觸發(fā)口4、裝置供電輸入耦合器5、裝置開關(guān)按鍵6以及內(nèi)部控制電路;所述內(nèi)部控制電路設(shè)置在機(jī)箱1內(nèi)的襯板上,內(nèi)部控制電路包括輸入耦合器接線端子7、50V直流電源8、15V直流電源9、開關(guān)測(cè)試電路PCB板10;開關(guān)測(cè)試電路PCB板包括開關(guān)模塊11、測(cè)試模塊12。
開關(guān)模塊11包括MOS組13、老化供電端子組b14、測(cè)量端子組b15、50V供電端子16;測(cè)試模塊12包括±15V供電端子17、測(cè)試電流輸出端子18、電源濾波電容組19、OP07運(yùn)放組20。
機(jī)箱1的前面板上為測(cè)量端子組2、老化供電端子組3兩個(gè)區(qū)。
測(cè)量端子組a2包括測(cè)量端子C2.1、測(cè)量端子B2.2、測(cè)量端子E2.3,其分別對(duì)應(yīng)連接老化電路中半導(dǎo)體晶體管集電極、基極、發(fā)射極,測(cè)量端子組2在機(jī)箱1內(nèi)部與PCB板上的三個(gè)測(cè)量端子組b15相連。
老化供電端子組a3包括老化供電端子U3.1、老化供電端子I3.2,分別對(duì)應(yīng)連接老化電路中半導(dǎo)體晶體管的基極和集電極,老化供電端子a3在機(jī)箱1內(nèi)部與開關(guān)測(cè)試電路PCB板12上兩個(gè)老化供電端子組b14相連。
機(jī)箱1的前面板上還設(shè)有切換觸發(fā)口4。
機(jī)箱1的后面板設(shè)有一個(gè)電源輸入耦合器5,一個(gè)裝置開關(guān)按鍵6。
電源輸入耦合器5內(nèi)置電源濾波,在機(jī)箱1內(nèi)部通過輸入耦合器接線端子7與50V直流電源8、15V直流電源9連接,用以開關(guān)測(cè)試電路PCB板10上不同模塊的供電。
所述裝置開關(guān)按鍵6用以控制裝置電路的開斷。外部可設(shè)電源2400提供3.3V電壓信號(hào)通過切換觸發(fā)口4連接到開關(guān)模塊11的switch輸入端,控制MOS組13的溝道關(guān)斷。此時(shí)斷開半導(dǎo)體器件的老化電路。同時(shí),測(cè)試電流從測(cè)試模塊12的測(cè)試電流輸出端子18流出,流進(jìn)外部老化電路中的半導(dǎo)體晶體管的基極,電流通過BE結(jié)流回測(cè)試模塊12的回路。此時(shí),完成半導(dǎo)體器件從老化狀態(tài)切換到測(cè)試狀態(tài)。
本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下明顯的優(yōu)勢(shì)和有益效果:
本實(shí)用新型快速切換半導(dǎo)體器件老化和測(cè)試狀態(tài)裝置,采用電子控制方式斷電,能夠快速地保證被測(cè)器具在瞬間完成狀態(tài)的切換,確保試驗(yàn)符合標(biāo)準(zhǔn)要求,操作簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確、重復(fù)性好,測(cè)試效率和準(zhǔn)確性都得到大幅提高。
附圖說明
圖1是本實(shí)用新型設(shè)備前面板圖。
圖2是本實(shí)用新型設(shè)備后面板圖。
圖3是本實(shí)用新型設(shè)備機(jī)箱內(nèi)部電路圖。
圖4是本實(shí)用新型設(shè)備控制電路結(jié)構(gòu)圖。
圖5是MOS組的電路圖。
圖6是老化供電端子組b的電路圖。
圖7是測(cè)量端子組b的電路圖。
圖8是50V供電端子的電路圖。
圖9是±15V供電端子的電路圖。
圖10是測(cè)試電流輸出端子的電路圖。
圖11是電源濾波電容組的電路圖。
圖12是OP07運(yùn)放組的電路圖。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





