[實用新型]電工薄膜高溫耐壓測試儀有效
| 申請號: | 201520216300.3 | 申請日: | 2015-04-10 |
| 公開(公告)號: | CN204556777U | 公開(公告)日: | 2015-08-12 |
| 發明(設計)人: | 錢立文;余柏南;吳建章;陳翠玉 | 申請(專利權)人: | 安徽銅峰電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12;G01R31/16 |
| 代理公司: | 合肥和瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 王挺 |
| 地址: | 244000 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電工 薄膜 高溫 耐壓 測試儀 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種電工薄膜耐壓測試儀,具體地說是一種電工薄膜高溫耐壓測試儀。
背景技術
電工薄膜耐壓測試儀是用來對電工薄膜進行耐壓試驗的儀器,一般由設在工作臺上方的測試部分和設在工作臺下方的電控部分組成,CN201489083U公開的就是這樣一種電工薄膜耐壓測試儀。測試部分包括一對測試電極及絕緣支架,其中一個為固定電極,另一個為活動電極。測試部分通常設有絕緣測試室內,由于每次測試需要檢測多個點位,因此測試結束后需打開測試室更換測試點。為了方便更換測試點,CN202362418U公開的電工薄膜耐壓測試儀的耐壓測試室具有推拉門結構,以方便工作人員更換測試點。但上述這些耐壓測試儀只能完成電工薄膜常溫下的耐壓性能測試,無法完成電工薄膜高溫下的耐壓性能測試;另外根據測試工藝要求,每個試樣需測試5個點位以上,仍需頻繁地打開安全門進行更換測試點。
發明內容
本實用新型的目的是提供一種電工薄膜高溫耐壓測試儀,不僅可以測試電工薄膜在高溫下的耐壓性能,而且可以方便更換測試點,提高測試效率。
本實用新型是這樣實現的:包括測試部分和電控部分,測試部分包括固定電極、活動電極以及絕緣支架,測試部分設置在烘箱內,所述絕緣支架包括上、下支架,固定電極由下支架固定在烘箱下部,上支架固定在烘箱上部,活動電極通過金屬轉臂固定在金屬導電軸下端,上支架中間設有對導電軸周向定位的金屬套筒,導電軸上端固連有絕緣桿,烘箱頂部中間位置開有供絕緣桿通過的通孔,絕緣桿經烘箱頂部的通孔延伸至烘箱外部,絕緣桿頂部固定有旋轉手柄,烘箱底部開有供測試導線通過的通孔。測試時,先將烘箱內溫度升到設定溫度,再進行測試,完成一個測試點測試后,向上提升手柄,再旋轉一個角度后放下手柄,即可開展第二個點位測試,如此繼續,直至所需點位全部測試完成。
進一步的,上支架上開有供金屬套筒通過的孔,金屬套筒上端有向側面凸出的、用來將金屬套筒懸掛在上支架上的擋邊。
進一步的,上支架兩端通過立柱固定在下支架上,其中一側支柱中心開有通孔,與活動電極相通的導線經該支柱的中心通孔通過。
由上述技術方案可知,本實用新型采用烘箱作為耐壓測試室,升溫方便精確,可以方便地進行高溫下的耐壓性能測試;并且活動電極偏置在可旋轉的導電軸下端,旋轉設在烘箱上方手柄即可改變活動電極的位置,從而改變測試點位,因而不需打開耐壓測試室即烘箱門,烘箱內的溫度不會下降,可以連續測試,因而可以提高測試效率。另外,采用金屬套筒與導電軸配合,不僅導電軸與金屬套筒電連接可靠,而且導電軸在金屬套筒中上下移動也很方便。
附圖說明
圖1是本實用新型結構示意圖。
圖2是圖1中沿A-A線剖視圖。
圖中標注符號的含義如下:
1-烘箱?11-擋板?12-絕緣套管?13-烘箱門?2-固定電極?21-螺栓3-活動電極?31-金屬轉臂?32-導電軸?33-金屬套筒?331-擋邊34-鎖緊螺母?35-絕緣桿?36-手柄?41-下支架?42-上支架?43-立柱431-通孔烘箱?51、52-導線?6-測試軌跡
具體實施方式
下面結合附圖,對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。顯然,所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本實用新型保護的范圍。
如圖1、圖2所示,測試部分設置在烘箱1內,電控部分設在烘箱下方,圖中電控部分未畫出。測試部分包括固定電極2、活動電極3以及絕緣支架。絕緣支架包括上、下支架42、41,烘箱1下部的兩側內壁上固定有擋板11,下支架41兩端支撐在擋板11上。固定電極2由螺栓21固定在下支架41上方。上支架42兩端通過立柱43固定在下支架41上,其中左側支柱中心開有供與活動電極3電連接的導線52通過的通孔431。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于安徽銅峰電子股份有限公司,未經安徽銅峰電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201520216300.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種利用二次雷達的距離檢測系統
- 下一篇:一種GIS檢測裝置





