[實用新型]絕對重力儀中光速有限效應的雙光路測試裝置

有效

• 申請號: 201520210785.5
• 申請日: 2015-04-09
• 公開（公告）號: CN204496033U
• 公開（公告）日: 2015-07-22
• 發明（設計）人: 田蔚;張為民;鐘敏;吳曉敏;胡明
• 申請（專利權）人: 中國科學院測量與地球物理研究所
• 主分類號: G01V13/00
• 分類號: G01V13/00
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 宋業斌

1.一種絕對重力儀中光速有限效應的雙光路測試裝置，其特征在于，包括：

隔振平臺(1)、位于隔振平臺(1)上方的支撐結構(2)、位于所述支撐結構(2)上方的第一激光干涉儀(3)、位于所述第一激光干涉儀(3)的下方的第一參考棱鏡(4)、位于所述第一激光干涉儀(3)上方的落體真空腔(5)、位于所述落體真空腔(5)內的落體結構(6)、位于所述落體真空腔(5)上方的第二激光干涉儀(7)、位于所述第二激光干涉儀(7)上方的第二參考棱鏡(8)；

所述落體結構(6)由兩個落體棱鏡固連組成，且所述落體結構(6)具有上、下反射面；

所述第一參考棱鏡(4)、所述第一激光干涉儀(3)和所述落體結構(6)的下反射面構成第一激光干涉光路；所述第二參考棱鏡(8)、第二激光干涉儀(7)和所述落體結構(6)的上反射面構成第二激光干涉光路；

當所述落體結構在所述落體真空腔中自由下落時，分別在所述第一激光干涉儀和第二激光干涉儀中形成干涉信號，通過第一探測器、第二探測器分別探測的干涉信號經過數據處理后實現差分測量，由于光速有限效應在兩套干涉儀中的作用效果是相反的，而重力加速度、振動噪聲和其他噪聲對兩套干涉儀的作用效果是相同的，是共模信號，因此通過這種差分測量就可以直接測量絕對重力儀中光速有限效應的大小。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述落體結構(6)中的兩個落體棱鏡均為角錐棱鏡且對頂角設置。

3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述隔振平臺(1)為諧振周期達15s以上的低頻隔振系統。

4.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述第一激光干涉儀(3)和第二激光干涉儀(7)的結構應該盡可能對稱。

5.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述第一參考棱鏡(4)與第二參考棱鏡(8)剛性連接，且所述第一參考棱鏡(4)與第二參考棱鏡(8)的運動完全一致。