[實用新型]一種包括參考單元的RRAM子陣列結構有效
| 申請號: | 201520186445.3 | 申請日: | 2015-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN204680387U | 公開(公告)日: | 2015-09-30 |
| 發明(設計)人: | 韓小煒 | 申請(專利權)人: | 山東華芯半導體有限公司 |
| 主分類號: | G11C16/26 | 分類號: | G11C16/26 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 李宏德 |
| 地址: | 250101 山東省濟南市高新*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 包括 參考 單元 rram 陣列 結構 | ||
1.一種包括參考單元的RRAM子存儲陣列結構,其特征在于,包括主陣列和參考陣列,主陣列包括n行m列存儲單元;參考陣列包括n行2列存儲單元,其中,n為正整數,m為正整數;主陣列和參考陣列中的存儲單元通過按行設置的字線依次連接;
主陣列中任意1列包括主陣列位線BL和主陣列源線SL,以及依次并聯在主陣列位線BL和主陣列源線SL之間的n個存儲單元;
參考陣列中任意1列均能夠作為參考單元;每列參考單元共包括n個存儲單元,由兩級n/2個存儲單元并聯結構串聯組成;每列參考單元包括第一位線RBLH,第二位線RBLL和一條源線CSL,且兩列參考單元共享源線CSL;第一位線RBLH和第二位線RBLL各連接n/2個存儲單元,兩級n/2個存儲單元并聯結構通過CSL串聯;讀取時第一位線RBLH接讀取電壓Vread,第二位線RBLL接地線GND。
2.根據權利要求1所述的一種包括參考單元的RRAM子存儲陣列結構,其特征在于,還包括參考讀取開關RD_RER_SW<n-1:0>,以及設置在主陣列和參考陣列之間字線上的參考寫入開關WR_RER_SW<n-1:0>;參考讀取開關RD_RER_SW<n-1:0>的三端分別連接參考陣列列字線,參考陣列讀取字線電壓RD_RER_WL以及參考讀取使能信號RD_RER_EN;寫入開關WR_RER_SW<n-1:0>的三端分布連接主陣列字線,參考陣列字線以及參考寫入使能信號WR_REF_EN。
3.根據權利要求2所述的一種包括參考單元的RRAM子存儲陣列結構,其特征在于,當對參考單元寫入時,
WR_RER_EN有效,WR_RER_SW<n-1:0>打開,RD_RER_EN無效,RD_RER_SW<n-1:0>關閉且RD_RER_WL接GND,通過WL<i>選擇對應的參考陣列字線REF_WL<i>進行寫入,其中,0≤i≤n-1,n為正整數。
4.根據權利要求2所述的一種包括參考單元的RRAM子存儲陣列結構,其特征在于,當參考單元作為讀取參考時,
WR_RER_EN無效,WR_RER_SW<n-1:0>關閉,RD_RER_EN有效,RD_RER_SW<n-1:0>打開且RD_RER_WL接芯片電源VDD,REF_WL<n-1:0>全部打開,n個參考單元形成兩級n/2個單元并聯再串聯的結構。
5.根據權利要求1所述的一種包括參考單元的RRAM子存儲陣列結構,其特征在于,讀取數據前,參考陣列中的存儲單元均被寫為低阻態。
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