[實(shí)用新型]一種檢測(cè)厚壁管道缺陷的超聲導(dǎo)波探頭裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201520169745.0 | 申請(qǐng)日: | 2015-03-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN204575598U | 公開(公告)日: | 2015-08-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張?jiān)跂|;李茂東;杜南勝;李洪剛;彭國(guó)平;汪文鋒;王長(zhǎng)建;袁少波;鄧永昌;利觀寶;尹益欣;盧超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣州特種承壓設(shè)備檢測(cè)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01N29/24 | 分類號(hào): | G01N29/24 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 譚英強(qiáng) |
| 地址: | 510663 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測(cè) 管道 缺陷 超聲 導(dǎo)波 探頭 裝置 | ||
1.一種檢測(cè)厚壁管道缺陷的超聲導(dǎo)波探頭裝置,包括外殼、阻尼塊和壓電晶片,其特征在于:還包括楔塊,所述外殼安裝在楔塊的斜面后將阻尼塊和壓電晶片包裹在外殼內(nèi)部,所述壓電晶片固定在楔塊的斜面,所述壓電晶片上方裝上阻尼塊,所述楔塊下端與管道的接觸面設(shè)計(jì)成弧面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)厚壁管道缺陷的超聲導(dǎo)波探頭裝置,其特征在于:所述楔塊的上端刻制有三角形鋸齒。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測(cè)厚壁管道缺陷的超聲導(dǎo)波探頭裝置,其特征在于:所述楔塊中與斜面相對(duì)的側(cè)端刻制有三角形鋸齒。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)厚壁管道缺陷的超聲導(dǎo)波探頭裝置,其特征在于:所述楔塊中的楔塊角度為40~50°。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)厚壁管道缺陷的超聲導(dǎo)波探頭裝置,其特征在于:所述楔塊中的楔塊角度為45°。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)厚壁管道缺陷的超聲導(dǎo)波探頭裝置,其特征在于:所述壓電晶片的中心頻率為0.3~0.6MHz。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測(cè)厚壁管道缺陷的超聲導(dǎo)波探頭裝置,其特征在于:所述壓電晶片的中心頻率為0.5MHz。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣州特種承壓設(shè)備檢測(cè)研究院,未經(jīng)廣州特種承壓設(shè)備檢測(cè)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201520169745.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





