[實用新型]光伏組件電性能測試裝置有效
| 申請號: | 201520160715.3 | 申請日: | 2015-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN204424222U | 公開(公告)日: | 2015-06-24 |
| 發明(設計)人: | 蔣孝山;范寶朋;趙多虎 | 申請(專利權)人: | 常州天合亞邦光能有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 常州市科誼專利代理事務所 32225 | 代理人: | 孫彬;芮雪萍 |
| 地址: | 213161 江蘇省常州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 組件 性能 測試 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種光伏組件電性能測試裝置,屬于光伏測試技術領域。
背景技術
目前,太陽能作為一種清潔能源近年來得到了極大關注,光伏制造商、研究者們力圖通過工藝技術優化、生產過程改善不斷提升光伏產品性能與質量。
光伏產品的電性能測試,是產品生產中確認產品性能質量的必經環節。如何精確、方便、無損、快速地完成測試,是光伏產品制程中的重要課題。
目前光伏產品的電性能測試主要有兩種方式:一種是傳統的在組件完成裝框、硅膠固化完全后,通過太陽模擬器進行測試;另一種是在組件裝框前,對層壓件進行電性能測試,確認產品性能達標后再通過太陽模擬器進行測試。公開號為CN?102866344?A的中國專利公開了一種光伏組件測試方法及裝置,其中測試方法相比傳統的后測試法,此法可以先行確認產品質量,以免測出不合格品后再將組件拆框返工或報廢,導致原材料和工時的浪費,從而提升制程效率。但是,此發明中,將未裝框的組件,即“層壓件”簡單放置于傳輸鏈上進行操作,層壓件因無邊框支撐而易產生較大變形,從而導致電性能測試結果的不準確,并且給產品帶來電池片隱裂的風險。傳輸鏈的寬度還可能阻擋光線均勻分布到產品全表面,從而影響測試結果的準確性。同時,此發明中采用探針連接組件,同樣會對未裝框的層壓件造成破片隱裂危險。
發明內容
本實用新型所要解決的技術問題是克服現有技術的缺陷,提供一種光伏組件電性能測試裝置,它能夠實現光伏組件電性能的無損與快速測試,提高其測試精確性。
為了解決上述技術問題,本實用新型的技術方案是:一種光伏組件電性能測試裝置,它包括:
光伏組件支撐軌道組件,所述光伏組件支撐軌道組件用于放置待測光伏組件;
多個定位吸盤組件,多個定位吸盤組件安裝在光伏組件支撐軌道組件的上方,用于將位于光伏組件支撐軌道組件上的待測光伏組件固定在水平測試工位上;
太陽模擬器,所述太陽模擬器位于光伏組件支撐軌道組件的下方,所述太陽模擬器用于對位于水平測試工位上的待測光伏組件照射模擬光線;
引出線測試夾具,所述引出線測試夾具安裝在光伏組件支撐軌道組件的上方,并用于夾持位于水平測試工位上的待測光伏組件的引出線。
進一步提供了一種光伏組件支撐軌道組件的具體結構以便避免其對模擬光線的遮擋,所述的光伏組件支撐軌道組件包括呈對稱設置的左支撐軌道組件和右支撐軌道組件,左支撐軌道組件和右支撐軌道組件均包括水平伸縮動力件和支撐軌道,水平伸縮動力件固定設置,并且水平伸縮動力件的活動桿端與支撐軌道相連接,兩個支撐軌道分別抵接在待測光伏組件的兩端,當水平伸縮動力件的活動桿端同時動作時,所述的支撐軌作相向運動。
進一步提供了一種引出線測試夾具的具體結構以便自動夾持引出線,從而更加有利于電性能的無損測試,引出線測試夾具具有支撐架,并且支撐架上設置有引線夾持裝置,所述引線夾持裝置包括:
頭架;
兩個夾緊組件,兩個夾緊組件均鉸接在頭架上;
活動缸,所述活動缸安裝在支撐架上,并且活動缸的活動桿端與兩個夾緊組件的后端相鉸接以便活動缸動作時帶動兩個夾緊組件的前端作相向運動;
兩個導電測試夾塊,導電測試夾塊分別固定連接在相對應的夾緊組件的內側,并且兩個導電測試夾塊相配合以便兩者之間夾持引出線。
進一步為了對光伏組件的正負極進行夾持,引線夾持裝置設置有兩個,其中一個引線夾持裝置用于夾持待測光伏組件的正極引線,另一個引線夾持裝置用于夾持待測光伏組件的負極引線。
進一步為了使夾持摩擦力增大,使夾持牢固,使接觸電阻顯著減小,保證電性能測試的準確性,導電測試夾塊的內表面上設置有多個凸點。
進一步,導電測試夾塊通過螺釘固定在相對應的夾緊組件上,并且螺釘和導電測試夾塊的內表面相對應的釘頭表面也設置有凸點。
進一步,導電測試夾塊由銀材質制成。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





