[實用新型]光模塊參數測試設備

有效

• 申請號: 201520155221.6
• 申請日: 2015-03-18
• 公開（公告）號: CN204481817U
• 公開（公告）日: 2015-07-15
• 發明（設計）人: 高學嚴
• 申請（專利權）人: 江蘇奧雷光電有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 柏尚春

技術領域

本實用新型涉及光通信領域，主要涉及一種光模塊參數測試設備。

背景技術

光模塊是一個由光電子器件、功能電路和光接口等結構件組成的光電轉換模塊。光模塊主要用于光信號的收發，光信號通過光纖接入光模塊，可以將光信號轉為電信號。同時也可以將電信號的信息通過光模塊轉成光信號，然后通過光纖發送出去。

光模塊是一種高速光電器件，高速率發送和接收必然存在復雜的電磁耦合與信號雜擾，因此，光模塊的性能參數測試是檢驗成品的重要工序。組裝好的光模塊必須進行參數測試以判斷是否能正確實現預設的功能，模塊參數的性能測試是成品的最后一道工序，也是判斷模塊能否成為合格產品的重要依據。

目前自動測試光模塊靈敏度、發射光功率、高告警和低告警參數領域中，都是由多個獨立設備(光功率計、機械光衰減器、誤碼儀和發射光模塊)經過通信口連接組成的測試系統。測試過程需要用手不斷調節機械光衰減器和測試輸出的光功率，找到滿足誤碼率要求的光功率，或滿足使用要求的光功率，測試過程中需要經常插拔光纖用來測試該狀態下得光功率大小，多次插拔光纖會影響測試準確度和測試效率。這種測試成本較高，而且操作復雜，測試時間較長，效率低下，調試難度大。

實用新型內容

有鑒于此，為了克服現有技術中光模塊參數測試成本高、操作復雜的問題，本實用新型提供一種光模塊參數測試設備，以達到降低成本、簡單化調試操作、減少測試時間以及提高測試效率的效果。

為了解決光模塊參數測試成本高、操作復雜的問題，本實用新型的光模塊參數測試設備包括：

誤碼檢測模塊，生成帶碼型的電信號以及用于檢測輸入的電信號是否有誤碼；

發射光模塊，將所述帶碼型的電信號轉換為光信號；

光衰減模塊，對所述光信號進行衰減得到衰減后的光信號；

光分路模塊，將所述衰減后的光信號分成兩路，一路用于輸送至靈敏度光功率檢測模塊，一路作為待測光模塊的光輸入；

靈敏度光功率檢測模塊，讀取光功率值；

發射光功率檢測模塊，讀取所述待測光模塊的發射光功率；

控制模塊，控制所述誤碼檢測模塊啟動誤碼檢測和讀取檢測結果，并協調控制所述發射光模塊進行電光信號的轉換、所述光衰減模塊對光信號的衰減以及所述靈敏度光功率檢測模塊和所述發射光功率檢測模塊對光功率值的讀取。

為了簡化測試操作，方便調試，該光模塊參數測試設備外部設置有用于接收外部控制指令的通信接口。

為了簡化測試操作，方便調試，該光模塊參數測試設備外部設置有：

電信號輸入接口，連接所述誤碼檢測模塊的電輸入端和所述待測光模塊的電輸出端；

電信號輸出接口，連接所述誤碼檢測模塊的電輸出端和所述待測光模塊的電輸入端；

光輸入接口，連接所述發射光功率檢測模塊的光輸入端和所述待測光模塊的光輸出端；

光輸出接口，連接所述光分路模塊的光輸出端和所述待測光模塊的光輸入端；

告警總線接口，連接所述控制模塊和所述待測光模塊的告警信號接口。

其中，該光模塊參數測試設備能夠測試的參數包括：待測光模塊的靈敏度、發射光功率、高告警和低告警參數。

優選地，所述光衰減模塊采用電可調光衰減器，無需手動調整光衰減器。

優選地，所述控制模塊可以采用單片機。

與現有技術相比，本實用新型的優點為：利用本實用新型的測試設備將各個模塊進行集成，由于各個模塊在設備內部穩定連接，降低了對設備性能的要求，因此使得整個測試成本降低；本實用新型的測試設備設置有通信接口用于和PC機連接，方便控制信息的輸入，同時，還具有光電輸入輸出接口，使用時只需通過對應接口連接光模塊，利用PC機輸入測試指令，操作簡單，調試方便；無需針對單一的測試參數進行反復部署測試裝置和反復插拔光纖，只需要一次連接即可測試所有參數，因此縮短了整體測試時間，提高了測試效率。

附圖說明

圖1為本實用新型的光模塊參數測試設備模塊示意圖。

具體實施方式

下面結合實施例對本實用新型作更進一步的說明。