[實用新型]一種激光干涉儀光電檢測電路有效
| 申請號： | 201520154312.8 | 申請日： | 2015-03-18 |
| 公開（公告）號： | CN204575534U | 公開（公告）日： | 2015-08-19 |
| 發明（設計）人： | 宋書克 | 申請（專利權）人： | 宋書克 |
| 主分類號： | G01N21/45 | 分類號： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 471000 河南省洛陽*** | 國省代碼： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 激光 干涉儀 光電 檢測 電路 | ||
1.一種激光干涉儀光電檢測電路，其特征在于：它包括光電轉換前置放大電路、次級放大電路、低通濾波電路和比較整形電路；
所述光電轉換前置放大電路通過光電探測接收激光干涉信號并將光電流變換成電壓信號，所述次級放大電路將電壓信號提升到與后續電路匹配的正弦電壓信號，所述低通濾波電路濾除激光干涉信號的高頻噪聲，所述比較整形電路將低通濾波輸出的正弦信號變換成方波脈沖信號輸出。
2.如權利要求1所述的一種激光干涉儀光電檢測電路，其特征在于：所述光電轉換前置放大電路包括S10783型硅光電二極管和第一運算放大器；
所述S10783型硅光電二極管的正極接地、負極連接所述第一運算放大器的反相輸入端；
所述第一運算放大器的同相輸入端接地、反相輸入端分別通過第一電容與第一電阻連接第一運算放大器的輸出端、輸出端連接所述次級放大電路的輸入端。
3.如權利要求2所述的一種激光干涉儀光電檢測電路，其特征在于：所述低通濾波電路包括第二運算放大器；
所述第二運算放大器的反相輸入端依次通過第三電阻和第二電阻連接所述次級放大電路的輸出端、同相輸入端接地、輸出端通過第二電容連接第二運算放大器的反相輸入端，所述第二運算放大器的輸出端還通過第四電阻后分兩支路，一支路連接在所述第三電阻和第二電阻之間、另一支路通過第三電容接地。
4.如權利要求3所述的一種激光干涉儀光電檢測電路，其特征在于：所述比較整形電路包括第三比較器；
所述第三比較器的反相輸入端通過第五電阻連接所述第二運算放大器的輸出端、同相輸入端通過第六電阻接地、輸出端通過第七電阻連接第三比較器的同相輸入端。
5.如權利要求4所述的一種激光干涉儀光電檢測電路，其特征在于：所述第一運算放大器與第二運算放大器均為MAX4488型運算放大器，所述第三比較器為AD790型比較器。
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