[實用新型]薄片類介質厚度檢測機構及薄片類介質處理裝置

有效

• 申請號: 201520152520.4
• 申請日: 2015-03-17
• 公開（公告）號: CN204508299U
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: 高濤;鄭磊;齊國偉;王權黎;董立波
• 申請（專利權）人: 山東新北洋信息技術股份有限公司
• 主分類號: B65H7/12
• 分類號: B65H7/12;B65H7/06;G07D7/16
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 張海英;范坤坤

1.一種薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，包括：

基準輥，設置在被固定的芯軸上且為薄片類介質厚度判定的基準；

檢測組件，包括檢測輥和彈性復壓件，所述檢測輥設置在所述基準輥的一側，與所述基準輥接觸或間隔設定距離；

傳感器組件，設置在所述檢測輥的一側，用于檢測所述檢測輥與所述基準輥之間的距離變化，

其中，所述彈性復壓件與所述檢測輥連接，用于使所述檢測輥始終具有向靠近所述基準輥方向運動的趨勢。

2.根據權利要求1所述的薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，

還包括支撐軸和機架，所述支撐軸由所述機架支撐；

所述檢測組件還包括檢測輥支架，所述檢測輥支架設置在所述支撐軸上且可繞所述支撐軸旋轉：

其中，所述彈性復壓件為扭簧，所述扭簧與所述支撐軸或所述檢測輥支架套接，所述扭簧的第一端與所述檢測輥連接，第二端與所述機架連接。

3.根據權利要求2所述的薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，

所述傳感器組件包括相對設置的傳感器和感應件，所述傳感器和所述感應件兩者中的一個固定在所述檢測輥支架上，兩者中的另一個固定在所述機架上。

4.根據權利要求3所述的薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，所述傳感器為霍爾傳感器，所述感應件為磁性元件；或，所述傳感器為電感傳感器，所述感應件為金屬件。

5.根據權利要求2所述的薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，還包括擋塊，所述擋塊設置在所述檢測輥支架安裝有所述扭簧的一側，所述擋塊的外周尺寸大于所述扭簧的外周尺寸。

6.根據權利要求5所述的薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，在所述支撐軸上沿其軸向交替設置多個所述檢測組件和多個所述擋塊，所述擋塊的數量與所述扭簧的數量相等。

7.根據權利要求2至6任一項所述的薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，所述機架包括擋板、第一側板和第二側板，其中，所述第一側板與所述第二側板相對間隔設置，在所述第一側板和所述第二側板上分別開有第一卡槽和第二卡槽，所述支撐軸的兩端分別與所述第一卡槽和所述第二卡槽配合；

所述擋板設置在所述第一側板與所述第二側板之間，所述擋板面向所述檢測組件的表面設置有多個沿所述支撐軸的軸向間隔排列的豁口，所述扭簧的第二端嵌入到所述豁口內。

8.根據權利要求2至6任一項所述的薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，所述檢測輥支架還包括套筒，所述套筒的軸線沿平行于所述支撐軸的方向延伸，所述套筒與所述支撐軸套接，所述扭簧套設在所述套筒上。

9.根據權利要求8所述的薄片類介質厚度檢測機構，其特征在于，所述檢測組件還包括軸套，所述軸套嵌套在所述套筒內，并與所述支撐軸套接。

10.一種薄片類介質處理裝置，其特征在于，包括設置于所述薄片類介質處理裝置內部的輸送通道，所述輸送通道內設置有如權利要求1至9任一項所述的薄片類介質厚度檢測機構。