[實(shí)用新型]無引線老煉測試插座

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201520137791.2
• 申請日: 2015-03-10
• 公開（公告）號: CN204479616U
• 公開（公告）日: 2015-07-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李東偉;楊力
• 申請（專利權(quán)）人: 浙江長興電子廠有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 無錫大揚(yáng)專利事務(wù)所(普通合伙) 32248
• 代理人: 楊青

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種測試工具，具體為無引線老煉測試插座。

背景技術(shù)

目前市面上的老煉測試插座存在以下缺陷，產(chǎn)品不便于裝配及安裝使用，在老煉和測試過程中被試器件在裝夾過程中受力不均勻，對被試器件引出端容易造成變形和損傷；其穩(wěn)定性差，可靠性低；散熱效果差。

實(shí)用新型內(nèi)容

針對上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種裝配方便、被測試器件不易損壞的測試插座，具體的技術(shù)方案為：

無引線老煉測試插座，包括座和蓋，所述的蓋一端通過軸和扭簧鉸接在座一側(cè)，還包括鉤通過鉤扭簧和鉤軸安裝在蓋另一端；當(dāng)所述的蓋合攏在座上，所述的鉤扣在座的另一側(cè)；所述的座上有空腔，空腔用于放置被試器件；所述的蓋上還通過壓塊軸安裝有壓塊，所述的蓋翻轉(zhuǎn)蓋在座上時(shí)，壓塊位于空腔上方壓住放置在空腔內(nèi)的被試器件。

所述的座的空腔下方為散熱孔。

所述的壓塊上安裝有印制電路板，印制電路板用于安裝探針，蓋翻轉(zhuǎn)蓋在座上時(shí)壓塊將印制電路板上探針壓在被試器件引線上。

本實(shí)用新型提供的無引線老煉測試插座，裝配簡單，用戶可以根據(jù)需要在電路板上安裝探針，通過可翻轉(zhuǎn)的壓塊來增加電路板上的探針與被試器件引線接觸強(qiáng)度，保證受力均勻，保護(hù)被試器件不易被損壞。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

結(jié)合附圖說明本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式，如圖1所示，無引線老煉測試插座，包括座1和蓋4，所述的蓋4一端通過軸2和扭簧3鉸接在座1一側(cè)，還包括鉤8通過鉤扭簧7和鉤軸9安裝在蓋4另一端；當(dāng)所述的蓋4合攏在座1上，所述的鉤8扣在座1的另一側(cè)；所述的座1上有空腔10，空腔10用于放置被試器件；所述的蓋4上還通過壓塊軸6安裝有壓塊5，所述的蓋4翻轉(zhuǎn)蓋在座1上時(shí)，壓塊5位于空腔10上方壓住放置在空腔10內(nèi)的被試器件。

所述的座1的空腔10下方為散熱孔11。

所述的壓塊5上安裝有印制電路板，印制電路板用于安裝探針，蓋4翻轉(zhuǎn)蓋在座1上時(shí)壓塊5將印制電路板上探針壓在被試器件引線上。

用戶根據(jù)需要在印制電路板上安裝探針，翻轉(zhuǎn)蓋4，鉤8與座1咬合，蓋4上的壓塊5下壓，印制電路板上探針與被試器件的引線充分接觸，開始老煉、測試或篩選工作。散熱孔11便于被試器件散熱。