[實(shí)用新型]一種通用的超聲探頭測試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201520133112.4 | 申請(qǐng)日: | 2015-03-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN204479694U | 公開(公告)日: | 2015-07-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐俊輝;黃海濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海愛聲生物醫(yī)療科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/02 | 分類號(hào): | G01R31/02 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)張江*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 通用 超聲 探頭 測試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及超聲探頭的測試領(lǐng)域,具體地,涉及一種通用的超聲探頭測試裝置。
背景技術(shù)
B超系統(tǒng)是通過超聲波來診斷疾病的設(shè)備,B超探頭是能將電信號(hào)和聲信號(hào)互相轉(zhuǎn)換的器件,是B超系統(tǒng)成像的關(guān)鍵部件。超聲探頭通過標(biāo)準(zhǔn)的接口與B超系統(tǒng)連接。但是每家B超系統(tǒng)廠家對(duì)超聲探頭的接口線序定義不同。對(duì)于專業(yè)生產(chǎn)探頭的廠家來說,客戶多,接口線序多會(huì)造成很大的麻煩。一直以來,超聲探頭的測試方法一般有兩種:一種是采用人工,對(duì)接口的線序一一觸碰進(jìn)行測試。此方法效率低下,耗費(fèi)人工,還容易發(fā)生人為錯(cuò)誤;另外一種是測試裝置的測試方法,就是針對(duì)固定的接口線序,制作對(duì)應(yīng)的測試裝置來進(jìn)行自動(dòng)測試。采用測試裝置的測試方法每個(gè)裝置只能對(duì)應(yīng)一個(gè)接口線序,對(duì)于多個(gè)客戶的多種接口線序,需要大量不同的測試裝置。測試裝置的測試方法不僅制作成本高,制作周期長,對(duì)應(yīng)的裝置管理也會(huì)有很大工作量。一直以來,超聲探頭的測試裝置都是針對(duì)指定接口線序的探頭。無法做到一個(gè)裝置通用各種接口線序的探頭測試。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷,本實(shí)用新型的目的是提供一種通用的超聲探頭測試裝置。
根據(jù)本實(shí)用新型提供的一種通用的超聲探頭測試裝置,其特征在于,包括:微處理器、測試設(shè)備、測試接口和若干測試通路;
所述微處理器用于控制所述測試通路處于導(dǎo)通狀態(tài)或斷開狀態(tài);
所述測試設(shè)備通過所述測試接口分別與若干所述測試通路連接,所述測試設(shè)備通過所述測試接口獲取導(dǎo)通狀態(tài)的所述測試通路的測試數(shù)據(jù),每條所述測試通路包含一所述待測引腳。
作為一種優(yōu)化方案,每條所述測試通路包含依次相連的一繼電器和所述待測引腳,所述測試接口分別與所述繼電器相連;
所述微處理器分別與所述繼電器的控制端口相連;
所述繼電器用于:
響應(yīng)所述微處理器控制使得該繼電器所在的測試通路導(dǎo)通,所述測試接口與該測試通路中的待測引腳連通,
或響應(yīng)所述微處理器控制使得該繼電器所在的測試通路斷開,所述測試接口與該測試通路中的待測引腳斷開;
所述微處理器用于對(duì)所述繼電器的通電狀態(tài)或斷電狀態(tài)進(jìn)行自動(dòng)控制。
作為一種優(yōu)化方案,所述微處理器根據(jù)所述預(yù)設(shè)測試時(shí)序?qū)^電器的通電和斷電進(jìn)行自動(dòng)控制。
作為一種優(yōu)化方案,還包括一計(jì)算機(jī),所述計(jì)算機(jī)分別與所述微處理器和所述測試設(shè)備相連;所述計(jì)算機(jī)用于響應(yīng)外部輸入設(shè)置自定義的測試時(shí)序,并將該自定義的測試時(shí)序發(fā)送給所述微處理器;
所述微處理器用于根據(jù)自所述計(jì)算機(jī)接收的所述測試時(shí)序?qū)Ω鳒y試通路中的繼電器進(jìn)行通電或斷電狀態(tài)控制。
作為一種優(yōu)化方案,所述繼電器在通電狀態(tài)下使該繼電器所在的測試通路導(dǎo)通;所述繼電器在斷電狀態(tài)下使該繼電器所在的測試通路斷開。
作為一種優(yōu)化方案,所述繼電器在通電狀態(tài)下使該繼電器所在的測試通路斷開;所述繼電器在斷電狀態(tài)下使該繼電器所在的測試通路導(dǎo)通。
作為一種優(yōu)化方案,所述超聲探頭是B超探頭。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型具有如下的有益效果:
本實(shí)用新型提供的一種通用的超聲探頭測試裝置,將標(biāo)準(zhǔn)接口的每個(gè)通道都接上一個(gè)開關(guān)/繼電器,由微處理器來控制多個(gè)開關(guān)/繼電器,達(dá)到每條通道的順序控制,來滿足各種不同的接口線序。本實(shí)用新型通用性強(qiáng),能適用于所有使用相同標(biāo)準(zhǔn)接口的不同接口線序的超聲探頭,既像人工測試一樣能隨意定義接口線序,又保留了測試裝置測試速度快,測試準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)。能大大降低超聲探頭測試開發(fā)的成本,縮短超聲探頭測試開發(fā)的周期。
附圖說明
為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單的介紹,顯而易見,下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。附圖中:
圖1是一種可選實(shí)施例的B超探頭測試裝置原理圖;
圖2是一種可選實(shí)施例的具有計(jì)算機(jī)的B超探頭測試裝置原理圖。
具體實(shí)施方式
下文結(jié)合附圖以具體實(shí)施例的方式對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。以下實(shí)施例將有助于本領(lǐng)域的技術(shù)人員進(jìn)一步理解本實(shí)用新型,但不以任何形式限制本實(shí)用新型。應(yīng)當(dāng)指出的是,還可以使用其他的實(shí)施例,或者對(duì)本文列舉的實(shí)施例進(jìn)行結(jié)構(gòu)和功能上的修改,而不會(huì)脫離本實(shí)用新型的范圍和實(shí)質(zhì)。
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- 專利分類
G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試





