[實用新型]一種雜散電流綜合檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201520117027.9
• 申請日: 2015-02-26
• 公開（公告）號: CN204613279U
• 公開（公告）日: 2015-09-02
• 發(fā)明（設計）人: 郭海峰;付利云;劉占通
• 申請（專利權(quán)）人: 北京煜能電儀自動化技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 湯在彥

技術(shù)領域

本實用新型涉及測量儀器技術(shù)領域，特別涉及一種雜散電流綜合檢測裝置。

背景技術(shù)

城市軌道交通結(jié)構(gòu)在施工完成后已定型，經(jīng)過多年運營，若因發(fā)生雜散電流腐蝕而要對城市軌道交通主體結(jié)構(gòu)進行翻修是一件非常困難的工程。鑒于地鐵與輕軌的雜散電流腐蝕防護對城市發(fā)展與國民經(jīng)濟有重大意義，實現(xiàn)對雜散電流及其相關參數(shù)的檢測，根據(jù)檢測得到的參數(shù)采取相關的積極防護措施來預防雜散電流的危害，對城市軌道交通的安全、可靠運行來說非常重要。

現(xiàn)有技術(shù)中的雜散電流監(jiān)測裝置因軌道交通直流牽引系統(tǒng)產(chǎn)生的雜散電流是動態(tài)變化的，雜散電流難以直接測量，一般都通過軌道電位、埋地金屬的極化電位等參數(shù)間接反映雜散電流的腐蝕情況。

在現(xiàn)有技術(shù)中，在對軌道過渡電阻或縱向電阻的測量通常使用電流源、指針式電壓表以及連接線實現(xiàn)，過程中需人工對數(shù)據(jù)進行多次記錄、運算，存在工作量大、人工讀數(shù)精度差等問題。對軌道電位、極化電壓兩個參數(shù)通常使用安裝位置固定的傳感器進行監(jiān)測，需要通過線纜構(gòu)建數(shù)據(jù)通信網(wǎng)絡，存在監(jiān)測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復雜，成本較高。另外，現(xiàn)有的雜散電流測量裝置只能實現(xiàn)單一電參數(shù)的測量，不能全面的反映雜散電流腐蝕情況。

實用新型內(nèi)容

為解決現(xiàn)有技術(shù)的問題，本實用新型提出一種雜散電流綜合檢測裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中，在雜散電流檢測時，存在的檢測裝置結(jié)構(gòu)復雜，檢測裝置采集的數(shù)據(jù)精度較差，測量功能單一，數(shù)據(jù)分析不全面的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了一種雜散電流綜合檢測裝置，該裝置包括：控制顯示主機和遠端檢測電路；所述控制顯示主機通過無線數(shù)據(jù)傳輸電路與所述遠端檢測電路相連，控制顯示主機和遠端檢測電路相互配合檢測軌道與接地網(wǎng)之間的電位差、極化電壓、軌道縱向電阻、軌道過渡電阻，實現(xiàn)軌道雜散電流的檢測。

優(yōu)選地，所述控制顯示主機包括控制芯片、顯示屏幕、按鍵電路、第一存儲芯片、第一USB接口轉(zhuǎn)換芯片、第一數(shù)字隔離芯片、第二數(shù)字隔離芯片、第三數(shù)字隔離芯片、數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片、第一模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片、運算放大器、場效應管、多個電阻、多個接線端子、第一電感、第一電解電容、第一電容、第一差分運算放大器、第二差分運算放大器、達林頓晶體管驅(qū)動芯片、第一繼電器、第二繼電器、第三繼電器、第四繼電器和第一電平轉(zhuǎn)換芯片；

所述控制芯片的FSMC接口與所述顯示屏幕的端口相連；所述控制芯片的PE4～PE6端口、PF0～PF5端口均與所述按鍵電路相連；所述控制芯片的SPI2接口與所述第一存儲芯片、所述第一數(shù)字隔離芯片相連；所述控制芯片的USART1接口與所述第一USB接口轉(zhuǎn)換芯片相連；所述第一數(shù)字隔離芯片的VOA端口、VOB端口、VOC端口均與所述數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片相連；

所述數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片的VOUT端口、VFB端口與所述運算放大器的IN1+正輸入端相連；所述運算放大器的OUT1端口與所述場效應管的柵極相連；所述場效應管的漏極與第一電阻相連；所述第一電阻的另一端與電源地相連；第一電感、第一電解電容和第一電容構(gòu)成恒定直流電源，所述運算放大器的IN2-負輸入端經(jīng)過第三電阻與電源地相連；實現(xiàn)對第一電阻上電壓的采集和信號放大處理；

所述運算放大器的OUT2輸出端經(jīng)過第四電阻連接到所述運算放大器的IN1-負輸入端；所述運算放大器的OUT2輸出端經(jīng)第五電阻分別與所述運算放大器的IN2-負輸入端、第三電阻相連；所述運算放大器的OUT2輸出端與所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的AIN3管腳相連；所述運算放大器的IN2+輸入端經(jīng)過第二電阻分別與所述第一電阻、所述場效應管的漏極相連；所述控制芯片的SPI1接口經(jīng)過所述第二數(shù)字隔離芯片與所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片相連；

所述第一差分運算放大器的輸出端經(jīng)過第六電阻連接到所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的AIN1管腳；所述第二差分運算放大器的輸出端經(jīng)過第七電阻連接到所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的AIN2管腳；所述控制芯片的SPI1接口經(jīng)過第二數(shù)字隔離芯片獲取所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片上AIN1管腳輸入的電壓信號的AD轉(zhuǎn)換值；所述控制芯片的PE0管腳、PE1管腳、PE2管腳、PE3管腳經(jīng)過達林頓晶體管驅(qū)動芯片分別控制第一繼電器、第二繼電器、第三繼電器、第四繼電器；

所述第三接線端子的管腳通過測試連接線與測試點相連；第一接線端子的第一管腳與恒定直流電源相連，所述第一接線端子的第二管腳與所述場效應管的源極相連；