[實用新型]一種并聯(lián)結構的集成LED芯片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520083607.0 | 申請日: | 2015-02-06 |
| 公開(公告)號: | CN204441283U | 公開(公告)日: | 2015-07-01 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李俊承;楊凱;白繼鋒;林鴻亮;王英;張園園;馬祥柱;張雙翔;張永 | 申請(專利權)人: | 揚州乾照光電有限公司 |
| 主分類號: | H01L25/075 | 分類號: | H01L25/075;H01L33/62 |
| 代理公司: | 揚州市錦江專利事務所 32106 | 代理人: | 江平 |
| 地址: | 225009 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 并聯(lián) 結構 集成 led 芯片 | ||
技術領域
本實用新型涉及發(fā)光二極管制備技術,屬于半導體材料的封裝技術領域。
背景技術
目前對于多芯片的LED集成封裝,因其固有屬性,有其固有的缺陷,例如對于帶封裝的一個個獨立的LED芯片,要進行電性能的挑選,正向電壓差別不應超過0.1V,而反向的電壓則必須在10V以上;并且在制作時要特別注意防靜電,一旦個別芯片出現(xiàn)靜電問題,很有可能導致大面積失效。在接下來的固晶時,所有的LED芯片在縱向位置上需保持同樣的高度,在鋁基板上面挖槽的時候,槽的大小和深度,要根據(jù)芯片的多少和出光角度的大小來確定等等,封裝要求較高。所有的這些缺陷,使得下游客戶在封裝時,為了保持芯片均勻一致,以及成品的穩(wěn)定性,往往會付出極大的努力。這就提高了封裝難度,保持封裝后芯片的穩(wěn)定性也比較困難。
實用新型內容
針對現(xiàn)有技術上的缺陷,本實用新型目的是提出一種方便下游客戶在封裝的并聯(lián)結構的集成LED芯片。
本實用新型技術方案是:在同一藍寶石透明襯底上通過粘合層粘合有若干網(wǎng)格狀排列的芯粒,同一行的各個芯粒的P極相互電連接,并在各行芯粒的一端設置P焊線連接位點,同一列的各個芯粒的N極相互電連接,并在各列芯粒的一端設置N焊線連接位點。
本實用新型采用金屬互聯(lián)的方式,使分開的芯粒可以互相導通。P面金屬連接,同時起到P面電極作用,使每一行的芯粒橫向連接。N面電極使用金屬連接起來,使每一列的芯??v向連接。那么用戶可以不需要每個芯粒都焊接電極,只在特定區(qū)域電極上面焊接,就能達到控制芯粒發(fā)光與否的一種芯片。使用時,如需要使集成LED芯片中的某一芯粒發(fā)光,只需要讓電流通過該芯粒所在的行和列上的P與N電極,就可以讓該芯粒發(fā)光。
本實用新型在芯片端即實現(xiàn)多芯粒的連接,使得下游客戶在封裝時,只需在特定電極上面打線即可。并且芯片均勻一致,可避免封裝時出現(xiàn)上述的問題,極大地降低了封裝難度,提高封裝后芯片的穩(wěn)定性。
附圖說明
圖1為本實用新型的一種平面視圖。
圖2為圖1的A-A向剖示圖。
圖3為本實用新型生產(chǎn)方法的工藝流程圖。
圖4為生產(chǎn)過程中取得半制品的一個示意圖。
圖5為生產(chǎn)過程中取得另一半制品的一個示意圖。
具體實施方式
具體制作方法,如圖3所示:
1、利用PECVD技術,在臨時襯底GaAs上制作的外延片上涂覆一層厚度為800~900nm的折射率為1.6的SiO2。
2、在沉積SiO2后,利用光刻膠掩膜技術,并且針對光刻膠的工藝,加長了曝光的時間,使得光刻膠可以充分的進行曝光,在顯影方面,使用4%的KOH溶液進行顯影,溫度控制在20~25℃之間,經(jīng)過1min的顯影,KOH溶液將光刻膠上面的圖形制作了出來,此時把帶有光刻膠的wafer進行沖水快排,經(jīng)過一段時間的沖水,水分子將光刻膠圖形內的KOH溶液分子置換出來,這樣做得目的是防止KOH溶液對SiO2層的腐蝕,最后,使用HF溶液,將沒有光刻膠保護的地方的SiO2蝕刻掉。這樣,就在SiO2層上面制作出了有規(guī)律的圖形通孔。
3、在外延片的帶有通孔的SiO2層上,采用電子束蒸鍍技術填充入金屬層:整個金屬層分為三層進行蒸鍍:第一蒸鍍層為Au,厚度大約為500埃;第二蒸鍍層為AuZn,厚度為1000埃;第三蒸鍍層為Au,厚度為5500~6000埃。這些金屬蒸鍍層分層分布于整個SiO2層及其通孔中。
4、采用光刻掩膜技術,利用光刻膠在金屬層表面制作出分為若干行的P電極圖形形狀,然后使用I與KI混合液,對金屬進行蝕刻,最終得到P面電極連接圖形。這些金屬與之前沉積的SiO2一起,構成全金屬反射鏡(ODR)層。
如圖4所示,由于反射層金屬本身是帶有圖形的,所以保證在同一行的芯粒被集成在一起,而相鄰行的芯??梢詫崿F(xiàn)P面隔離,即在圖4中可見分成行排列的P1、P2、P3和P4行。
5、在全金屬反射鏡(ODR)層表面沉積一層厚度為2000埃的SiO2后,450℃退火15min。使得P面形成歐姆接觸。然后再將SiO2去除。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L25-00 由多個單個半導體或其他固態(tài)器件組成的組裝件
H01L25-03 .所有包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中同一小組內的相同類型的器件,例如整流二極管的組裝件
H01L25-16 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個或多個不同大組內的類型的器件,例如構成混合電路的
H01L25-18 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個或多個同一大組的不同小組內的類型的器件
H01L25-04 ..不具有單獨容器的器件
H01L25-10 ..具有單獨容器的器件





