[實用新型]高密度金手指探針式對準測試治具

有效

• 申請號: 201520072323.1
• 申請日: 2015-02-02
• 公開（公告）號: CN204389616U
• 公開（公告）日: 2015-06-10
• 發明（設計）人: 黃柏翰;藍國凡;邱金啟
• 申請（專利權）人: 昆山意力電路世界有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京天平專利商標代理有限公司 11239
• 代理人: 王雅輝

技術領域

本實用新型屬于檢測裝置技術領域，具體涉及一種高密度金手指探針式對準測試治具。

背景技術

電路板PCB、柔性電路板FPC的端部通常設有導電電極即金手指，用來與其他電子產品或其他部件相連通，以實現電性導通，為了避免金手指的連接不良，通常都需要對金手指的電路板進行電性測試，通常的測試方式是在電路板PCB或柔性電路板FPC上設置測試點，將錫膏印刷與測試點表面，通過自動化測試裝置，以獲取相關的電性參數。

目前有一種金手指電測治具，當需要檢測帶有金手指端子的產品時，將產品沿底板一端的空隙插入，將插入的待檢測的金手指壓緊貼合到底板上表面設置的金手指區內，實現對金手指的導通性檢測，對每一個金手指的測試，都需要將金手指由縫隙處插入，且特別是一些蜂窩狀金手指，蜂窩狀金手指四周之間的間距都非常小，蜂窩金手指與蜂窩金手指對位要控制四個方向，前后左右，對位位置要求很高，對位不易控制，容易造成誤測。

故，需要一種新的技術方案以解決上述問題。

實用新型內容

實用新型目的：針對上述現有技術存在的問題和不足，本實用新型的目的是提供一種高密度金手指探針式對準測試治具，特別適用于檢測蜂窩狀金手指的電性參數。

技術方案：本實用新型公開了一種高密度金手指探針式對準測試治具，一端用于對接待測金手指，另一端用于對接外部測試裝置的金手指，該對準測試治具包括與外部測試裝置的金手指電連接且與待測金手指形成電連接的探針和用于安裝探針的安裝座；所述安裝座為中空、兩端敞口結構，所述安裝座內還設有與探針一體成型的對位導套孔。

作為本實用新型的進一步優化，本實用新型所述的安裝座內還設有固定探針的固定位，所述若干固定位呈蜂窩狀結構分布。

作為本實用新型的進一步優化，本實用新型位于不同水平線上的固定位與固定位之間錯開設置。

作為本實用新型的進一步優化，本實用新型所述的固定位包括呈高腳杯型結構的固定位和主體呈八面體結構的固定位，所述主體呈八面體結構的固定位的豎直面上的兩端分別設有短端腳、長端腳，所述呈八面體結構的固定位的長端腳設置于兩個高腳杯型結構的固定位之間。

作為本實用新型的進一步優化，本實用新型所述的呈八面體結構的固定位的長端腳長度與呈高腳杯型結構的固定位的頭部長度相同。

作為本實用新型的進一步優化，本實用新型的待測金手指的外型特性位置設有對位針腳。待測金手指通過對位針腳與對位導套孔配合進行定位固定。

有益效果：本實用新型與現有技術相比，具有以下優點：本實用新型通過采用測試治具內置的探針，減小接觸點面積，增大待測金手指與外部檢測裝置的金手指之間的對位偏移的公差，從而對對位要求也就相應降低了，同時在測試治具安裝座內加入與探針一體成型的對位導套孔，該對位導套孔與金手指外型特性位置的定位針腳相配合定位，極大的改善了外部測試裝置的金手指與待測金手指的對位精度.避免由于對位不準引起的誤測情況的發生，大大增加了金手指電性參數檢測的可靠性和準確性，本實用新型結構簡單，容易實現，具有良好的經濟效益。

附圖說明

圖1為本實用新型的截面結構示意圖；

圖2為本實用新型的結構示意圖；

圖3為待測金手指、外部測試裝置的金手指與本實用新型的對接示意圖；

A--外部測試裝置的金手指、B--待測金手指、1--探針、2--安裝座、2-1呈高腳杯型結構的固定位、2-2主體呈八面體結構的固定位。

具體實施方式

以下結合具體的實施例對本實用新型進行詳細說明，但同時說明本實用新型的保護范圍并不局限于本實施例的具體范圍，基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

需要說明的是，在本實用新型的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上；術語“上”、“下”、“左”、“右”、“內”、“外”、“前端”、“后端”、“頭部”、“尾部”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本實用新型和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本實用新型的限制。此外，術語“第一”、“第二”、“第三”等僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。

實施例