[實用新型]一種改進的高精度校直機構

有效

• 申請號: 201520020767.0
• 申請日: 2015-01-13
• 公開（公告）號: CN204545036U
• 公開（公告）日: 2015-08-12
• 發明（設計）人: 厲建華;朱朋兒
• 申請（專利權）人: 寧波新世達精密機械有限公司
• 主分類號: B21D3/10
• 分類號: B21D3/10;B21D43/00
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司 31253
• 代理人: 王明超

1.一種改進的高精度校直機構，包括底板，底板開設有滑槽，滑槽內設有第一支座和第二支座，第一支座和第二支座上端均設有軸承，第一支座上端設有與軸承配合使用的定位塊，其特征在于：所述定位塊上部開設有裝置孔，定位塊一側設有夾具，第一支座和第二支座的側面配合設有支架，支架下部設有千分表，支架上部設有支撐桿，支撐桿上端套設有伸縮桿，伸縮桿上端設有壓板，壓板一側開設有缺口，缺口內鉸接有壓塊，壓塊一端連接有壓桿，壓塊下端設有與千分表配合使用的頂桿。

2.根據權利要求1所述的一種改進的高精度校直機構，其特征在于：所述伸縮桿開設有至少兩個插接孔，支撐桿內設有插銷，所述頂桿中部套設有支撐板，所述底板開設有便于支架移動的“十”字形滑槽。

3.根據權利要求1所述的一種改進的高精度校直機構，其特征在于：所述第一支座和第二支座上端均開設有裝置槽，所述夾具包括左夾片和右夾片，左夾片和右夾片上端通過螺桿連接。