[實用新型]高壓開入端子

有效

• 申請號: 201520007299.3
• 申請日: 2015-01-06
• 公開（公告）號: CN204316483U
• 公開（公告）日: 2015-05-06
• 發明（設計）人: 于浩;李海峰;羅建裕;寧元元
• 申請（專利權）人: 江蘇華瑞泰科技股份有限公司;江蘇省電力公司
• 主分類號: H03K19/0175
• 分類號: H03K19/0175
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 周海斌;牛莉莉

技術領域

本實用新型涉及一種高壓開入端子，適用于對高壓開入量的采集，屬于開關量采集器件技術領域。

背景技術

據申請人了解，目前對于高、低壓開關量的采集，其信號輸入電路一般都是通過電阻網絡分壓進行，同時采用光電隔離器件進行隔離。但是，該現有方案原理過于簡單，當輸入電壓較高，回路電流很小，常規的空間干擾就有可能使回路中光電隔離器件的發光二極管導通，導致產生開關量變位的假象，這使得現有方案的電路抗干擾能力很難滿足要求。同時，在輸入的開關量電壓較高時，也會使元件發熱現象嚴重，對長期運行可靠性造成影響。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是：克服現有技術存在的問題，提供一種高壓開入端子，能有效提高開關量采集的可靠性。

本實用新型解決其技術問題的技術方案如下：

一種高壓開入端子，包括外殼和電路板，電路板安裝于外殼內部；電路板承載的電路包括電阻分壓回路、兩級三極管保護回路、光耦、以及輸出回路；電阻分壓回路具有外接信號源的輸入端、與光耦輸入端正極連接的第一輸出端、第二輸出端、第三輸出端、以及接地端；兩級三極管保護回路包括第一三極管和第二三極管，第一三極管具有與光耦輸入端負極連接的集電極、與電阻分壓回路第二輸出端連接的基極、以及經串聯二極管與電阻分壓回路第三輸出端連接的發射極，第二三極管具有與光耦輸入端正極連接的集電極、與光耦輸入端負極連接的基極、以及經第一電阻與第一三極管發射極連接的發射極；輸出回路具有外接電源的第一端、與光耦輸出端正極連接的第二端、與光耦輸出端負極連接的第三端、以及接地的第四端。

該結構在運行時，若有高壓開入信號輸入，則信號先經電阻分壓回路分壓，進而使第一三極管導通同時使第二三極管截止，此時光耦輸入端負極被拉至低電位，電流在光耦輸入端由其正極流向負極，使光耦導通；之后，若高壓信號停止輸入，則信號電壓降低，進而使第一三極管的基極和發射極之間的電壓降低，當信號電壓降低至預設值時，第一三極管截止則光耦輸入端負極電壓升高，第二三極管導通，光耦輸入端正極被拉至低電位，并保證光耦輸入端的正極比其負極電壓要低一些，從而既可以確保光耦的可靠關斷又可以確保光耦輸入端不會被反向擊穿。

本實用新型進一步完善的技術方案如下：

優選地，電阻分壓回路包括依次串聯的第二、第三、第四、第五電阻，第二電阻遠離第三電阻的末端為電阻分壓回路的輸入端，電阻分壓回路的第一輸出端位于連接第二、第三電阻的導線上，電阻分壓回路的第二輸出端位于連接第三、第四電阻的導線上，電阻分壓回路的第三輸出端位于連接第四、第五電阻的導線上，第五電阻遠離第四電阻的末端為電阻分壓回路的接地端；電阻分壓回路的第一輸出端經串聯的第六、第七電阻與光耦輸入端正極連接。

更優選地，電阻分壓回路的輸入端經第一電感外接信號源，電阻分壓回路的接地端經第二電感接地。

更優選地，電阻分壓回路的輸入端和接地端之間橋接有壓敏電阻器；電阻分壓回路的第一、第三輸入端之間橋接有穩壓二極管，穩壓二極管具有與電阻分壓回路第三輸入端連接的正極、與電阻分壓回路第一輸入端連接的負極。

優選地，兩級三極管保護回路中，第一三極管的基極經第八電阻與電阻分壓回路第二輸出端連接，第一三極管集電極還經第九電阻與第六電阻的連有第七電阻的末端連接。

更優選地，串聯二極管包括第一、第二二極管，第一二極管的正極與第一三極管發射極連接、負極與第二二極管的正極連接，第二二極管的負極與電阻分壓回路第三輸出端連接。

優選地，第一、第二三極管分別為NPN型三極管。

優選地，輸出回路包括一組同向并聯的發光二極管、第三三極管以及第十電阻，該組發光二極管的正極與輸出回路的第一端連接、負極分別與光耦輸出端正極和第三三極管集電極連接，第三三極管的基極分別與光耦輸出端負極和第十電阻一端連接，第十電阻另一端接地，第三三極管的發射極接地。

更優選地，第三三極管為NPN型三極管。

優選地，外殼內還設有四套接線組件，接線組件分別包括緊固件、線盒和焊腳，焊腳分別與電阻分壓回路的輸入端或接地端、或者輸出回路的第一端或第四端電連接，線盒位于緊固件與焊腳之間，線盒內容納有在緊固件作用下與焊腳壓接的外接導線。

采用本實用新型的結構后，既可以確保光耦的可靠關斷又可以確保光耦輸入端不會被反向擊穿，能有效防止開關信號的誤采集、提高開關量采集的可靠性，同時能降低元件的發熱、提高電路長期運行可靠性。

附圖說明