[發明專利]基于X射線的工業部件缺陷的無損檢測系統及其檢測方法

有效

• 申請號: 201511019849.4
• 申請日: 2015-12-30
• 公開（公告）號: CN105510364B
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發明（設計）人: 王慧明;劉東華;周志勇;戴亞康;鄭健
• 申請（專利權）人: 蘇州科耐視智能科技有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369
• 代理人: 史霞

本發明公開了一種基于X射線的工業部件缺陷的無損檢測系統，包括：X射線成像設備，其接收穿透待檢工業部件的X射線，所述X射線成像設備設置有相互連接的信號探測部件和成像部件；圖像增強部件，其實時接收所述X射線成像設備生成的原始圖像信號，并對所述原始圖像信號進行信號加強處理后得到增強圖像信號；圖像采集卡，其與所述圖像增強部件連接；以及圖像工作站，其設置有相互連接的緩沖部和缺陷識別部，所述圖像采集卡將采集到的所述增強圖像信號傳送到所述緩沖部。本發明解決了現有技術中缺陷探測效率低下、可重復性差、且極易出現差錯的技術問題。

技術領域

本發明涉及工業品檢測技術領域，特別是一種基于X射線的工業部件缺陷的無損檢測系統及其檢測方法。

背景技術

射線檢測是常規無損檢測的重要方法之一，廣泛應用于航空、航天、核電、國防以及其它工業部門，在工業生產和國民經濟中發揮了重要作用。目前，在生產實際中，射線檢測普遍使用膠片照相法。X射線膠片照相的成像質量較高，能正確提供被測試件缺陷真實情況的可靠信息，但是，它具有操作過程復雜、運行成本高、結果不易保存且查詢攜帶不便以及評片人員眼睛易受強光損傷等缺點。

為了解決上述問題，20世紀90年代末出現了X射線數字照相(DigitalRadiography，DR)檢測技術。X射線數字照相系統中使用了平板探測器(flat paneldetector)，其像元尺寸可小于0.1mm，因而其成像質量及分辨率幾乎可與膠片照相媲美，同時還克服了膠片照相中表現出來的缺點，也為圖像的計算機處理提供了方便。因此，基于平板探測器的X射線數字成像系統在無損檢測和評價(NDT/NDE)、集裝箱掃描、電路板檢查以及醫療應用等方面具有廣闊的應用前景。

然而，由于射線源、工件、成像系統、成像工藝等多因素的影響，得到的圖像的質量有時會達不到規定的質量標準，導致圖像細節信息被掩蓋，影響對結果的判斷。同時，現有的基于X射線的工業部件缺陷的無損檢測系統及其檢測方法通過X射線對被檢測的工業部件進行成像，成像后的圖像通常不經過任何處理步驟，直接在顯示終端進行顯示，通過純人工讀圖的方式進行工業部件的缺陷篩選和判定，效率低下，可重復性差，且極易出現差錯。

目前，針對于X射線的工業部件缺陷無損檢測系統的檢測方法一般基于圖像梯度或Hessian矩陣來檢測工業部件中缺陷的位置和形貌，這種檢測方法檢測結果檢測結果易受圖像噪點和圖像灰度分布不均的影響，導致探測效率和正確率不高，且穩定性較差。

發明內容

針對上述技術問題，本發明中提出了一種基于X射線的工業部件缺陷的無損檢測系統及其檢測方法，該方法基于X射線成像技術，使用X射線圖像智能處理技術，用于無損檢測工業器件的內部缺陷，解決了現有技術中缺陷探測效率低下、可重復性差、且極易出現差錯的技術問題。

為了實現根據本發明的這些目的和其它優點，提供了一種基于X射線的工業部件缺陷的無損檢測系統，包括：

X射線成像設備，其接收穿透待檢工業部件的X射線，所述X射線成像設備設置有相互連接的信號探測部件和成像部件；

圖像增強部件，其實時接收所述X射線成像設備生成的原始圖像信號，并對所述原始圖像信號進行信號加強處理后得到增強圖像信號；

圖像采集卡，其與所述圖像增強部件連接；以及

圖像工作站，其設置有相互連接的緩沖部和缺陷識別部，所述圖像采集卡將采集到的所述增強圖像信號傳送到所述緩沖部。

優選的，所述信號探測器部件對準X射線發射器的發射面。

優選的，基于X射線的工業部件缺陷的無損檢測系統還包括預信號預處理單元，其連接在所述成像部件和所述圖像增強部件之間。

優選的，所述圖像工作站還包括儲存器、服務器以及顯示器，所述儲存器、服務器以及顯示器分別與所述缺陷識別部連接。