[發明專利]電能表中分流器的計量控制系統

有效

• 申請號: 201511004458.5
• 申請日: 2015-12-28
• 公開（公告）號: CN106918738B
• 公開（公告）日: 2020-08-25
• 發明（設計）人: 石飛;袁文師;王甲
• 申請（專利權）人: 上海貝嶺股份有限公司
• 主分類號: G01R22/06
• 分類號: G01R22/06;G01R31/54
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 薛琦;羅朗

1.一種電能表中分流器的計量控制系統，所述分流器包括供電線、正極采樣線及負極采樣線，所述供電線與市電的火線電連接，市電的零線通過變壓器的一個輸入端與所述供電線電連接，所述變壓器的另一個輸入端接地，所述變壓器的輸出端與所述分流器的計量芯片電連接，所述計量芯片與所述正極采樣線及所述負極采樣線電連接，其特征在于，

所述計量控制系統包括故障檢測電路及故障處理電路，所述故障檢測電路包括第一故障檢測電阻、第二故障檢測電阻、故障電壓采樣電路以及故障電壓測量電路，所述第一故障檢測電阻分別與所述負極采樣線及接地端電連接，所述第二故障檢測電阻分別與所述正極采樣線及接地端電連接；

所述故障電壓采樣電路與所述故障電壓測量電路電連接，所述故障電壓采樣電路用于獲取所述第一故障檢測電阻的電壓值，所述故障電壓測量電路用于判斷所述電壓值是否大于第一閾值，若是，則確定所述供電線與市電的火線斷開連接；

所述故障處理電路包括第一故障處理電阻、第一MOS開關、第二故障處理電阻、第二MOS開關以及MCU，所述第一故障處理電阻分別與所述負極采樣線及所述第一MOS開關的漏極電連接，所述第二故障處理電阻分別與所述正極采樣線及所述第二MOS開關的漏極電連接，所述第一MOS開關及所述第二MOS開關的源極均接地、柵極均與所述MCU電連接；

當所述故障電壓測量電路確定所述供電線與市電的火線斷開連接時，所述MCU控制所述第一MOS開關及所述第二MOS開關導通，以使得所述第一故障處理電阻與所述第一故障檢測電阻并聯、所述第二故障處理電阻與所述第二故障檢測電阻并聯，并使得所述第一故障檢測電阻的電壓值降低至所述計量芯片允許的共模輸入電壓范圍內。

2.如權利要求1所述的計量控制系統，其特征在于，所述計量控制系統還包括電流通道增益補償模塊，所述電流通道增益補償模塊用于計算所述計量芯片的電流通道增益，并將計算結果寫入所述計量芯片的電流通道增益寄存器中。

3.如權利要求2所述的計量控制系統，其特征在于，所述計量控制系統還包括功率偏置補償模塊，所述功率偏置補償模塊用于將電能表置于故障狀態，清除潛動閾值，在只加額定電壓不加電流的情況下，讀取計量芯片測量到的有功功率值，并將有功功率值轉換為功率偏置寄存器值，將功率偏置寄存器值與電能表正常工作時的功率偏置寄存器值相加后的結果寫入計量芯片的功率偏置寄存器中。

4.如權利要求1所述的計量控制系統，其特征在于，所述故障電壓測量電路還用于在判斷所述電壓值小于第二閾值時，確定所述供電線與市電的火線連接正常，所述MCU還控制所述第一MOS開關及所述第二MOS開關斷開。

5.如權利要求1所述的計量控制系統，其特征在于，所述故障電壓采樣電路包括依次電連接的緩沖放大器、模數轉換器、平方運算電路、基波濾波器、均方根運算電路，所述緩沖放大器與所述計量芯片的共模采樣輸入端電連接。

6.如權利要求1所述的計量控制系統，其特征在于，所述第一故障檢測電阻與所述第二故障檢測電阻的阻值相同，和/或，所述第一故障處理電阻與所述第二故障處理電阻的阻值相同。

7.如權利要求6所述的計量控制系統，其特征在于，所述第一故障檢測電阻和所述第二故障檢測電阻的阻值為所述第一故障處理電阻和所述第二故障處理電阻的阻值的十倍以上。

8.如權利要求1所述的計量控制系統，其特征在于，所述第一故障檢測電阻和所述第二故障檢測電阻的阻值為所述分流器的電阻值的十萬倍以上。

9.如權利要求1所述的計量控制系統，其特征在于，所述第一故障檢測電阻和所述第二故障檢測電阻的阻值的取值范圍為30-100Ω，和/或，所述第一故障處理電阻和所述第二故障處理電阻的阻值的取值范圍為1-8Ω。

10.如權利要求1-9中任意一項所述的計量控制系統，其特征在于，所述電能表為單相電能表。