[發明專利]一種照度計

在審

• 申請號: 201511000274.1
• 申請日: 2015-12-26
• 公開（公告）號: CN105628197A
• 公開（公告）日: 2016-06-01
• 發明（設計）人: 徐青;徐浩;王麟;謝慶國
• 申請（專利權）人: 武漢京邦科技有限公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種照度計，包括基于硅光電倍增管的光學探頭、光子計數系統、數據處理系統、顯示系 統和電源系統；其特征在于，

所述基于硅光電倍增管的光學探頭由余弦校正片、中性密度衰減片組、V(λ)視覺函數校 正片、硅光電倍增管及光學探頭殼體構成；所述余弦校正片、中性密度衰減片組、V(λ)視覺 函數校正片、硅光電倍增管依次置于光學探頭殼體中；所述光學探頭殼體上設有通光孔，所 述通光孔的中心與余弦校正片、中性密度衰減片組、V(λ)視覺函數校正片、硅光電倍增管的 光敏面的中心均位于同一軸線上；所述通光孔與所述余弦校正片、中性密度衰減片組、V(λ) 視覺函數校正片一起構成照度計的光路系統；在進行光照度測量時，待測光源發出的光經所 述光路系統后照射在硅光電倍增管的光敏面上，并充滿硅光電倍增管的整個光敏面區域；

所述中性密度衰減片組包含至少一片中性密度衰減片，所述中性密度衰減片對不同波長 的可見光均按同一衰減系數衰減；

所述硅光電倍增管位于光學探頭殼體中遠離通光孔的一側，其輸出端通過通信引線引出 光學探頭殼體；

所述光子計數系統經所述通信引線與硅光電倍增管輸出端連接，以用于在測量時間內的 各采樣周期中對入射到硅光電倍增管光敏面上的光子數目進行計數；

所述數據處理系統與所述光子計數系統通信連接，以用于將光子計數系統在單個采樣周 期中所統計的光子數目與相應測量的光源的光照度值進行換算；

所述顯示系統與所述數據處理系統通信連接，以用于將數據處理系統獲得的光照度數值 進行顯示；

所述電源系統分別與所述硅光電倍增管、光子計數系統、數據處理系統、顯示系統通信 連接，以用于為硅光電倍增管、光子計數系統、數據處理系統、顯示系統提供供電。

2.根據權利要求1所述的照度計，其特征在于，所述基于硅光電倍增管的光學探頭還包括一 單色光濾光片，所述單色光濾光片位于照度計的光路系統中。

3.根據權利要求1或2所述的照度計，其特征在于，還包括一制冷系統，所述制冷系統位于 光學探頭殼體中，以用于為硅光電倍增管進行制冷；所述電源系統與所述制冷系統通信連接， 以用于為制冷系統提供供電。