[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510975015.4 | 申請(qǐng)日: | 2015-12-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105720095B | 公開(公告)日: | 2019-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | T.巴斯勒;J.G.拉文;H-J.舒爾策 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英飛凌科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/739 | 分類號(hào): | H01L29/739;H01L29/72;H01L29/06;H01L29/40;H01L27/02 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王洪斌;張濤 |
| 地址: | 德國(guó)瑙伊比*** | 國(guó)省代碼: | 德國(guó);DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 | ||
1.一種功率器件,包括:
半導(dǎo)體基底,其包括定義功率器件的有效面積的多個(gè)可開關(guān)晶胞,每個(gè)可開關(guān)晶胞包括發(fā)射極區(qū)以及集電極區(qū);
發(fā)射極金屬化件,其與可開關(guān)晶胞的發(fā)射極區(qū)進(jìn)行歐姆接觸;以及
集電極金屬化件,其與可開關(guān)晶胞的集電極區(qū)進(jìn)行歐姆接觸;
其中,所述有效面積包括第一可開關(guān)區(qū)和不同于第一可開關(guān)區(qū)的第二可開關(guān)區(qū),第一和第二可開關(guān)區(qū)中的每一個(gè)包括可開關(guān)區(qū)中的一個(gè)或多個(gè)的至少一部分;
其中,第一可開關(guān)區(qū)具有在定義器件閾值的5V至10V范圍內(nèi)的第一閾值,在所述器件閾值下,功率器件變得導(dǎo)電以便在發(fā)射極金屬化件與集電極金屬化件之間連續(xù)地傳導(dǎo)功率器件的額定電流;以及
其中,第二可開關(guān)區(qū)具有在定義功率器件的浪涌閾值的15V至25V范圍內(nèi)的第二閾值,在該浪涌閾值下,功率器件變得可操作用于在發(fā)射極金屬化件與集電極金屬化件之間傳導(dǎo)浪涌電流,其中,功率器件的浪涌電流為功率器件的額定電流的至少五倍大。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率器件,其中,布置在第二可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的傳輸特性的斜率高于布置在第一可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的傳輸特性的斜率。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的功率器件,其中,所述第一可開關(guān)區(qū)包括半導(dǎo)體基底的第一表面面積,所述第二可開關(guān)區(qū)包括半導(dǎo)體基底的第二表面面積,第二表面面積等于或大于第一表面面積。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至2中的任一項(xiàng)所述的功率器件,還包括邊緣終結(jié)點(diǎn),其中,當(dāng)在到半導(dǎo)體基底的主表面上的平面投影中看時(shí),被第二可開關(guān)區(qū)域覆蓋的面積與被第一可開關(guān)區(qū)域覆蓋的面積的面積比在邊緣終結(jié)點(diǎn)附近的有效面積的外區(qū)中比在有效面積的內(nèi)區(qū)中高,該內(nèi)區(qū)被與邊緣終結(jié)點(diǎn)間隔開布置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至2中的任一項(xiàng)所述的功率器件,還包括與可開關(guān)晶胞的柵極電極結(jié)構(gòu)進(jìn)行歐姆接觸的柵極總線結(jié)構(gòu),其中,被第二可開關(guān)區(qū)覆蓋的面積與被第一可開關(guān)區(qū)覆蓋的面積的面積比在柵極總線結(jié)構(gòu)附近的區(qū)域中比在有效面積的中心區(qū)域中高。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至2中的任一項(xiàng)所述的功率器件,其中,每個(gè)主體區(qū)包括具有高于主體區(qū)的摻雜濃度的主體接觸區(qū),其中,布置在第一可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的主體接觸區(qū)的各部分具有與布置在第二可開關(guān)區(qū)的可開關(guān)晶胞的主體接觸區(qū)的各部分的摻雜濃度不同的摻雜濃度。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的功率器件,其中,布置在第二可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的主體接觸區(qū)的各部分具有比布置在第一可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的主體接觸區(qū)的各部分的摻雜濃度高的摻雜濃度。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至2中的任一項(xiàng)所述的功率器件,其中,每個(gè)主體區(qū)包括緊挨著可開關(guān)晶胞的柵極電極結(jié)構(gòu)的溝道區(qū),其中,布置在第一可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的溝道區(qū)的各部分具有與布置在第二可開關(guān)區(qū)的可開關(guān)晶胞的溝道區(qū)的各部分的摻雜濃度不同的摻雜濃度。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的功率器件,其中,布置在第二可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的溝道區(qū)的各部分具有比布置在第一可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的溝道區(qū)的各部分的摻雜濃度高的摻雜濃度。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至2中的任一項(xiàng)所述的功率器件,其中,每個(gè)可開關(guān)晶胞包括柵極電極與該可開關(guān)晶胞的主體區(qū)之間的柵極絕緣層,其中,布置在第二可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的柵極絕緣層具有比布置在第一可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的柵極絕緣層的厚度更高的厚度。
11.根據(jù)權(quán)利要求1至2中的任一項(xiàng)所述的功率器件,其中,每個(gè)可開關(guān)晶胞包括柵極電極與該可開關(guān)晶胞的主體區(qū)之間的柵極絕緣層,其中,布置在第一可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的柵極絕緣層具有與布置在第二可開關(guān)區(qū)中的可開關(guān)晶胞的柵極絕緣層的介電常數(shù)不同的介電常數(shù)。
12.根據(jù)權(quán)利要求1至2中的任一項(xiàng)所述的功率器件,其中,所述可開關(guān)晶胞每個(gè)包括具有浮置柵極的柵極電極結(jié)構(gòu)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





