[發(fā)明專利]一種OVMI印品光學性能測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510973645.8 | 申請日: | 2015-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN105608696B | 公開(公告)日: | 2018-09-14 |
| 發(fā)明(設計)人: | 王勤;劉義龍;周樹榮;彭勇劍;高瑞;丁山;殷?,| | 申請(專利權(quán))人: | 南昌印鈔有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 何世磊 |
| 地址: | 330000 江*** | 國省代碼: | 江西;36 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ovmi 光學 性能 測試 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種OVMI印品光學性能測試方法,獲得設定觀察角度下的亮條紋寬度、位置、明暗對比度、亮條紋積分亮度;以及任選兩個不同觀察角度下亮條紋的滾動距離,亮條紋的顏色變化;方法如下:對各種儀器進行初始校零,其包括樣品臺與入射光垂直;樣品臺的高度調(diào)節(jié),內(nèi)臂零位調(diào)節(jié);進行模式選擇;開始對樣品進行測量,包括暗背景測量,光源測量,樣品距離測量,樣品測量,對數(shù)據(jù)進行分析和保存。本發(fā)明的優(yōu)點和效果:本技術(shù)能對人眼觀察到的諸如亮條紋寬度、亮度、銳度進行定量描述,特別能對OVMI印品亮條紋的滾動防偽效果進行定量描述,從而可以對OVMI印品的光學防偽效果做出定量評估。有利于實現(xiàn)OVMI精品印刷,填補了OVMI印品光學性能測試的檢測空白。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種印鈔印品的光譜檢測,具體為一種OVMI印品光學性能測試方法。
背景技術(shù)
OVMI磁性光變油墨現(xiàn)已廣泛應用于有價證劵,它的光學防偽性能的實現(xiàn)主要依靠油墨中的磁性光變顏料,在實際印刷中往往將這種磁性光變顏料配制成UV型油墨,印刷墨膜中的顏料經(jīng)特定的磁化裝置定磁并經(jīng)UV固化后,其印刷圖文隨觀察角度變化,不但能發(fā)生顏色變化,還會因不同的磁化裝置顯現(xiàn)出如條狀、同心圓狀、放射狀等圖紋的立體滾動效果。已發(fā)行的生肖紀念鈔上,正面“10”元面額數(shù)字采用了OVMI磁性光變油墨印刷,隨觀察角度的變化,“10”面額數(shù)字上有一明顯的光亮滾動條,且同時發(fā)生顏色的變化。目前,OVMI印品光學性能的評判靠人肉眼識別,人眼觀測OVMI印品時,隨著光源(單個或多個,強或弱)的不同;觀測角度的不同,印品呈現(xiàn)出不同的光學特征(顏色變化、光條位置及亮度等),因而難以對印品的光學防偽效果做出客觀評估。通過適宜光學儀器和檢測方法對OVMI印品的光學信息進行采集,數(shù)據(jù)分析,可以對印品的光學防偽效果做出定量評估。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種OVMI印品光學性能測試方法,能夠針對OVMI印品不同位置進行變角度光譜檢測,并對獲得的印品不同位置不同角度上的光譜信息進行直觀分析,從而對印品光學防偽性能進行定量分析判斷的測試方法。
本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:一種OVMI印品光學性能測試方法,針對目前OVMI常見的隨觀察角度變化發(fā)生的條狀光條滾動防偽效果,擬采取以下測試方案測試,最終獲得設定觀察角度下的亮條紋寬度、位置、銳度、亮條紋積分亮度;以及任選兩個不同觀察角度下亮條紋的滾動距離,亮條紋的顏色變化;其特征在于方法步驟如下:
(1)對各種儀器進行初始校零,其包括樣品臺與入射光垂直;樣品臺的高度調(diào)節(jié),內(nèi)臂零位調(diào)節(jié);
(2)進行模式選擇,包括固定模式和自由散射模式;固定模式為軟件自帶模式,固定設定好的,自由散射模式為測量模式,測試者根據(jù)自行規(guī)定設置的;
(3)開始對樣品進行測量,包括暗背景測量,光源測量,樣品距離測量,樣品測量;
(4)對數(shù)據(jù)進行分析和保存。
本發(fā)明在測試過程中,其一,當入射光角度以及觀察角度固定時,在OVMI印品上可以看到一條固定的亮條紋,當入射角度既定且觀察角度不變時,條紋在OVMI印品上的信息不變;其二,通過樣品臺的平移,檢測儀器實現(xiàn)對OVMI油墨的上各點的逐一測量,平臺移動時,測量光斑在OVMI油墨上的位置發(fā)生變化,但是觀察端相對于光斑并沒有發(fā)生角度或者位置的改變,即在觀察過程中,觀察角度不變,測量過程中的條紋信息是不變的,不會因為樣品臺的移動,而導致亮條紋的變寬或變窄;其三,只有當且僅當入射光角度或觀察角度發(fā)生變化時,OVMI印品上的亮條紋將發(fā)生位置變化、寬度變化以及顏色變化。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南昌印鈔有限公司,未經(jīng)南昌印鈔有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510973645.8/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





