[發明專利]儲層假縫識別和物性校正方法

在審

• 申請號: 201510970047.5
• 申請日: 2015-12-21
• 公開（公告）號: CN105628580A
• 公開（公告）日: 2016-06-01
• 發明（設計）人: 遠光輝;操應長;王孝明;邱隆偉;王越磊
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（華東）
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 青島聯信知識產權代理事務所 37227
• 代理人: 徐艷艷;高洋

1.一種儲層假縫識別和物性校正方法，其特征在于：含有以下步驟：

收集研究區高壓壓汞測試資料，根據高壓壓汞資料建立壓汞三維顯孔隙度與儲層滲透 率K的函數關系；

根據與高壓壓汞測試資料相配套的鑄體薄片資料，通過圖像分析方法，定量統計鑄體薄片 中二維顯孔隙度擬合壓汞三維顯孔隙度和鑄體薄片二維顯孔隙度關系；

據儲層微觀特征，確定鑄體薄片中真裂縫與假裂縫的特征和識別標志，利用圖像分析方法， 定量統計假裂縫在鑄體薄片中的二維孔隙度根據壓汞三維顯孔隙度和鑄體薄片 二維顯孔隙度關系，定量求取假裂縫在巖石中的三維孔隙度

利用高壓壓汞測試資料的儲層三維總孔隙度φ_總減去假裂縫在巖石中的三維孔隙度獲得巖石的三維真實孔隙度φ_真；

利用壓汞的三維顯孔隙度減去假裂縫在巖石中的三維孔隙度獲得巖石的三維真 實顯孔隙度φ_顯真；根據巖石的三維真實顯孔隙度φ_顯真以及三維顯孔隙度與儲層滲透率 K的函數關系，求取巖石的真實滲透率K_真。

2.如權利要求1所述的儲層假縫識別和物性校正方法，其特征在于：根據高壓壓汞資料建立 壓汞三維顯孔隙度與儲層滲透率K函數關系的步驟為：根據高壓壓汞資料特征和不 同尺度孔隙對滲透率的貢獻，確定顯孔隙與微孔隙的臨界點，根據臨界點計算壓汞測試的 巖石樣品的三維顯孔隙度和三維微孔隙度擬合壓汞三維顯孔隙度與儲層滲 透率K的函數關系。

3.如權利要求2所述的儲層假縫識別和物性校正方法，其特征在于：根據高壓壓汞資料特征 和不同尺度孔隙對滲透率的貢獻，確定對滲透率貢獻不小于90％、且尺寸不小于0.25μm 的最小節點孔吼半徑為顯孔隙與微孔隙的臨界點。

4.如權利要求1或2任意一項所述的儲層假縫識別和物性校正方法，其特征在于：壓汞三維 顯孔隙度與儲層滲透率K的函數關系為：其中，A、B均為常數。

5.如權利要求1所述的儲層假縫識別和物性校正方法，其特征在于：壓汞三維顯孔隙度和鑄體薄片二維顯孔隙度的關系為：其中，C、D均為常數。